顕微鏡 - メーカー・企業33社の製品一覧とランキング

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顕微鏡のメーカー・企業ランキング

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  1. サンコー株式会社 東京都/その他 法人営業部
  2. 日本カンタム・デザイン株式会社 東京都/官公庁
  3. ブルカージャパン株式会社 神奈川県/その他 オプティクス事業部
  4. 株式会社アイテス 滋賀県/その他
  5. 5 エフティーエス株式会社 東京都/商社・卸売り
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顕微鏡の製品ランキング

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  1. デジタル顕微鏡『Dino-Lite 高倍率シリーズ』※デモ機あり サンコー株式会社 法人営業部
  2. FT-IRおよびQCL顕微鏡『HYPERION IIシリーズ』 ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
  3. デジタル顕微鏡『Dino-Lite モニター用』※デモ機あり サンコー株式会社 法人営業部
  4. 超解像STED顕微鏡 STEDYCON 日本カンタム・デザイン株式会社
  5. 4 デジタル顕微鏡『Dino-Lite WiFi対応』※デモ機あり サンコー株式会社 法人営業部

顕微鏡の製品一覧

1～15 件を表示 ／ 全 91 件

表示件数
ハンディーデジタル顕微鏡／ 品番　M1375RMS-16BK

ハンディーデジタル顕微鏡／ 品番　M1375RMS-16BK

液晶の角度が自由に変更でき、片手で操作可能なデジタル顕微鏡

●光学倍率最大300倍まで拡大できるモニタ付きの顕微鏡です。 ●光学ズームは20倍～300倍、デジタルズームは最大4倍まで変更できます。 ●3インチ大型液晶モニタを内蔵しています。 ●専用スタンド付きで、カメラ本体を固定して使用できます。 ●液晶画面が回転でき、見やすい向きに変更できます。 ●8つのLEDを内蔵し、被写体を明るく撮影できます。 ●ビデオケーブルを接続すれば、映像をモニタ出力することができます。 ●リチウムイオン電池で繰り返し充電できるので経済的です。 ＜注意事項＞ ※製品本体のモニタに表示した時の倍率は、最小倍率約7倍、最大倍率約29倍です。 ※本製品で5Mの解像度で画像を撮影し、解像度1920×1080ピクセルに設定した24インチモニタで表示した場合、約380倍になります。 ※撮影には、別売りのmicroSD（HC）カード（32GBまで）が必要です。 ※被写体にレンズ部をぴったりつけている場合、高倍率と低倍率の2箇所でピントが合います。 ※光学ズームの倍率は画面上では表示されません。 ※任意の倍率で対象物を見ることはできません。

  • その他計測器

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デジタル顕微鏡(HDMI高画質出力付)／M1375MP-17BK

デジタル顕微鏡(HDMI高画質出力付)／M1375MP-17BK

HDMIの高画質出力が可能なデジタル顕微鏡。フルHDで動画撮影も可能。

HDMIの高画質出力が可能なデジタル顕微鏡。フルHDで動画撮影も可能。 ■高画質で撮影・出力できるデジタル顕微鏡 ■ピント合わせ撮影がラクラク 据え置き型デザイン デスクに置いて使う据え付け置き型なので、ピント合わせ・撮影の際にカメラがぐらつきません。 安定した観察ができます。

  • その他計測器

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コンパクトAFM『NaioAFM』※デモ受付中

コンパクトAFM『NaioAFM』※デモ受付中

表面形状の測定を短時間・簡潔に！防塵・防風用シールド、防振機構が標準搭載

『NaioAFM』は、表面形状の測定に必要な要素技術を標準搭載しつつ、 装置のセットアップやカンチレバー交換が簡単に行えるなど、 機能性と操作性を両立したコンパクトタイプの原子間力顕微鏡です。 スキャン前に必要な再チューニングやサンプルへのアプローチ、 サンプル平面の傾斜補正はソフトウェアが自動的に行うため、 サンプルにカンチレバーを近づければ、スキャンが開始されます。 【特長】 ■コントローラ、XYステージ・防風シールド・防振機構が一体化 ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載・場所決め用サイドビュー観察 ■ニーズに応じて測定モードの追加が可能 ■お客様先に装置を持参してのデモも受付中 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。 　デモをご希望の方はお問い合わせフォームよりお申込み下さい。

  • その他

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『損傷解析』設備トラブル約3000件の解析実績！

『損傷解析』設備トラブル約3000件の解析実績！

設備で発生したトラブルの真の原因を究明することで、効果的な対策立案が可能となります！

設備トラブルで損傷した部位を詳細に解析することで、発生したトラブルの真の原因を究明し、対策を提案して再発防止や改善に役立てていただけます。東レグループでの４０年以上の経験と専門知識をベースに電子顕微鏡や成分分析装置など各種ツールを駆使してお客様の疑問にお答えします。 【解析装置例】 ■走査型電子顕微鏡（SEM） ■エネルギー分散型X線分析装置（EDS） ■硬度計 ■各種光学顕微鏡　等

  • その他
  • 構造物調査

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原子間力顕微鏡『ハンディAFM』

原子間力顕微鏡『ハンディAFM』

圧倒的な分解能を実現！今まで隠れていた微少な現象を測定

『ハンディAFM』は、SEMや高倍率の3次元光学顕微鏡の変わりに使用 することができる原子間力顕微鏡です。 サイズは、奥行き幅共に15cmの超小型。 走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの2種類が選択でき、交換も瞬時に 行えます。 【特長】 ■プローブの交換が数秒で実施可能 ■カーボンナノチューブプローブもオートアプローチが可能 ■オプションで小型の自動ステージやインライン全自動機に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測器
  • 非破壊検査
  • その他分析機器

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赤外線顕微鏡『IR-1300RL』

赤外線顕微鏡『IR-1300RL』

各種シリコンデバイスの界面の各部寸法を鮮明な画像で計測する赤外線反射顕微鏡システム

『IR1300RL』は、顕微鏡本体にオリンパス製BX53を使用した 赤外線顕微鏡です。 高解像度赤外線CMOSカメラとイメージエンハンサソフトにより、 各種シリコンデバイスの界面の各部寸法を鮮明な画像で計測できます。 また、独自のイメージエンハンサソフトにより、張り合わせウエハーの アライメントマークずれ計測が可能です。 【特長】 ■各種シリコンデバイスの界面の各部寸法を鮮明な画像で計測 ■顕微鏡本体にBX53オリンパス製を使用 ■X軸、Y軸、Z軸は手動動作タイプ ■アライメントマークずれ計測が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他

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MADE IN JAPAN！ 光学関連機器・部品『総合カタログ』

MADE IN JAPAN！ 光学関連機器・部品『総合カタログ』

アリ溝式ステージ、メジャースコープ、画像認識用レンズ、エアーピットなど緻密で繊細な手作業によって作り込まれた製品を紹介！

ミラック光学が製造する精密機器・光学機器は、すべて MADE IN JAPAN です。 日本のお家芸とも言える緻密で繊細な手作業によって作り込まれた製品は、品質・精度・耐久性において自信を持ってお客様へお薦めできるものばかりです。 『光学関連機器・部品　総合カタログ』では、さまざまな位置決めに対応した他にはないバリエーションと、なめらかな摺動の「アリ溝式ステージ」、さまざまな工業関係の生産・加工・検査工程に必要不可欠な顕微鏡「メジャースコープ」、高品質で低価格を追求、レンズ機能を高める周辺機器も充実している「画像認識用レンズ」、吸着・搬送、製品への傷・汚れ・指紋・手油の付着、心配無用「エアーピット」など、多数掲載しています。 【掲載内容】 ■アリ溝式ステージ ■メジャースコープ ■画像認識用レンズ ■エアーピット ※詳しくはPDFダウンロード、もしくはお問い合わせください。

  • その他分析機器

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アリ溝式ＸＹステージなど総合カタログ＆検査装置の改善事例

アリ溝式ＸＹステージなど総合カタログ＆検査装置の改善事例

ステージ・顕微鏡の総合カタログ＆検査装置の改善事例をセットでプレゼント！

アリ溝式ステージや測定工具顕微鏡、画像認識用レンズなどを製造する 光学機器メーカー・ミラック光学から、“総合カタログ”と “検査装置の改善事例をまとめた技術資料”をセットで無料進呈！ アリ溝式ステージはしっとりと滑らかな摺動と高耐久性が特長で、 FA分野における位置決め部品や、治工具などの機械要素部品として幅広く活躍中。 改善事例では、小型化したアリ溝式ステージで検査装置の 小型化・XY可動化に成功したケースを紹介しています。 【掲載内容】 ■アリ溝式ステージ ■測定工具顕微鏡　メジャースコープ ■画像認識用レンズ ■真空ピンセット　エアービット ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。 ※総合カタログはダイジェスト版になります。 　完全版をご希望の方はお問い合わせからご請求ください

  • その他分析機器

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【受託分析】レーザー顕微鏡（高精度3D測定＆カラー観察）

【受託分析】レーザー顕微鏡（高精度3D測定＆カラー観察）

試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です！

当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。 レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定ができ、透明体の膜厚形状や 透明体越しの表面形状測定が可能です。 【特長】 ■試料表面の凹凸形状の3D測定が可能 ■透明体の膜厚形状や透明体越しの表面形状測定が可能 ■408nmレーザーを用いて観察、計測 ■測定結果は国家基準につながるトレーザビリティ体系に基づく ■測定機器として非破壊測定に活用できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他分析機器
  • 分析・予測システム

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【受託分析】レーザー顕微鏡（観察＆測定）

【受託分析】レーザー顕微鏡（観察＆測定）

広範囲での観察、計測も可能！レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 平面計測、幅測定、高さ測定、膜厚測定等の各種、測定ができ、対象の サイズや求める精度により、適した対物レンズを選択し、観察や測定を実施。 範囲はレンズに応じて異なりますが、連結機能を有しているため、広範囲での 観察、計測も可能です。 【特長】 ■平面計測、幅測定、高さ測定、膜厚測定等の各種、測定ができる ■対象のサイズや求める精度により、適した対物レンズを選択 ■連結機能を有しているため、広範囲での観察、計測も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他分析機器
  • 分析・予測システム

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LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察

LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察

SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに配線構造、結晶構造解析まで一貫対応が可能です！

当社では、LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察を 行っております。 FIBを用いた特定箇所の断面作製、LV-SEM/EBICによる拡散層の 形状観察、さらにTEMによる配線構造、結晶構造までのスルー解析が SiCパワーデバイスでも対応できます。 「LV-SEM拡散層観察」では、PN接合の内蔵電位に影響を受けた 二次電子（SE2）をInlens検出器で検出。 FIB断面でのSEM観察で拡散層の形状が可視化できます。 【EBICを用いた解析手法】 ■PEM/OBIRCH 不良箇所特定 ■FIB断面加工 ■低加速SEM ■EBIC解析 ■TEM ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察

卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察

微細なクラックが見やすい！導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ます

『卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察』についてご紹介です。 製品の信頼性評価において、クラックの断面観察は欠かせません。 光学顕微鏡観察では見落とす可能性がある微小なクラックもSEM観察では 明確に確認することが可能です。 しかも卓上SEMなら、導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ます。 【特長】 ■蒸着不要 ■簡易的に結晶粒が見える ■微細なクラックが見えやすい ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他

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【資料】卓上型SEM(電子顕微鏡)によるネオジム磁石の断面観察

【資料】卓上型SEM(電子顕微鏡)によるネオジム磁石の断面観察

明視野モードと通常/標準モードの断面観察などを掲載しています！

当資料では、卓上型SEM(電子顕微鏡)によるネオジム磁石の断面観察に ついてご紹介しています。 ネオジム磁石など磁性を帯びた試料は、着磁状態でSEM観察はできませんが、 脱磁処理を施すことで、SEM観察や元素分析を行うことが出来ます。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■ネオジム磁石の脱磁とSEMによる断面観察(日立ハイテク社製TM3030Plus) ・脱磁処理(磁石は、着磁状態でのSEM観察が不可能なため、脱磁を実施) ・断面観察 ・EDXによる元素分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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FE-SEM観察（Alワイヤボンディング部結晶粒観察）

FE-SEM観察（Alワイヤボンディング部結晶粒観察）

⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像！表⾯情報に敏感なインレンズSE検出器を装備

ZEISS製の「FE-SEM ULTRA55」は、GEMINIカラムを搭載しており、 極低加速電圧で高分解能観察が可能な装置です。 検出器も複数搭載されており、さまざまなサンプルの観察が可能。 2種類の反射電⼦検出器による組成情報の把握ができ、低加速電圧でも ⾼分解能なEDX分析ができます。 【特長】 ■⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像 ■極低加速電圧による極表⾯分析 ■表⾯情報に敏感なインレンズSE検出器を装備 ■2種類の反射電⼦検出器による組成情報の把握 ■低加速電圧でも⾼分解能なEDX分析 ■無蒸着による観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析・予測システム

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塗膜の観察

塗膜の観察

平面傾斜切削も可能な“ミクロトーム”など！様々な製品で使用されている塗膜の観察、分析例をご紹介

自動車、携帯電話等、様々な製品で使用されている塗膜の観察、分析例を ご紹介します。 「トリプルイオンポリッシャー(CP)」は、硬・軟材料の共存する試料であっても、 ダメージのない加工ができ、「ミクロトーム」は、断面作製のみならず、 平面傾斜切削も可能。 この他、「卓上斜め切削機」は、表面情報として元の厚みの6～300倍の サンプル面を取り出すことが可能で、「卓上型SEM(電子顕微鏡)」は、低真空下 での観察が可能なモード(帯電軽減)があり、揮発成分が出る試料の観察や 元素分析ができます。 【プラスチック皮膜(携帯電話のケース)の観察】 ■トリプルイオンポリッシャー(CP) ■ミクロトーム ■卓上斜め切削機 ■卓上型SEM(電子顕微鏡) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他分析機器

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