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設備で発生したトラブルの真の原因を究明することで、効果的な対策立案が可能となります！
設備トラブルで損傷した部位を詳細に解析することで、発生したトラブルの真の原因を究明し、対策を提案して再発防止や改善に役立てていただけます。東レグループでの４０年以上の経験と専門知識をベースに電子顕微鏡や成分分析装置など各種ツールを駆使してお客様の疑問にお答えします。 【解析装置例】 ■走査型電子顕微鏡（SEM） ■エネルギー分散型X線分析装置（EDS） ■硬度計 ■各種光学顕微鏡 等
SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに配線構造、結晶構造解析まで一貫対応が可能です！
当社では、LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察を 行っております。 FIBを用いた特定箇所の断面作製、LV-SEM/EBICによる拡散層の 形状観察、さらにTEMによる配線構造、結晶構造までのスルー解析が SiCパワーデバイスでも対応できます。 「LV-SEM拡散層観察」では、PN接合の内蔵電位に影響を受けた 二次電子（SE2）をInlens検出器で検出。 FIB断面でのSEM観察で拡散層の形状が可視化できます。 【EBICを用いた解析手法】 ■PEM/OBIRCH 不良箇所特定 ■FIB断面加工 ■低加速SEM ■EBIC解析 ■TEM ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
微細なクラックが見やすい！導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ます
『卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察』についてご紹介です。 製品の信頼性評価において、クラックの断面観察は欠かせません。 光学顕微鏡観察では見落とす可能性がある微小なクラックもSEM観察では 明確に確認することが可能です。 しかも卓上SEMなら、導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ます。 【特長】 ■蒸着不要 ■簡易的に結晶粒が見える ■微細なクラックが見えやすい ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
明視野モードと通常/標準モードの断面観察などを掲載しています！
当資料では、卓上型SEM(電子顕微鏡)によるネオジム磁石の断面観察に ついてご紹介しています。 ネオジム磁石など磁性を帯びた試料は、着磁状態でSEM観察はできませんが、 脱磁処理を施すことで、SEM観察や元素分析を行うことが出来ます。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■ネオジム磁石の脱磁とSEMによる断面観察(日立ハイテク社製TM3030Plus) ・脱磁処理(磁石は、着磁状態でのSEM観察が不可能なため、脱磁を実施) ・断面観察 ・EDXによる元素分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像！表⾯情報に敏感なインレンズSE検出器を装備
ZEISS製の「FE-SEM ULTRA55」は、GEMINIカラムを搭載しており、 極低加速電圧で高分解能観察が可能な装置です。 検出器も複数搭載されており、さまざまなサンプルの観察が可能。 2種類の反射電⼦検出器による組成情報の把握ができ、低加速電圧でも ⾼分解能なEDX分析ができます。 【特長】 ■⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像 ■極低加速電圧による極表⾯分析 ■表⾯情報に敏感なインレンズSE検出器を装備 ■2種類の反射電⼦検出器による組成情報の把握 ■低加速電圧でも⾼分解能なEDX分析 ■無蒸着による観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
平面傾斜切削も可能な“ミクロトーム”など！様々な製品で使用されている塗膜の観察、分析例をご紹介
自動車、携帯電話等、様々な製品で使用されている塗膜の観察、分析例を ご紹介します。 「トリプルイオンポリッシャー(CP)」は、硬・軟材料の共存する試料であっても、 ダメージのない加工ができ、「ミクロトーム」は、断面作製のみならず、 平面傾斜切削も可能。 この他、「卓上斜め切削機」は、表面情報として元の厚みの6～300倍の サンプル面を取り出すことが可能で、「卓上型SEM(電子顕微鏡)」は、低真空下 での観察が可能なモード(帯電軽減)があり、揮発成分が出る試料の観察や 元素分析ができます。 【プラスチック皮膜(携帯電話のケース)の観察】 ■トリプルイオンポリッシャー(CP) ■ミクロトーム ■卓上斜め切削機 ■卓上型SEM(電子顕微鏡) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
導通不良を起こした接点表面を電子顕微鏡観察することで調査した事例をご紹介！
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 本資料では、導通不良を起こした接点表面を非接触、 非破壊の状態で40～250倍の電子顕微鏡観察を行い、 接点表面の付着物の観察を行った事例を掲載しています。 付着物の蛍光X線分析による元素の定性、顕微赤外分光分析による 化合物の定性により接点付着物の特定を行うことで、特定した付着物から 接点への付着メカニズムが解明でき、導通不良原因を調査できます。 【掲載内容】 ■概要 ■特長 ■分析事例 ・電子顕微鏡観察 ・蛍光X線分析、顕微赤外分光分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
真空蒸着などのコーティング処理を必要としない低真空SEMの観察・評価分析のご紹介！
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 低真空SENでは、試料の前処理として真空蒸着などの コーティング処理(前処理)を必要としません。 絶縁体や半導体、食品などの試料でもコーティング処理なく 低真空SEM観察後は、そのまま他の分析に供することが可能です。 【掲載内容】 ■概要 ■分析事例 ・接着界面の観察・評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
応用範囲が広い光学顕微鏡観察からSEM観察、EDX元素分析までの流れをご紹介！
解析手法の基本的で応用範囲が広い光学顕微鏡観察からSEM観察、 EDX元素分析までの流れをご紹介致します。 光学顕微鏡による観察は基本的な観察手法の一つであり、大まかな 形状観察等を素早く行えます。また、特長は色情報が得られる事で、 腐食等の変食を伴う異常の観察に活躍。 当資料では、この他にも「SEMによる観察」や「EDXによる元素分析」を 写真やグラフを用いて詳しく解説しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■光学顕微鏡による観察 ■SEMによる観察 ■EDXによる元素分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ソーラーパネルの断面構成を切削・研磨の前処理のみで解析した事例をご紹介！
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 本資料では、有機無機複合物からなる絶縁体のソーラーパネルの断面構成を 切削・研磨の前処理のみで低真空SEMおよびFT-IRを用いて解析した事例を掲載。 低真空SENでは、試料の前処理として真空蒸着などの コーティング処理(前処理)を必要としません。 絶縁体や半導体、食品などの試料でもコーティング処理なく 低真空SEM観察後は、そのまま他の分析に供することが可能です。 【掲載内容】 ■概要 ■分析事例 ・ソーラーパネル(絶縁体)の解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Na、Mg、Liなど。自動車・電子機器・機械部品分野における新素材・新製品の開発をサポート
当社では、『個々のニーズに応じた分析サービス』を提供。中でも、リチウム、ナトリウム、カリウム等、空気中の水分や酸素に触れると表面の状態が変化する物質を、活性な状態のままで分析を可能とする『空気非接触環境での分析サービス』でお役に立てます。 自動車・電子機器・化学・機械部品の研究・開発における 新素材・新製品の開発／隠れた性質の発見／基礎データの確認といったニーズにお応えしています。 ◎要望例 ・製造過程で溶け込んだ油分の熱分解の挙動が、水素、窒素など任意の雰囲気で違いが現れるかを知りたい ・合金等が、水素、窒素などの雰囲気ガスと反応するか、また、その反応する温度等を知りたい ・雰囲気を変えたらどうデータが変わるのかを知りたい ◎取扱品目 走査電子顕微鏡(SEM) 熱重量・示差熱・昇温脱離質量数分析(TG-DTA-MS) 粉末X線回折(XRD) 圧力－組成等温線(PCT)測定 高圧示差走査熱量分析(DSC) フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR) ※空気非接触環境での分析サンプルはPDFダウンロードよりご覧いただけます。 お問合せ・分析のご依頼もお気軽にどうぞ。
TEM・STEMの分解能が向上！4本の検出器でEDS分析が可能になるなど性能が大幅に強化
当社では、透過型電子顕微鏡システム FEI製「Talos F200E」を導入します。 従来機と比べTEM・STEMの分解能が向上し、4本の検出器でEDS分析が可能に なるなど性能が大幅に強化されます。 また、ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算する、ドリフト補正 フレーム積算(DCFI)なども搭載しております。 【仕様(抜粋)】 ■加速電圧：200kV、80kV ■TEMインフォメーションリミット：≦0.11nm ■STEM分解能：≦0.14nm ■ドリフト補正フレーム積算(DCFI) ・ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
