SiC、GaNなど新素材に対応すべく、高耐圧、高速スイッチング用途の計測、治具開発を行います。
パワーデバイステスター『N50シリーズ』『N54シリーズ』は、 ディスクリート半導体や小規模なロジックデバイスに特化した製品です。 ニーズに応じてSiC、GaNデバイスにも対応できる計測や治具開発も行います。 【ラインアップ】 ＜『N50シリーズ』（200V耐圧仕様）＞ ■FPGAの搭載でテスター内部をフルロジックで同期でき、高速測定を実現 ■コンパクトなサイズでハンドラー内への組み込みが簡単 ■測定項目：静特性、熱抵抗、L負荷 ＜『N54シリーズ』（2000V耐圧仕様）＞ ■高耐圧＆低インピーダンス ■di/dt＝20kA/μSを実現 ■測定項目：静特性、熱抵抗、短絡耐量、スイッチング特性、RBSOA/RRSOA ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
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基本情報
当社では、開発評価用途等のカスタムニーズにも対応いたします。 ・di/dt耐量：MOSFETのボディーダイオードの逆回復動作の破壊試験 ・dv/dt耐量：MOSFETに寄生するNPNトランジスタが2次降伏を起こさないかの試験 ・サージ耐量（ダイオード）：非繰り返しピーク順電流“IFSM” ・ゲート電荷量：ゲート入力電荷量“QG” ・エージング試験 ・耐圧試験（高電圧リレー回路製作） ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
価格帯
納期
用途／実績例
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企業情報
『あなたのアイデアを実現します』を会社のキャッチフレーズとして、設立から約50年にわたり技術力を柱に事業を展開するエンジニアリングクラスター企業です。 機械・電気・電子・ソフトの設計、技術者派遣を始めとする技術提供だけでなく、そこから得たノウハウに新しいアイデアをプラスし、自動車・半導体・液晶関連装置やレーザーを応用した最先端検査・計測装置など様々な分野の製品開発も手掛けています。 また、光をベースにしたコア技術は高く評価され、産官学の交流でも独自性を発揮しています。 今後も更なる飛躍を目指し、新しい分野に積極的にチャレンジしていきたいと考えています。
