ディスクリート半導体のIOL試験

小型のディスクリート半導体を対象としたIOL試験やパワーサイクル試験に対応！

当社で行っている「ディスクリート半導体のIOL試験」について ご紹介いたします。 常温環境下にて通電ON/OFFを繰り返し行い、通電時のデバイス自身の発熱により 温度変化によるストレスをデバイスに加えます。 通電OFF時(冷却時)はファンによる強制冷却も行います。 【調整条件】 ■上昇温度：125℃ ■加熱時間：5分 ■冷却時間：5分 ■ファンの駆動時間：2分 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他サービス・技術

環境試験をはじめ、非破壊観察や電気特性測定などを行っております

アイテスでは、JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じた環境試験装置を使用し、 様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価受託試験を承ります。 電気試験をはじめ、非破壊観察やパワーサイクル試験 などがございます。 【環境試験】 ■高度寿命加速試験 ■恒温恒湿試験 ■冷熱衝撃試験 ■液槽冷熱衝撃試験 ■温湿度サイクル試験 ■In-Situ常時測定信頼性評価試験サービス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他分析機器

故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします！

株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■PN接合部に形成された空乏層を可視化 ■EDS、EELS分析といった元素分析も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他分析機器

パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託！故障解析・分析と合わせ品質向上に協力致します

株式会社アイテスでは、シーメンス製（メンター製）のパワーサイクル 試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。 試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。 また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。 パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができます。 【特長】 ■試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能 ■パワーデバイスの各種観察・測定にも対応 ■パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測器
• その他分析機器
• その他

In-Situ常時測定 信頼性評価試験サービス

In-Situ常時測定 信頼性評価試験では、特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。 ●正確な故障時間の把握が可能 　決まった時間にストレス環境より取り出して測定するリードアウト方式では、リードアウトのタイミングでしか故障の把握ができず、正確な故障発生時間を知ることはできません。 　In-Situ測定では、正確な故障時間の把握ができます。 ●回復性故障の検出が可能 　回復性故障は市場において重大な問題を引き起こすことがあります。 　リードアウト方式ではこれら回復性故障の検出がほとんどの場合不可能ですが、In-Situ測定では回復性故障の検出が可能であり、正確な判断/判定ができます。 ●試料へのストレス印加状態の監視が可能 　ストレス印加状況および測定データをリアルタイムで確認できます。

• 分析・予測システム
• その他分析機器

半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難をサポート

【試験・評価・分析・解析】 　●信頼性試験 　　■温度サイクル試験 　　■冷熱衝撃試験 　　■高温保存試験 　　■高度加速寿命試験 　　■プリコンディショニング 　　■ホットオイル試験 　　■In-situ常時測定 　　■イオンマイグレーション試験 　　■エレクトロマイグレーション試験 　　■テストコンサルティンング 　●評価試験 　　■接合強度試験：プル/ シェア試験 　　■機械的強度試験：振動・衝撃／落下試験／圧縮強度・ズレ強度 　　■ESD / Latch Up / CDM試験 　　■電気特性計測 　　■塩水噴霧試験 　●分析・解析 　　■X線透過観察 　　■超音波顕微鏡観察 　　■発光解析（EMS/IR-OBIRCH） 　　■走査型電子顕微鏡（SEM） 　　■透過型電子顕微鏡(TEM) 　　■表面汚染分析(TOF-SIMS） 　　■異物分析（FT-IR)

• その他分析機器

パワーデバイスをあらゆる角度から徹底評価、検証します

■解決する力 　知識と技術でかいけつに導くコンサルティング 　スピード対応でお客様スケジュールを支援 ■つきとめる力 　故障個所をピンポイントし可視化する技能 　深い洞察力と高度かつ繊細な試料加工技術 ■特化した設備 　最高180℃での液槽熱衝撃試験 　パワー半導体に必須のパワーサイクル試験

• 分析・予測システム
• その他分析機器

シンボルマークについて 社名の頭文字「S」と「D」を1本のラインで描き図案化しました。 1本のラインは一貫性を持ってUVと共に未来へ向かって行く様子を表現しました。 未来へ続いていく流動的をイメージした「S」の破線は、「三共」にちなんで3つ取り入れています。 Sの流れるような形状は、私たちが変化に柔軟に対応しながらも、持続可能な成長を追求する姿勢を表しています。 また、破線部分は、過去から未来へと繋がる継続性を象徴し、全体として「前進する企業」の力強さを表現しています。 カラーは、UVランプをイメージした紫と、信頼感を象徴する青を組み合わせることで企業イメージを表現しています。 紫は高い技術力や専門性を、青は信頼感や誠実さを示しています。 2色の組み合わせにより、革新と信頼が調和した企業イメージを打ち出し、ブランド全体にわたる一貫したビジュアルアイデンティティを確立しています。

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企業理念 一、良い製品をつくって社会に貢献しよう。 一、良い製品をつくって会社を発展させよう。 一、良い製品をつくって生活を向上させよう。 三共電気は、1947年の創業以来、光エネルギー技術を利用してさまざまな分野へUVランプをはじめとした製品やサービスを提供してまいりました。その裾野は国内のみならず国外まで広がり、今では世界各国の光エネルギー分野で高い評価と信頼をいただいております。 「多くの人々の『生活の質』を向上させたい。」 三共電気はこれからもその想いを社員全員で共有し、その想いの実現へ全力を尽くすことで、豊かな社会を作ることへの更なる貢献をしていきたいと考えています。

高度な技術と厳しい品質管理のもと製造されたUVランプは、高い耐久性と信頼性を誇ります。 幅広い分野で活躍するUVランプの製造工程をぜひご覧ください。

当社製品に関連する技術情報について関連リンク先に掲載しています。是非、ご覧ください。 ・紫外線の分類 ・紫外線の利用例 ・低圧水銀ランプ ・LED ・光