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株式会社アイテス

設立平成5年1月1日
資本金10000万
従業員数92名
住所滋賀県大津市栗林町1番60号
電話077-599-5015
  • 公式サイト
最終更新日:2022/10/19
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不良・物理解析 不良・物理解析
加工観察 加工観察
表面・化学分析 表面・化学分析
信頼性試験 信頼性試験
電気機器修理 電気機器修理
ウェハー加工 ウェハー加工
太陽光パネル検査・点検装置 太陽光パネル検査・点検装置
保有設備 保有設備
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はんだ耐熱性試験(SMD)

輸送時の温度ストレスを再現!加熱処理で剥離やクラックなどの有無を評価

当社では、表面実装部品(SMD)のはんだ実装工程における耐熱性を評価する、 『はんだ耐熱性試験(SMD)』を行っております。 実装までの吸湿を加湿処理で再現し、はんだ実装時の熱ストレスに相当する 加熱処理で剥離やクラック等の有無を評価。 試験後の検査として初期測定と同内容の検査を行い、必要であれば、 不良部の断面観察などの解析も実施します。 【はんだ耐熱性試験の流れ】 ■初期測定 ■温度サイクル(shipping condition) ■乾燥処理(Baking) ■加湿処理(Soaking) ■加熱処理(Reflow) ■最終測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 熱・乾燥処理・システム
  • 測定・検査

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海外製ディスプレイの不良解析

不良解析の実績多数!現象の確認から不良発生メカニズムの推測など、詳細な解析が可能

当社では、「海外製ディスプレイの不良解析」を行っております。 現象の確認から、不良発生メカニズムの推測、原因となった 生産工程の絞り込みなど、詳細な解析が可能です。 点灯観察、パネル解体、光学顕微鏡観察を不良症状に合わせて実施。 不具合箇所を絞り込み、詳細解析が必要な場合は適切な手法を提案させていただきます。 【詳細解析例(一部)】 ■配線の断面観察 ■異物分析 ■液晶成分分析 ■電気特性測定 ※別途費用が発生いたします ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他PC・OA機器

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液晶中の微量金属元素分析

パネルサイズにより、ICP-AES/MS装置を使い分けて分析する事が可能です!

信頼性試験前後のパネルを用いてICP測定を行い、定量化を行った事例を ご紹介します。 LCDの液晶分子はパネル内で配向しており、電圧により液晶の配向状態が 変わる事で表示が制御されます。金属元素のようなイオン性物質がパネル 内部に存在すると液晶が正しく駆動せず表示不良が発生。 イオン性物質は、製造時の混入や長期使用で増加することが知られており、 定量化して把握する事がパネル品質として重要です。 金属イオンは、ICP分析を用いることで定量分析を行うことが可能であり、 前処理方法や検出感度の違いにより、ICP-AES/MSを使い分けて行います。 【解析内容】 ■ICP-AES分析による金属元素含有量の比較 ■ICP-MS分析による金属元素含有量の比較 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他分析機器

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UV照射によるフィルム物性変化の解析

ブルーライトカットフィルムの光透過性がどのように変化するか、分光光度計を用いて検証!

ブルーライトカットフィルムは、通常のPETフィルムに比べ、可視光、 特に波長500nm以下の光の透過を抑える効果を有しております。 UV照射によって、ブルーライトカットフィルムの光透過性が どのように変化するか、分光光度計を用いて検証。 波長350~400nmの光の透過性が、UV照射によって、さらに低下しました。 また、フィルム内部で起こっている反応に関して、GC-MSを用いて分析を 行いました。 【解析内容】 ■通常PETフィルムとブルーライトカットフィルムの光透過特性 ■ブルーライトカットフィルムへのUV照射 ■フィルム内成分のGC-MS分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他分析機器

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パワーデバイスの逆バイアス試験(最大2000V)

不良基準(電流値)の設定が可能!高温及び高電圧通電によりデバイス劣化及び特性等を評価

株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験(HTRB)が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより、リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能。電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準(電流値)の設定が可能で不良判定デバイスの電源を 不良判定時に遮断することができます。 【特長】 ■試験中のリーク電流のモニタリングにより、リアルタイムで  デバイスの劣化状況が把握出来る ■電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが  故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼさない ■不良判定デバイスの電源を不良判定時に遮断することができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測器

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液晶パネルに実装されたICチップ表面観察

観察対象は液晶パネルにCOG実装方式で接続されたICチップ!回路面を明瞭に確認できました

精密平面研磨を応用してガラス基板配線や導電粒子を削り取り、ダメージの 少ない状態でICチップ回路を観察した事例を紹介いたします。 ガラス基板側から慎重に平面研磨を行い、ICチップの数μm手前までの 部材を削り落とし、回路面の観察を実施。ICチップ回路面は明瞭に確認でき、 高倍率の詳細観察も可能になりました。 当事例のように平面研磨で詳細観察が可能になったサンプルや、FIB加工や CP加工が可能になったサンプルが多数あります。お困りのサンプルが ありましたら、当社にご相談ください。平面研磨のみのご依頼、観察や 分析をセットにしたご依頼、いずれも承っております。 【概要】 <平面研磨と光学観察> ■ガラス基板側から慎重に平面研磨を行い、ICチップの数μm手前までの  部材を削り落とし、回路面の観察を実施 ■ICチップ回路面は明瞭に確認でき、高倍率の詳細観察も可能になった ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他サービス・技術

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有機溶剤中の不純物分析

温度、湿度、光の影響でアルドール反応が進行!エタノール・アセトン中の不純物分析例

高純度品の溶媒を不適切な環境下にて保管した場合に、溶媒から確認された 不純物を液打ちGC-MSにて分析した例をご紹介します。 冷暗所に遮光性試薬瓶で保管しているエタノールを、使用済みのプラスチック 製洗瓶に入れ室温環境下で約一か月間放置。結果、ホウ酸トリエチル及び アルキルベンゼン類などの不純物が検出されました。 また、冷暗所に遮光性試薬瓶で保管しているアセトンを、遮光性の無い透明な ガラス瓶に入れ室温環境下で約一か月放置した結果、ジアセトンアルコールが 不純物として検出されました。 【エタノール中の不純物分析】 ■冷暗所に遮光性試薬瓶で保管しているエタノールを、使用済みの  プラスチック製洗瓶に入れ室温環境下で約一か月間放置  (洗瓶の口は開いている為密閉はされていない) ■結果:ホウ酸トリエチル及びアルキルベンゼン類などの不純物が検出 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他分析機器
  • 計測・分析装置

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GC-MSによる香り成分の分析

GC-MSは低分子有機物質の定性定量分析に利用!線香と白檀にてデータを取得し比較!

香りをキーワードとして、身近な線香を分析し、その分子構造の特長を 他材料と比較考察しました。 樹木から採れる代表的な香木としては、白檀(びゃくだん)・沈香 (じんこう)・伽羅(きゃら)の3種があげられますが、今回は線香と 白檀にてデータを取得。 アルデヒド基と脂肪族環状構造を特長とし、ウッディーな香りは、 主に脂肪族環状構造が起因であると推測します。 【分析概要】 ■分析サンプル:線香、白檀 ■熱脱着GC-MS(180℃)による香り成分の同定 ・白檀と同じ検出時間のピークを確認 ・線香に白檀が香料として使用されていることを示す ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他分析機器
  • 計測・分析装置

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アルミ溶接部(スポット溶接)の断面硬度

溶接部の断面観察・硬度測定を実施!中央のボイドはブローホールであることが判明しました

断面観察を実施したアルミスポット溶接部について硬度測定を行い、 ビッカース硬度、ヤング率、弾力割合からどのような傾向があるのか 調査した例をご紹介いたします。 X線透視観察より、溶接部の内部にボイドを確認。断面観察から中央の ボイドはブローホールであることが判明しました。 また硬度測定の結果、ブローホール付近は硬いが剛性が低く変形しやすい 状態となっており、ブローホールから少し離れた箇所では剛性が高く、 若干脆い状態になっていることが分かりました。 【概要】 ■アルミスポット溶接部の観察事例 光学顕微鏡像、X線画像 ・X線透視観察より溶接部の内部にボイドを確認 ■アルミスポット溶接部 断面の硬度測定 ・ブローホールを中心に測定を実施 ・ビッカース硬度、ヤング率、弾力割合からどのような傾向があるのか調査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 測定・検査
  • その他

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真円度/円形度計測

真円度・円形度を評価したいというご要望にお応えします!

軸や成形した穴が設計値通りであるか、評価にお困りではありませんか? 当社では、KEYENCE社製の「VR-6200」の電動回転ユニットにサンプルを取り付け、 360度回転させることで3Dデータを取得し、プロファイルより真円度を測定。 また、画像処理ソフト「WinROOF2021」を用いて、円形度を測定します。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 <VR-6200を用いた真円度測定> ■電動回転ユニットにサンプルを取り付け、360度回転させる ■3Dデータを取得し、プロファイルより測定 <画像処理ソフトを用いた円形度測定> ■WinROOF2021を⽤いて、市販のプローブピンの円形度を求めたところ、  SEM像にて滑らかな円形ではないことが見て取れた ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測器

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金属・高分子・プラスチック等の『超微小硬度計による材料評価』

ヤング率・塑性硬さ・塑性変形量・弾性割合・クリープなど多くの物性の解析も可能!硬さなどのばらつきを標準偏差で表すことができます。

当社では、金属・高分子・プラスチック・セラミックス等、 様々な材料の超微小硬度測定が行えます。 また硬さを数値化できるため、材料の顔(特性)が見えてきます。 超微小硬度計「Fischer scope H100」は、設定荷重まで段階的に荷重を 増加させて測定をおこなうため、表層からの連続的な硬さや押し込み深さ、 材料への影響情報などがプロファイルとして得られます。 圧子を材料中に押し込む侵入深さと、 除荷後回復する荷重/侵入深さ曲線より硬さ値を求めるため、 硬度以外にヤング率・塑性硬さ・塑性変形量・弾性割合・クリープなどの 多くの物性を解析することが可能です。 材料の特性評価をお考えの際にはお気軽にお問い合わせください。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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太陽電池EL画像測定装置 PVX330

太陽電池の潜在欠陥を鮮明に写しだす業界実質標準、EL 画像 検査装置PVX330

2400万画素の高精細カメラ オートフォーカス 電源自動制御 大型モジュールの一括測定に対応 簡単しかも高性能な画像処理ソフト 従来機の1/3という低価格を実現 無料サンプル評価デモ受付中。

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太陽電池 PL イメージングユニット POPLI-3C

太陽電池6インチセル対応PL励起用光源。EL画像検査装置PVXシリーズと組み合わせることで、PL観察が可能になります。

無料サンプル評価デモ受付中。 POPLIは、EL画像検査装置PVXに、PLイメージングユニットをオプションとして加え、PVXの検出機能とソフトウェアを活用することにより、鮮明なPL撮像と経済性を実現した、先進的なPLイメージング装置です。

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EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-Octa

太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。

PVX1000+POPLI-Octaは、太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。熱拡散後のPN接合層や、AR層成膜のパッシベーション効果や表面汚染、更には裏面絶縁層の保護効果、Local-BSFの評価などが可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。モジュールに逆バイアスを印加しLEAK点を観測することによりPID発症している欠陥箇所を簡便に特定します。

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顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ

太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

PVX1000+POPLI-μは、太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。

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太陽光パネル保守・メンテナンスに ソラメンテ SC-200

CISアダプター SC-200は、ソラメンテ-iSのセンサー部を取り換えるだけでCIS薄膜パネルの高速点検が可能に。

CIS薄膜パネル点検で、PVケーブルを取り外してチェックする煩わしさが なくなりました。発電中にパネル表面から高速チェック、CIS点検の効率が飛躍的に向上します。 ソラメンテ-iS SI-200のセンサー部を取り換えるだけ ソラメンテCiSアダプター(オプション)SC-200は、すでに太陽光パネル点検現場で広く使用されているソラメンテ-iS(SI-200)に装着するだけで、CIS薄膜パネルの高速点検を可能にしています。発電電流をパネル表面から検知するiSのパネルチェッカー機能をそのままCIS用に活用することで、経済的にCISパネル点検ができるようになりました。PVケーブルを外すことなく、容易にCIS薄膜パネルの故障(バイパスダイオード短絡)を、短時間に効率よく特定することができます。

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太陽光パネル保守・メンテナンスに ソラメンテ SR-200

ソラメンテ SR-200で、連系前のパネル点検が可能に

竣工検査や停電点検などの送電前・送電停止時に故障パネルを発見するソラメンテの新機能。SZ-200とSI-200が連携する新点検方式。 点検方法 ソラメンテ-Z(SZ-200)とソラメンテ-iS(SI-200)を連携し、ストリング回路に沿ってパネル上をセンサー(SR-200)でチェックします。センサーの反応が途切れた場所に、故障パネルがあります。

  • 計測・分析装置
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太陽光パネル保守・メンテナンスに ソラメンテ SI-200

ソーラーパネルチェッカー SI-200は、発電中に故障パネルを簡単に発見できます。

ソーラーパネルチェッカー ソラメンテ-iS SI-200は、発電中のパネル表面にセンサーをあて、クラスタ故障*が発見できる点検装置です。インターコネクタに流れる発電電流をセンサーで感知し音階とLEDレベルで表示、発電していないクラスタを瞬時に判別します。 (*クラスタ故障は、初期不良、経年劣化、雷害などにより発生します) スイッチを押すだけで内蔵の照度センサーで自動感度調整。測定スピードは約5秒/パネルのハイスピード。スーパーロング延長棒(オプション)で3.6m先までのパネルにもとどきます。

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太陽光パネル保守・メンテナンスに ソラメンテ SZ-200

ストリングチェッカー SZ-200は、太陽光パネル故障をストリング単位で特定できます。

ストリングチェッカー ソラメンテ-Z SZ-200は、接続箱の各ストリングP/N端子をプローブし、故障パネルのあるストリングを検出する点検装置です。特殊な検出信号をストリング回路に印加し、開放電圧と直列抵抗(インピーダンス)を測定、異常のあるストリングを判別します。 SZ-200は、高速点検、日照変化に強い、高い操作性で、確実に結果を出す点検を実現し、点検作業の効率を飛躍的に向上させています。

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  • 太陽光発電

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ウエハー加工サービス

あらたな技術の誕生をサポートするアイテスウエハー加工サービス

アイテスのウェハービジネス部門では、多岐にわたるあらゆるテストウェハーのニーズに広く対応する、ウェハー加工プロフェッショナルサービスを提供しています。 アイテスでは主力の専用8インチ加工工程を擁し、12年以上にわたってウェハー加工分野でサービスを展開、2インチから12インチまで、各加工ご要求に、蓄積された技術ノウハウと、独自チャネルによる加工リソースを活用し幅広く対応しています。 リピーターが多いのもアイテスウェハーサービスの特徴、広く迅速にウェハー加工案件を支援することで、お客様から厚い信頼を得ています。

  • 加工技術
  • その他サービス・技術

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動的光散乱法による無機粒子の粒径測定

粒径、粒子径分布を求める!水媒体中のシリカ粒子、アルミナ粒子の粒径測定の例

動的光散乱法により、液中に分散したナノメートルレベルの粒子を分離する ことなく、粒子径・粒度分布を測定することが可能です。 水媒体中のシリカ粒子、アルミナ粒子の粒径測定の例を紹介します。 溶液中の粒子は粒子径に依存したブラウン運動をしており、粒子に光照射した ときに生じる散乱光のゆらぎは、粒子径に依存します。このゆらぎを観測、 解析することで、粒径、粒子径分布を求めることができます。 【アルミナ測定結果・考察】 ■アルミナは、強アルカリ条件から中性に近づくにつれ、等電点に近づく ■粒子表面の電荷が小さくなる ■粒子間の反発が小さくなる ■粒子の凝集が起こっていることが窺える ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他

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液晶ディスプレイ材料分析

材料と目的に応じた分析手法をご提案!液晶・封止材など部材毎の化学分析例をご紹介

液晶ディスプレイは、液晶の他、シール材や封止材、偏光板など、 様々な有機材料が使用されています。 それぞれの部材の材料特性や材料劣化メカニズムを化学的な視点から 考察する事は、製品評価や製品不良解析において重要となります。 本資料では、液晶ディスプレイの部材ごとの化学分析例をご紹介しています。 【化学分析例】 ■FT-IR:主成分分析 ■EDX:元素分析 ■GCMS: 液晶成分分析 ■HS-GCMS︓アウトガス分析(劣化解析)ほか ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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DSC(示差走査熱量分析)の測定事例

DSCで熱特性を⽐較!種類の判別、ポリマー分⼦鎖の状態から材料特性に与える影響を考察します!

ポリエチレン(PE)はその側鎖分岐の長さや数によって、 幾つかの種類があり材料特性が異なります。 結晶性高分子であるポリエチレンの融解ピークから、 DSCにて融点及び結晶化度を測定しポリエチレンの種類ごとに比較しました。 長い側鎖が多く分子鎖が密になり難いLDPEは、 融点が低く結晶化度も低い結果となった一方、 分子鎖が密になりやすいHDPEは、融点・結晶化度共に高い値を示しました。 また、側鎖が多いものの、比較的短くLDPEより密になりやすいLLDPEは、 融点・結晶化度共にLDPEとHDPEの中間的な値を示しました。 【ポリエチレンの種類】 ■LDPE(低密度ポリエチレン):剛性が低く、柔軟性が高い ■LLDPE(直鎖低密度ポリエチレン):LDPEより強靭だが加工性は劣る ■HDPE(高密度ポリエチレン):剛性が高く、引張、衝撃強さ、硬さに優れる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ワンショット3D形状測定機『VR-6200』

この1台で、いろいろ測れる!切断せずに断面形状を再現、光沢面も測定可能です!

株式会社アイテスは、KEYENCE社製のワンショット3D形状測定機 『VR-6200』を導入しました。 電動回転ユニットを付属しており、切断せずに断面形状を再現。 HDRスキャンアルゴリズムにより、光沢面も測れます。 プロファイル計測をはじめ、平面計測、体積面積、比較計測など この1台で、様々な測定を行うことができます。 【測定可能項目】 ■プロファイル計測 ■平面計測 ■体積面積 ■線粗さ計測 ■面(平面度)計測 ■比較計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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岩石中鉱物のラマンスペクトル取得サービス

岩石・鉱物の研究をアシスト!岩石中の鉱物種の同定、解析にラマンスペクトルは非常に有効です

岩石のラマンスペクトル取得サービスのご紹介です。 薄片化した岩石標本、採り出した鉱物などをお送り頂き、測定箇所を ご指定頂ければ、指定箇所のラマンスペクトルを取得致します。 薄片化、元素分析(EDX・EPMA)、EBSD分析も承り可能です。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■岩石中の鉱物種の同定、解析にラマンスペクトルは非常に有効 ■薄片化した岩石標本、採り出した鉱物などをお送り頂き、  測定箇所をご指定頂ければ、指定箇所のラマンスペクトルを取得 ■薄片化、元素分析(EDX・EPMA)、EBSD分析も承り可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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FIB-SEM Helios 5 UC 導入のお知らせ

ソフトマテリアルの断面作製も実現!Auto Slice&Viewで3D再構築も可能です!

『FIB-SEM Helios 5 UC』の導入により、11月よりサービス開始予定! 今までより短納期、確実なフィードバックをご提供いたします。 パワーデバイスやIC、太陽電池や受発光素子といった半導体デバイスや MLCCなどの電子部品からソフトマテリアルといった多岐にわたる硬軟材料の 断面観察・分析を高スループットで実現。 最大100nAの質の良いビームにより、大面積を高速加工できるほか、 FIBを低加速で仕上げることによりダメージ層の少ない高品質の試料作製が 可能です。 【Helios 5 UCの主な特長】 ■高速・大面積FIB加工 ■低加速仕上げによるダメージ層低減 ■Cryo-FIB加工 ■3Dイメージング ■TEM試料加工の完全自動化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【資料】ラミネートフィルムの複屈折測定

PETとEVAを複合させることによる効果を解説!ラミネートフィルムを用いた測定結果をご紹介

『ラミネートフィルム』は透明性の高い材料を用いることで、印刷物の 視認性を保持しつつ、その表示面を保護する目的で様々な業界で使用されます。 加工の際は、熱圧着を行うので、分子の状態は加工前に比べて 変化していることが想定されます。 今回は、ラミネートフィルムに対して、熱を加えた条件と加えていない条件を 比較して、製品に残留する応力を複屈折から明らかにすることを試みました。 当資料では、例として、ポリエチレンテレフタレート(PET)とエチレン酢酸ビニル (EVA)で構成されたラミネートフィルムを用いた測定結果を紹介しています。 【掲載内容】 ■DSCによるガラス転移点測定 ■WPAによる複屈折測定 ■PETとEVAを複合させることによる効果 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【資料】溶媒抽出によるGC-MS分析

感熱紙に含まれる顕色剤の成分比較を溶媒抽出を用いて行った例などを紹介します!

GC-MS分析の前処理として溶媒抽出を行う事で、目的物を高感度に分析 出来る場合があります。 当資料では、ウエスで拭いた汚れの成分比較、感熱紙に含まれる顕色剤の 成分比較を溶媒抽出を用いて行った例を紹介しています。 溶媒抽出以外にも、サンプルや分析対象に合わせて様々な前処理方法から 好適な手法を提案させて頂きますので、お気軽にお問い合わせください。 【掲載内容】 ■汚れ成分と周辺材との比較分析 ■感熱紙に含まれる顕色剤の成分比較 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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断面加工・観察方法の紹介

機械研磨では広範囲の加工及び観察が可能!適切な加工、観察手法や組み合わせをご提案致します

機械研磨及び機械研磨+イオンミリング処理による試料加工について紹介致します。 機械研磨は一般的で歴史の長い断面作製手法であり、広範囲で断面を 作製することが可能。また、イオンミリング処理と組み合わせることで CP加工面と同程度の観察面を作製することもできます。 アイテスでは蓄積されたノウハウにより適切な加工、観察手法や組み合わせを ご提案致します。ご相談等、お気軽にお問い合わせ下さい。 【特長】 ■機械研磨では広範囲の加工及び観察が可能 ■機械研磨と撮影を繰り返すことで、3次元的に観察することができる ■構築した3D像を元に任意の箇所での観察が可能 ■機械研磨後、試料によってはCPによる加工試料と同程度の観察が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他

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【資料】高温GPC(SEC)による樹脂の分子量測定

分析装置でもポリマーの分析評価にご対応!高温SECの装置構成と原理などを掲載!

プラスチックなど樹脂の分子量は一つではなく、複数の分子量で 構成されています。 この分子量および分布を把握することで樹脂の特性や劣化などメカニズム理論の 理解に繋がります。 当資料では、常温で溶剤に溶解しにくいポリオレフィン系の測定に相応しい 高温GPC装置にて、ポリプロピレン樹脂(PP)で紫外線(UV)照射有無の 試料を測定しデータ解析を行った事例をご紹介いたします。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■高温SECの装置構成と原理 ■分析事例 UV照射を行ったPPの分子量測定 ■活用例 ■高温SECの仕様と留意点 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【資料】有機材料、高分子材料の分析評価

金属、無機素材とともに欠かせない材料!有機素材の分析評価サービス事例をご紹介

溶剤、添加剤、医薬品、プラスチックなどの有機材料は、金属、無機素材 とともに欠かせない材料です。 軽元素の組み合わせで多種多様な種類を有し、またその特異性は構造や 分子間力、電子の挙動から発現しますが、特性の根本的な把握に 化学機器分析および評価は必要と思われます。 当資料では、有機素材の分析評価サービス事例をご紹介します。 【掲載内容】 ■FT-IR分析 ■GC-MS分析 ■GPC(SEC)による分子量分布評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • 計測・分析装置

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【資料】GC-MS分析装置ガイド

試料導入装置と、それぞれの装置が得意とする分析試料や分析内容についてご紹介!

GC-MS分析は有機成分分析や有機構造解析によく用いられる手法です。 付帯装置により溶剤などの低分子からプラスチックなどの高分子まで 幅広い分析対応が可能。 当資料ではアイテスで保有している試料導入装置と、それぞれの装置が 得意とする分析試料や分析内容についてご紹介します。 ぜひご一読ください。 【掲載内容】 ■概要 ■条件 ■試料 ■得られるデータ ■分析例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他分析機器

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【TOF-SIMSの事例】広域イメージマップ

ステージ駆動による広域イメージマップ!マジックの分布を可視化できた測定例をご紹介

電動ステージと組み合わせることで、広域のイメージマップ測定が可能な TOF-SIMSの事例をご紹介します。 金属板に2種類の黒色マジックで描画し、広域(30mm×30mm)の イメージマッピング測定を実施。 光学像では2種類のマジックの識別が困難ですが、各マジックに特長的な 2次イオンピークでイメージマップを確認することで、マジックの分布を 可視化することができます。 この他にも、TOF-SIMSにて広域イメージマップ測定後、スペクトルから 詳細な解析結果を得られた事例もございます。 【概要】 ■通常測定(ビームスキャン測定)は、サイズ500μm × 500μm以下を測定対象 ■電動ステージと組み合わせることで、広い領域のイメージマップ測定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他分析機器

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機械研磨による3D構築

X線CTとFIBスライス断面による3D構築のメリット・デメリットや機械研磨による3D構築手法をご紹介!

機械研磨による3D構築手法を事例にてご紹介致します。 セラミックコンデンサは内部に薄膜の電極が積層された構造をしており、X線CT では内部の電極は透けてしまって確認する事ができません。また、FIBスライス 断面による3D構築は試料が数mmである為、局所的な確認に留まります。 機械研磨による3D構築手法は、X線CTとFIBスライス断面の不得意とする領域を 補う形で3D構築が可能となる場合があります。 【機械研磨によるセラミックコンデンサの3D構築事例】 ■X線CT像:内部電極が確認できない ■FIBスライス断面による3D構築:局所的な確認に留まる ■機械研磨による3D構築:内部電極が確認できる、広範囲で3D観察が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析・予測システム

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【EDSによる分析事例】Cuパッドの接合界面

各元素の分布を2次元的に見ることが可能!多層状の試料の分析の際にも有効な場合があります

Cuパッドの接合界面におけるEDSによる分析事例をご紹介いたします。 金属間化合物の定性分析(点分析)と半定量分析では、各特性X線の強度 (カウント数)を調べることで含有元素の濃度を算出。金属間化合物等は 算出された濃度比により、形成された化合物を推定することが可能です。 また線分析では、SEM画像で指定した線状の各元素の濃度分布をプロファイル することができるため、分析箇所の元素濃度変化を確認できます。 【EDSによる分析の特長】 ■金属間化合物の定性分析(点分析)と半定量分析  ・各特性X線の強度(カウント数)を調べることで含有元素の濃度を算出  ・金属間化合物等は算出された濃度比により、形成された化合物を推定 ■線分析  ・SEM画像で指定した線状の各元素の濃度分布をプロファイルできる  ・分析箇所の元素濃度変化を確認することが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 計測・分析装置
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エネルギー分散X線分光法(EDS)

特性X線を検出!微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析手法

『エネルギー分散X線分光法(EDSまたはEDX)』は、電子顕微鏡(SEMやTEM)に 取り付けられた検出器で電子線照射により発生する特性X線を検出し、 試料や異物の元素情報を得る手法です。 物質に電子線を照射することにより発生する特性X線が検出器に入射すると、 特性X線のエネルギーに相当する数の電子-正孔対が生成。 この数(電流)を測定することで特性X線のエネルギーを知ることができ、 エネルギーは元素により異なるため、物質の元素情報を調べることが可能です。 【EDSによる分析(一部)】 ■金属間化合物の定性分析(点分析)  ・測定されたスペクトルの特性X線がどの元素の特性X線エネルギーに  対応するかを調べることで、元素の種類を調べることができる ■金属間化合物の半定量分析  ・各特性X線の強度(カウント数)を調べることで、含有元素の  濃度を算出することができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 計測・分析装置
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【ソーラーパネル計測器】リユースチェッカーRUC-100

【初心者でも簡単】太陽光パネルの再利用の可否を瞬時に選別!リユース利用or廃棄・リサイクルへの選別に伴う工程やコストの削減に!

『リユースチェッカーRUC-100』は、電気の専門知識がない方でも 太陽光パネルの電気的な不良品を判定できるようにすることを目的とした、 簡易の診断機器です。 5つの測定項目を総合的に自動判断し、液晶ディスプレイに○☓判定で 表示することで、容易に選別判定が可能。 測定項目はパネル毎に機器内蔵メモリーに保存できるほか、CSVデータは 出力可能です。 【特長】 ■液晶ディスプレイに○☓判定で表示 ■容易に選別判定が可能 ■5つの測定項目はパネル毎に機器内蔵メモリーに保存 ■CSVデータは出力可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 太陽光発電システム(ソーラーシステム・省エネ住宅・売電事業)
  • その他計測器
  • 計測・分析装置

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カーボン材料のラマン分析

ラマンスペクトルを測定!カーボン材料の構造や結晶性に関する情報を得る事が可能

カーボン材料はグラファイト、活性炭、カーボンファイバーなど様々な ものがあり、リチウムイオン電池の負極活物質や、導電性プラスチック用 添加剤、インク、CFRPなどの用途で幅広く使用されています。 当社では、ラマン分析によりカーボン材料の構造の違いを評価。 CB、活性炭ではグラファイトに比べGバンドのピークがブロードになり、 半値幅が大きくなりました。 これは、結晶子サイズが異なる事を示しており、グラファイトはCB、活性炭 より結晶子サイズが大きい事が分かります。 【カーボン材料によるラマンスペクトルの違い】 ■グラファイトは1580cm-1付近のGバンドが強くシャープに検出 ■グラファイトの単位格子である六員環構造の崩れや、積層状態の  網面がより無秩序に重なりあっている事を示す ■CB・活性炭では、グラファイトに比べGバンドのピークが  ブロードになっており、半値幅が大きい ■グラファイトはCB、活性炭より結晶子サイズが大きい ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【資料】熱脱着GC-MSによるポリマー中の添加剤不具合解析

熱脱着GC-MS分析により感度良く分析する事が可能!不具合症状や目的に合わせた手法をご提案

ポリマーには安定性や加工性を向上させる為に様々な添加剤が使用されていますが、 環境負荷や長期保管により添加剤成分がポリマー表面に析出したり、 添加剤そのものが化学変化を起こし変色や劣化の原因となる事があります。 当資料では、添加剤のブリードアウト、UV照射による添加剤成分の化学変化を 熱脱着GC-MSにより分析した例を紹介します。 添加剤成分はポリマー主成分に対して少量しか含まれませんが、熱脱着GC-MS分析 により感度良く分析する事が可能。 信頼性試験や熱分析、主成分分析などと組み合わせた製品の劣化予測など、不具合症状や 目的に合わせた手法を提案させて頂きますのでお気軽にお問い合わせください。 【掲載内容】 ■ニトリルゴムからブリードアウトした添加剤成分分析 ■UV照射したナイロン66の添加剤成分分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他

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【資料】光学顕微鏡とSEMの使い分け

光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較!メリット、デメリットを挙げて解説します

試料の観察には光学顕微鏡とSEM(走査電子顕微鏡)がよく用いられますが、 それぞれ特長があるので目的に応じた装置を選択する事が大切です。 当資料では、光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較し一般的に言われている メリット、デメリットをご紹介。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■光学顕微鏡の特長 ・メリット/デメリット ・こんな観察にお勧め ■SEM(走査電子顕微鏡)の特長 ・メリット/デメリット ・こんな観察にお勧め ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他

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【資料】反応熱分解によるポリカーボネート劣化解析

材料評価や不良品解析に!分解生成物の違いから、かかった負荷や劣化機構について考察致します。

ポリカーボネートは耐衝撃性や耐候性、透明度に優れた材料であることから、 工業材料から日常品まで幅広く使用されています。 しかし優れた性質を持つポリマーであっても、使用環境や経時変化により 化学変化、いわゆる劣化が生じます。 当資料では、UV照射及び恒温恒湿試験を行ったポリカーボネート材料の 劣化解析例を紹介します。 【掲載内容】 ■ポリカーボネートの反応熱分解GC-MS分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【EBSDの事例】2つの黄銅材を比較

結晶構造の違いをもとに、2つの試料の差異を可視化!EBSD分析の事例をご紹介

似たような元素組成をもつ2種類の黄銅材について比較を行った事例を ご紹介いたします。 SEM-EDXでスペクトル分析を行ったところ、黄銅は主としてCu(銅)とZn(亜鉛) から成り、両試料の元素組成は比較的似通っているように見えました。 また、EBSD分析を行い相マップを確認した結果、試料1の⼀部に結晶構造の 異なるβ相が見られました。 【事例概要】 <元素分析による2つの黄銅材の比較> ■分析方法:SEM-EDXによる分析 ■結果  ・スペクトル分析を行ったところ、黄銅は主としてCu(銅)とZn(亜鉛)から成り  両試料の元素組成は比較的似通っているように見えた  ・元素Cuと元素Znについて面分析を行ったが、面内分布に偏りは見られなかった ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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低分子シロキサン定量分析

低分子シロキサンの確認手法!どの程度の発生量であるかなども分析可能

シリコーン製品から発生する低分子シロキサンが電子部品の接点周囲に 存在すると、電気火花の熱により絶縁物である二酸化ケイ素を生じ、 接点障害を引き起こす事が知られています。 こちらでは、低分子シロキサンの確認手法としてHS-GCMSによる アウトガス定量分析をご紹介。 HS-GCMS分析は、使用している電子部品の周辺に低分子シロキサンを 発生させるような部材が無いか、またどの程度の発生量であるかの分析が 可能です。サンプルサイズや条件など、お気軽にお問い合わせください。 【シリコーン系粘着テープのHS-GCMS分析】 ■シリコーン系粘着剤を使用しているテープをバイアル瓶に封入 ■130℃で30分加温した後、発生したアウトガスをヘッドスペースGCMSにて分析 ■検出された低分子シロキサンについては、環状シロキサンD5換算にて  定量を行った   ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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フタル酸エステル類のスクリーニング分析

規制値は1000ppm!簡易的に規制対象化合物含有の有無を調べる事が出来ます

フタル酸エステル類は、可塑剤などの添加剤成分として多くの プラスチック製品に使用されていますが、改正RoHS指令により 新たに4種のフタル酸エステル類が規制対象となりました。 当社の「スクリーニング分析」では、簡易的に規制対象化合物含有の 有無を調べる事ができ、500~1500ppm含有が推定された場合には より詳細な定量分析にて判定。 RoHS指令4種以外にも、JIGや食品衛生法などで規制対象となるDNOP、 DINP、DIDPについての簡易的な「スクリーニング分析」が可能です。 試料の詳細や測定対象化合物など、お気軽にお問い合わせください。 【Py-GC/MSによる気泡緩衝材中のフタル酸エステル類スクリーニング分析】 ■判定基準 半定量値  ・500ppm以下:非含有と判定  ・1,500ppm以上:含有と判定  ・500~1,500ppm:溶媒抽出による定量分析にて再検査を行う ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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HDPE・LDPE比較分析

材料構造・材料特性の解析や、不具合、劣化現象なども様々な分析手法から考察

ポリエチレン樹脂には大きく分けて高密度ポリエチレン(HDPE)と 低密度ポリエチレン(LDPE)の種類があります。 それぞれ基本となる分子構造は同じですが、枝分かれ構造の多さなどの 違いにより、ポリマーとしての性質も異なります。 HDPEとLDPEを各種分析から比較した例をご紹介。 当社では、材料構造・材料特性の解析だけでなく、プロセス条件バラツキの 把握、不具合、そして劣化現象などを様々な分析手法から考察致します。 【事例内容】 ■FT-IRによる主骨格の比較分析 ■EGA-MSによる熱分解温度の比較分析 ■熱分解GC-MSによる熱分解生成物の比較分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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