試験槽メーカーに依存しない試験が可能なモニタリングシステム。 お客様の声を反映したオリジナルの集録／解析ソフトとなります。
・試験槽メーカーに依存しない試験が可能なモニタリングシステム。 ・お客様の声を反映したオリジナルの集録／解析ソフトとなります。 各メーカー（半導体、電装品、材料、樹脂）様 民間／国の研究機関 受託試験企業 等多くのお客様にご利用いただいております。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
ICパッケージの実装信頼性寿命を評価する加速試験（ヒートサイクル試験等）において、試験中にはんだ接合部や実装品の導通部分の抵抗をリアルタイムに測定・データ集録することができるシステムです。 従来の様な試験前後の導通測定では、異常発生箇所の導通が一時的に回復する場合もあり正確な寿命が確認できませんでした。 本システムでは、ラインの抵抗値をリアルタイムモニター／データ集録出来ますので試験中に発生した異常を即座に検出・記録することが可能です。 [特徴］ ●最新のモジュール式ハードウエアを中心としたシステム構成により設備の軽量／コンパクト化及び高い信頼性を実現 ●標準チャンネル数は192ch（オプションを追加することでチャンネル数の拡張可能：最大2048チャンネル） ●システム−デバイス間の信号ケーブルに高耐熱カスタムケーブルを採用することで耐熱性能と取り扱い性を向上 ●試験中に集録データをリアルタイム確認できるVIEWER付属
価格情報
-
納期
用途／実績例
・各種信頼性試験、長期耐久試験 ・鉛フリー半田材の耐久試験データ収集 ・高密度実装パッケージの接触抵抗、導体抵抗測定 ・ソケット、コネクター等のコンタクト性確認評価 等
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
開発・設計会社として、半導体周辺回路と応用製品の開発・設計・評価 シミュレーション技術により、お客様の開発設計を促進しています。
