幅広い半導体材料に対応可能!レポート形式でご提供いたします
当社では、半導体の光学的評価・電気特性評価やプローブテスト等の 『パワー半導体解析ソリューション』を提供しております。 PLスペクトルの各種測定条件依存性の解析、ホール効果測定やデバイスの 各種電気特性結果の解析など、幅広い解析に対応。 高精度な解析結果から次のアクションに結びつけ、開発コスト抑制に 貢献いたします。 【特長】 ■先進の測定技術 ■幅広い解析対応 ■専門的見解も添えて提供 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
【サービス】 ■フォトルミネッセンス(PL) 測定による半導体の光学的評価 ■ホール効果測定による半導体の電気特性評価 ■半導体デバイス電気特性プローブテスト ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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用途/実績例
【事例紹介】 ■Mgイオン注入し熱処理したGaNの結晶性とアクセプタ濃度の定量評価 ■高純度GaN結晶中の不純物濃度の定量評価 ■バルク半導体やHEMT構造の移動度測定と評価 ■GaN-MOSFETのチャネル移動度の計測と界面トラップの評価 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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株式会社Next Semiconductorは、パワー半導体に関するトータル技術 サービス企業です。 大分大学発ベンチャー企業として、パワー半導体、パワーモジュール、 ゲートドライバー回路に関する技術コンサルティング事業を創業。 他大学発ベンチャー企業とも連携し、パワーメカトロニクスに関する 様々な視点から、技術課題の解決にアプローチできる、稀有な技術集団です。