絶縁体上の金属膜（銅箔、プリント基板のメッキ等）を短時間（0.7秒）で高精度に測定
●4探針プローブ(ケルビン型)を採用。裏面や内層の影響を受けず、両面基板や多層基板も裏面や内層の影響を受けずに測定可能。 ●PCを使用。 画面も大きく見易い仕様。 ●校正・測定が簡単。 2種類のレンジが選択でき、2～120μmの金属膜を測定可能。 ●最大40チャンネルまで登録できるので、ユーザー名や品番などでチャンネルを分けて登録して管理可能。 ●測定データはチャンネルごとに保存でき、後から測定データに統計項目を設定して統計処理することが可能。 ●膜厚の上限・下限を設定することで異常値を通知。
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基本情報
測定原理：4探針電気抵抗式 測定範囲：2～24μｍ、10～120μｍ チャンネル数：40チャンネル データ容量：100,000データ 表示：パソコンモニタ画面による 統計処理：最大値、最小値、平均値、標準偏差、ヒストグラム、上下限値設定 電源：AC100～240V、50/60Hz 10VA（本体） 寸法：W280×D230×H88mm（本体） 重量：3.0Kg（本体） ※詳細はお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
絶縁体上の金属膜等（銅箔、プリント基板のメッキ等）
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企業情報
サンコウ電子研究所の測定器・検査機器は、 ◎高精度と高信頼性 ◎厳しいプロフェッショナルユースに耐えるハードウエア ◎使う人の立場になって考えた操作性優先の設計思想 ◎豊富な経験とノウハウによるトータルなサポート体制 など数多くのメリットにより品質管理業務を強力にバックアップします。
