設計周波数は1kHz～2MHzで、VGS電圧は±40Vに達し、VDS電圧は200V/1500V/3000Vに到達
【製品概要】 半導体デバイス C-V特性アナライザ TH510シリーズは、半導体材料およびコンポーネントの設計と研究のために設計された分析装置です。 デュアル CPU アーキテクチャ、Linux 基盤システム、10.1 インチ静電容量式タッチ スクリーン、英語の操作インターフェイス、組み込みの指示とヘルプなどの新世代技術を革新的に採用しています。生産ラインの自動統合と分類、および実験室の研究開発と分析に対応できます。 半導体デバイス C-V特性アナライザ TH510シリーズの設計周波数は1kHz～2MHzで、VGS電圧は±40Vに達し、VDS電圧は200V/1500V/3000Vに達します。 従来のダイオード、三極管、MOS チューブ、IGBT などの半導体コンポーネントの CV 特性テストと分析に対応します。解像度 1280*800 の 10.1 インチ静電容量式タッチ スクリーンのおかげで、TH510 シリーズは、4つのパラメーターを表示できます。同じ画面で、すべての設定、監視、並べ替えパラメータ、ステータスなどを同じ画面表示に表示できるため、頻繁に切り替えるという面倒な操作を回避できます。
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基本情報
【主な特徴】 • 10.1 インチの静電容量式タッチスクリーン、解像度 1280*800、Linux システム • デュアル CPU アーキテクチャ、最速 0.56ms (1800 回/秒) のテスト速度 • 3 つのテスト方法: スポット テスト、リスト スキャン、およびグラフィック スキャン (オプション) • 4 つの寄生パラメータ (Ciss、Coss、Crss、Rg) が測定され、同じ画面に表示される • 統合設計: LCR + 高電圧源 + チャネル切り替え • 2 つのデバイスまたはデュアル チップ デバイスをテストできる標準 2 チャネル テスト 同時に、チャンネルは最大6チャンネルまで拡張でき、チャネルパラメータは個別に保存されます • 高速充電、コンデンサの充電時間を短縮し、迅速なテストを可能にします • 高速ターンオン テスト 導通 • 自動遅延設定 • 高バイアス: VGS: 0 - ±40V、VDS: 0 - 200V/1500V/3000V • 10 個のビンの並べ替え
価格帯
納期
用途／実績例
• 半導体部品・パワー部品 ダイオード、三極管、MOSFET、IGBT、サイリスタ、集積回路、光電子チップなどの寄生容量試験と C-V 特性解析。 • 半導体材料 ウエハーダイシング、C-V特性解析 • 液晶材料 性定数解析
詳細情報
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半導体デバイスアナライザ TH511/TH512/TH513
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半導体デバイスアナライザ TH511/TH512/TH513 仕様
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半導体デバイスアナライザ TH511/TH512/TH513 仕様
ラインアップ（3）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| TH512 | 2CH, Vdsレンジ：0 - ±1500V |
| TH511 | 2CH, Vdsレンジ：0 - ±200V |
| TH513 | 1CH, Vdsレンジ：0 - ±3000V |
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企業情報
EMC試験・汎用計測におけるユニークで新しいソリューションを提供する企業として、ウェーブクレスト株式会社は活動しています。高度化する電子・通信環境はその製品の性能ばかりでなく社会全体の安全性をも左右する社会インフラとして、高い安全性、信頼性が求められています。従来の試験方法や機器にとらわれずマーケットが必要とする新しい製品やソリューションを提供していきたいと考えます。
