省スペースで取り扱いが簡単なラウエカメラです！
単結晶材料のX線回折(ラウエ斑点)画像を高速に取得できます。 空冷X線発生装置と高感度検出器が一体となった卓上型です。 【特長】 ・小型・軽量で省スペース ・測定時間：約60秒 ・低出力X線管の採用で冷却機構は空冷、メンテナンスの手間を削減します ・X線を垂直下向きに入射するため試料の設置が簡単です ・顕微鏡を用いて精密な位置合わせが可能です ・6軸(Θ/Tan./Rad./X/Y/Z)試料ステージ付き ・X線作業主任者不要で誰でも使えます ※大型試料や現場測定 (単結晶タービンブレードなど) のご要望がございましたらご相談ください。 試料フリーサイズ対応ポータブル型装置もご用意可能です。 デモ測定も承っております。 ◆JASIS 2022 最先端科学・分析システム&ソリューション展に出展◆ 会期 ：2022年9月7日(水)～9日(金) 会場 ：幕張メッセ国際展示場 小間番号：6B-402 ブースにご来場いただき是非実機をご覧ください！
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基本情報
本製品の特長 １．小型・軽量 世界最小最軽量クラスを実現したμ-X360s の技術を応用し、小型・軽量な装置に仕上げました。 ２．簡単操作 X 線は、試料の取付けが容易な垂直下向きに照射する構造とし、精密な位置合わせは顕微鏡を使用することで精度良く行えます。取扱いも簡単でどなたにも容易に操作していただけます。 ３． 高速・高精度測定 標準コリメータ(X 線照射径：約Φ1mm)であれば約 60 秒で測定できます。また、独自の画像処理技術により、鮮明で高精度なラウエ斑点画像を出力できます。 ４． 安全性確保 低出力 X 線を採用し安全性を確保。さらにインターロック付きの遮蔽カバーで被ばくを完全に防止できますので、どなたでも安全にご使用いただけます。X 線作業主任者の資格も不要です。 用 途 ・単結晶材料の切り出し方位確認・調整（インゴット、ウェハーなど） ・結晶性の評価（単結晶／双晶／多結晶、結晶性の変化、対称性）
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ・主面方位の測定 ・切り出し方位の確認・調整 ・結晶性評価 ・結晶成長、加工関連 ・半導体デバイス製造・開発
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企業情報
パルステック工業は、創業当初から「研究開発型モノづくり企業」を志向し、既存製品では対応困難な省力化機器や検査設備などを数多く手掛け、 お客様の生産性の向上や品質向上に寄与してまいりました。 「ポータブル型Ｘ線残留応力測定装置」や「蛍光検出ヘッド」は、今まで培ってきた要素技術を複合することにより自社開発した製品であり、各方面から高い評価を得ています。 解決困難な課題、特注設備、共同開発、技術者派遣などお客様のニーズに合わせ、最適な解決策をご提案いたしますので、お気軽にお問い合わせください。 カスタムニーズ（特殊仕様）に対応する技術者 Ｘ線取扱技術 ・Ｘ線作業主任者 ３７名 回路設計技術 ・電気機器組立技能者 ３名 光学設計技術 ・国際光技術者 １０名 機構設計技術 ・機械設計技術者 ７名 ・金属材料試験技能者 １９名 ・３次元ＣＡＤ利用技術者 ３名 ソフトウエア開発技術 ・情報技術者 ２３名 ・ソフトウエア品質技術者 ２名 ・ＬａｂＶＩＥＷ認定資格保有者 ３名
