基本ライブラリを使用し検査プログラムを作成！ウエハやプリント基板などの検査に
ジャパンシステム株式会社では、画像処理、波形自動処理判定、お客様の ニーズに従ったシステムを設計、製作し提供しています。 『CLIP MICRO』は、ウエハ、フィルムのゴミ、ガラス印刷、 プリント基板のパターン検査が可能な高精細画像診断システムです。 測定、欠陥、ゴミ検出など基本のライブラリを使用し、対象に合わせた 検査プログラムを作成します。 【特長】 ■ウエハ、フィルムのゴミ、ガラス印刷、プリント基板のパターン検査が可能 ■測定、欠陥、ゴミ検出など基本のライブラリを使用 ■対象に合わせた検査プログラムを作成 ■焦点：オートフォーカス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【対物レンズと分解能 測定視野】 ＜対物レンズ倍率／分解能／測定視野＞ ■X5／0.68μm／5440μm ■X10／0.34μm／2720μm ■X20／0.17μm／1360μm ■X50／0.068μm／680μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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用途／実績例
【用途】 ■ウエハ、フィルムのゴミ、プリント基板、ガラス印刷のパターン検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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