イベントディテクタシステム（環境試験槽連動）
・温度サイクル槽と連動して、導通部分の瞬断を1μsecの分解能でモニタリングすることができるシステムです。 ・半導体PKGの接続信頼性試験等で活用頂いております。
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基本情報
・最大160chの瞬断Eventを同時にモニタリング可能。 ・集録用、Viewerの2本のアプリケーションを用意しております。 ・新規/既存に関わらず、最大15種類のファイルを同時に扱うことが可能。 ・12ch/1ブロック又は20ch/1ブロックのシステムを用意可能。
価格帯
納期
用途／実績例
・大手半導体メーカー様の実装信頼性試験 ・組み込み機器実装信頼性試験 等で用いられております。
カタログ（2）
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企業情報
開発・設計会社として、半導体周辺回路と応用製品の開発・設計・評価 シミュレーション技術により、お客様の開発設計を促進しています。
