信頼性試験によるスペック確認と故障解析

当社では、信頼性試験から故障解析までの一貫した解析を行っております。
それにより、サンプルが規格を満たしているか確認すると共に、
Failしたサンプルの不良箇所の特定及び観察をする事が可能。
お客様のご要望、目的に応じた試験や解析をご提案、実施し、
原因究明~問題解決までのお手伝いをいたします。
ご用命の際は、当社へお気軽にお問合せください。
【解析の流れ】
■信頼性試験による半導体素子のスペック確認
■不良箇所特定~TEMによる故障箇所の観察
・EMS/OBIRCH解析による不良箇所特定
・TEMによる故障箇所の観察


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