ダイナミックSIMS

ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの分析に好適！

『ダイナミックSIMS』は、試料中に含まれる微量の全元素(H〜U)を ppmからppbの高感度で検出することができる二次イオン質量分析法です。 定性分析及び深さ方向分析ができ、加えて標準試料による高精度な定量分析が 可能。(当社の協力会社での分析実施) 最小ビーム径は約30um、材質によってさらにビーム径を落とすことが できます。 【特長】 ■試料の自動ロード/アンロード、高スループット(24試料/ロード) ■比類のないデプスプロファイリング能力と高いデプス分解能、 　広ダイナミックレンジ ■ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの 　分析に最適化 ■最高検出限界：ppmからppb (10^-6〜10^-9) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他分析機器

TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能です。

■TOF-SIMS　3つの分析モード ・高分解能質量スペクトル ・深さ方向分析 ・表面の面分析

• 分析・予測システム
• その他分析機器

有機物分析の例としてポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介いたします

TOF-SIMSは元素及び有機物の分子、フラグメントイオンの検出が 可能であり、有機物の分析にも有効です。有機物分析の例として ポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介します。 二次イオンマススペクトルは有機物の定性に有効な知見を得られる 場合があります。 今回の事例では、ポリエチレングリコールに特長的な繰り返し構造 （C2H4O）を質量差44のピーク群として確認できます。 質量数から計算すると、末端はH-,HO-であり、プロトン付加として 検出されていることが推測されます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他

TOF-SIMSの分析感度はppmオーダーと高感度であるため、微量汚染の分析に有効です！

再現実験により、Siウエハ上に水玉状の汚染物を作成した事例のご紹介です。 同じ位置でSEM-EDXとTOFSIMSによる測定を行い、イメージマップの比較を 行いました。 TOF-SIMSイメージマップではウォーターマークとその周囲に有機物（CH,CN）、 Na、K、が検出されました。 ウォーターマークの周囲は光学像、SEM像及びEDX分析においても汚染と 思われるものが確認できないが、TOF-SIMSイメージマップでは微量の汚染物が 付着していることがわかりました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他

感度よく検出することが可能！TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介

TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介します。 汚染や異物の分析には、SEM-EDXが利用されていますが、 windowless EDXを除く一般的なEDXではLiの検出は困難です。 一方、TOF-SIMSはLiを感度よく検出することができます。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【概要】 ■銅板の染みの分析 ■SEM-EDX分析→Li検出困難 ■TOF-SIMS分析→Li検出可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他分析機器

電解質の純度が電池の性能に大きく影響！硫黄成分の揮発性を抑え、ICで検知できる形態に変換

全固体電池用原料の組成分析について、イオンクロマトグラフィーを用いて、 五硫化二リンの純度を分析した例をご紹介します。 五硫化二リンは、硫化物系全固体電池の電解質製造に使用される原料の一つ。 IC測定の前処理として、五硫化二リンの粉末をアルカリ水に溶解させ、リン酸塩と スルフィド塩に変換。その後、スルフィドイオンを硫酸イオンに酸化して、 IC測定溶液を調整しました。 なお、詳細は掲載カタログにてご紹介しておりますので、 是非ご一読ください。 【固体電解質(一部)】 ■Li3PS4 ■Li7P3S11 ■Li6PS5Cl ■Li6PS5Br ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 分析・予測システム

ケイエフで取り扱っております、モルタル補強用ポリプロピレン繊維「バルチップMK」の、法面吹付実績を追加しました。 ■【実績】バルチップ使用モルタル吹付　中国地方 下記リンクよりご確認頂けます。ご活用ください。 『土木工事関係』用途でのバルチップMKのご相談、お問合せは、ケイエフへお願い致します。

『マンション総合EXPO』は、住まい・建築・不動産の総合展 BREX 実行委員会が主催する、マンションの「建設・管理・修繕」に関する総合展です。 マンション建物管理業務や入退去立会業務など報告業務にお悩みの方向けに、展示ブースにて『Smart Attack』のデモや最新情報をお届けします。 ★★★　ポイント　★★★ ノーコード現場報告アプリ『Smart Attack V3』を実際に試せる体験エリアをご用意。 ブース内にてミニセミナーも実施いたします。 ★★★　セミナー情報　★★★ 本展示会 会場内のセミナースペースにて、講演致します。 ◎5/14(木) 13:50～14:20　セミナー会場A ★★★　展示会情報　★★★ 会期：2026年5月13日(水)～15日(金)　10:00～17:00 会場：東京ビッグサイト（有明・東京国際展示場）　南展示場1・2ホール ブース番号：7-41 ※特別講演・セミナーに参加いたします。 詳細は、関連リンクをご覧ください。↓↓ 弊社一同、皆様のご来場をお待ちしております。

【目視点検からの代替へ】 　次世代のAI搭載ドローンにより革新的な近接点検手法を確立。 　作業の安全確保と工数省力化を両立し、高品質で再現性の高い成果物を提供します。 　高画素の可視カメラだけでなく、赤外線カメラでの点検にも対応。 　ミリ単位オーダーのヘアクラックから熱異常の調査まで幅広く調査を承ります。 点検・調査内容や成果物については、お問い合わせください。

現在、株式会社セブンコーポレーションでは 北海道における新たな生産拠点の構築に向けた準備を進めております。 SEA’S7は、ホタテ貝殻由来の天然素材と、国内水源をベースとした 100%国内原料・国内生産の製品です。 昨今の中東情勢の影響による石油由来製品の供給不安が高まる中、 製造業における洗浄・脱脂・冷却水管理においても 「安定供給」は重要なテーマとなっています。 北海道はホタテの一大産地であり、 豊富な原料供給と持続可能な資源循環の両立が可能なエリアです。 本拠点の構想により、 ・原料調達の安定化 ・供給リスクの低減 ・さらなる大量供給体制の構築 を実現し、 お客様に長期的に安心してご使用いただける体制を整えてまいります。 SEA’S7は、これからも 「供給が止まらない洗浄・水処理ソリューション」として、 製造現場を支えてまいります。

株式会社Kort Valuta（本社：東京都渋谷区、代表取締役：柴田秀樹、以下「当社」）は、ホクト・エンジニアリング株式会社（本社：東京都葛飾区、代表取締役：石井金徳、以下「ホクト・エンジニアリング」）へ、福利厚生の一元化および従業員の健康管理の高度化を目的として、決済機能付きデジタル社員証「TwooCa（ツウカ）」を提供し、導入されたことをお知らせします。