ダイナミックSIMS

ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの分析に好適！

『ダイナミックSIMS』は、試料中に含まれる微量の全元素(H〜U)を ppmからppbの高感度で検出することができる二次イオン質量分析法です。 定性分析及び深さ方向分析ができ、加えて標準試料による高精度な定量分析が 可能。(当社の協力会社での分析実施) 最小ビーム径は約30um、材質によってさらにビーム径を落とすことが できます。 【特長】 ■試料の自動ロード/アンロード、高スループット(24試料/ロード) ■比類のないデプスプロファイリング能力と高いデプス分解能、 　広ダイナミックレンジ ■ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの 　分析に最適化 ■最高検出限界：ppmからppb (10^-6〜10^-9) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他分析機器

TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能です。

■TOF-SIMS　3つの分析モード ・高分解能質量スペクトル ・深さ方向分析 ・表面の面分析

• 分析・予測システム
• その他分析機器

有機物分析の例としてポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介いたします

TOF-SIMSは元素及び有機物の分子、フラグメントイオンの検出が 可能であり、有機物の分析にも有効です。有機物分析の例として ポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介します。 二次イオンマススペクトルは有機物の定性に有効な知見を得られる 場合があります。 今回の事例では、ポリエチレングリコールに特長的な繰り返し構造 （C2H4O）を質量差44のピーク群として確認できます。 質量数から計算すると、末端はH-,HO-であり、プロトン付加として 検出されていることが推測されます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他

TOF-SIMSの分析感度はppmオーダーと高感度であるため、微量汚染の分析に有効です！

再現実験により、Siウエハ上に水玉状の汚染物を作成した事例のご紹介です。 同じ位置でSEM-EDXとTOFSIMSによる測定を行い、イメージマップの比較を 行いました。 TOF-SIMSイメージマップではウォーターマークとその周囲に有機物（CH,CN）、 Na、K、が検出されました。 ウォーターマークの周囲は光学像、SEM像及びEDX分析においても汚染と 思われるものが確認できないが、TOF-SIMSイメージマップでは微量の汚染物が 付着していることがわかりました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他

感度よく検出することが可能！TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介

TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介します。 汚染や異物の分析には、SEM-EDXが利用されていますが、 windowless EDXを除く一般的なEDXではLiの検出は困難です。 一方、TOF-SIMSはLiを感度よく検出することができます。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【概要】 ■銅板の染みの分析 ■SEM-EDX分析→Li検出困難 ■TOF-SIMS分析→Li検出可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他分析機器

電解質の純度が電池の性能に大きく影響！硫黄成分の揮発性を抑え、ICで検知できる形態に変換

全固体電池用原料の組成分析について、イオンクロマトグラフィーを用いて、 五硫化二リンの純度を分析した例をご紹介します。 五硫化二リンは、硫化物系全固体電池の電解質製造に使用される原料の一つ。 IC測定の前処理として、五硫化二リンの粉末をアルカリ水に溶解させ、リン酸塩と スルフィド塩に変換。その後、スルフィドイオンを硫酸イオンに酸化して、 IC測定溶液を調整しました。 なお、詳細は掲載カタログにてご紹介しておりますので、 是非ご一読ください。 【固体電解質(一部)】 ■Li3PS4 ■Li7P3S11 ■Li6PS5Cl ■Li6PS5Br ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 分析・予測システム

有線式の離床センサーにこんなお悩みや要望は御座いませんか？ ×有線ケーブルの絡まり、つまづき ×ケーブルの断線・破損 ×センサー一時停止後のスイッチの入れ忘れが心配。 ×ナースコールコンセントから離れた場所でも、離床を知らせてほしい。 そんなお悩みをセンサーに接続するだけでナースコール連動型ワイヤレスセットが解決します！ 当社の提供するナースコール連動型ワイヤレスセットは、 離床センサー「うーご君」「たためる薄型マッ太君」「あゆみちゃん」「置くだけポール君」に 送・受信機を接続することで、ベッド周りの配線が少なく済み、 ケーブルによるつまづきや転倒の不安を軽減、現場環境の整頓に貢献します。 さらに、ナースコールコンセントから離れた場所でも離床センサーをご利用いただけるようになり、より自由な設備配置を可能にします。

2025年7月4日（金）和歌山ビッグ愛 1階 展示ホールにて開催されました、『第8回和歌山県けんさんぴん建設資材フェア』にケイエフは出展致しました。 2025年7月4日（金）17：00まで開催しています。 お近くの方、お時間にご都合がつく方、是非弊社スタッフと交流頂けると幸いです。 詳細はブログで。

この度、ニッケグループのサンコー株式会社 （所在地：東京都千代田区、代表取締役：荒井太智）は、2025年7月1日に開催された臨時取締役会において、前取締役である荒井太智が代表取締役に選任され、2025年7月1日付で就任いたしましたことをご報告申し上げます。 なお、前代表取締役の山光博康は、同日付で会長に就任いたしましたことを、併せてご報告申し上げます。

当社では、信頼性試験から故障解析までの一貫した解析を行っております。 それにより、サンプルが規格を満たしているか確認すると共に、 Failしたサンプルの不良箇所の特定及び観察をする事が可能。 お客様のご要望、目的に応じた試験や解析をご提案、実施し、 原因究明～問題解決までのお手伝いをいたします。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問合せください。 【解析の流れ】 ■信頼性試験による半導体素子のスペック確認 ■不良箇所特定～TEMによる故障箇所の観察 ・EMS/OBIRCH解析による不良箇所特定 ・TEMによる故障箇所の観察

医薬品業界向けフィーダ２機種をクボタブースにて展示いたします。 是非、弊社ブースにて実機をご確認ください。 弊社スタッフ一同、ご来場を心よりお待ちしております。 【出展情報】 開催日時：2025年7月9日(水)～11日(金)　10:00～17:00 会　　場：東京ビッグサイト 小間位置：南ホール１階　S１３ー２２　原料加工ゾーン