※詳細機能はカタログにてご覧いただけます※ TAKAYAのフライングプローブテスタには、インサーキットテスト機能だけではなく、カラーカメラを用いたAOI（画像検査）機能も標準搭載しています。電気検査では測定できない部品を部分的に画像検査することで、検査の信頼性をさらに高めることが可能です。 ・色識別も可能なAOI機能 ・シリアルナンバー、バーコード読み取り機能 ・基板カラー画像取得、生成機能 トライアル/テストも相談賜ります。 お困りごとがありましたら是非、お気軽にお問合せ下さい。 ※詳細情報はカタログにてご覧いただけます※

APT-7400CJなど、タカヤフライングプローブテスタの旧モデルをお使いのお客様、ぜひ最新のAPT-1340Jへ更新/増設をご検討ください。 旧モデルでご使用されている検査プログラムをそのまま最新モデルへコンバート可能ですので、プログラムの作り直しや再調整などの手間はありません。 また、最新モデルでは駆動モーター・制御系を一新、プローブの移動速度は旧モデルの1.5倍にアップしており、検査時間の大幅な短縮が見込めます。 実際に、APT-7400CJでは基板一枚の検査に33秒かかっていたプログラムが、APT-1340Jへのコンバートで一枚当たり19秒と、約40％短縮できた事例がございます。 手間をかけることなく検査キャパのアップ/効率改善が見込めますので、更新/増設をご検討のお客様は是非、営業担当までお問い合わせください。

タカヤのフライングプローブテスタ 「APTシリーズ」には、検査結果を自動的に収集し、解析する『統計機能』を標準搭載しています。 【主な機能】 〇検査種類　 　検査種類ごとにステップ数をカウント、割合をグラフ表示 〇不良分析 　検査ステップ毎に不良内容/不良数を集計 〇検査解析 　解析結果をヒストグラム等のグラフで視覚的に表示 〇検査集計 　日付毎の合計数・良品数・不良数・不良率を累計表示 〇検査レポート 　解析結果を自動まとめ、Excel形式で出力 検査プログラムの見直し・効率化や、実装工程へのフィードバック、効率向上に効果を発揮します。詳細については営業担当までお問い合わせください。

効率よく大量生産を行う方式として、工程順に機械設備を並べる「ライン生産方式」があります。単一製品の生産性に優れるため、多くのものづくりの現場で取り入れられております。 そのライン生産方式に、検査工程を組み込んだものを「インライン検査」と呼びますが、タカヤのフライングプローブテスタには、基板をコンベアで自動搬送することで、この「インライン検査」に対応できるモデルがございます。 ローダー/アンローダー/反転機などとSMEMA連携することで、大量の基板であっても自動・無人での検査を可能とします。 また、他社様の3D-AOI(外観検査機)と併用いただくことで、外観検査だけでは検出できないマイクロブリッジなどの検出をフライングプローブテスタが受け持つなど、各々の特徴を活かすことで、虚報排除・検査能力の向上・スピードアップを実現されている例もございます。 量産基板の全数電気検査（ICT）でお困りの際は、治具レスでライン切り替えも容易なタカヤのAPTシリーズを是非、ご検討ください。

本システムによって、標準4本の傾斜プローブに、2本の垂直プローブを追加することで、高い部品の間にあるコンタクトポイントや、ビア・スルーホール・上向きコネクタなど、従来アクセスできなかったポイントへのコンタクトが可能となり、不良検出能力をより高められます。 検査対象の形状に合わせ、最適なコンタクト方法を選定できるよう、先端形状の異なるプローブを数種類用意しています。 さらに、２種類の異なる垂直プローブを、検査プログラムに合わせ自動的に切り替えるデュアルZ軸オプションを追加することで、手作業によるプローブ交換が不要となり、効率的な検査を行うことも可能です。

LEDの発光色/輝度の検査に手間がかかり、お困りではありませんか？ タカヤのフライングプローブテスタには、LEDの発光色/輝度をカラーセンサーで測定できるオプション機能がございます。 この機能を用いて、目視検査をフライングプローブテスタによる検査に切り替えて頂いた事例がございます。実際の導入効果をご紹介致します。 1：目視検査員の不可ゼロ LEDの発光色を直視すると作業者の目にダメージを与えますが、フライングプローブテスタに切り替えることで負担をゼロにできます。 2：測定基準の明確化 目視点灯検査は、検査員によって良否判定基準が異なるためばらつきをおこす危険性があります。カラーセンサーの検査では数値比較による明確な判定基準がありますので安定した検査が可能です。 3：治具製作費不要 フライングプローブテスタのLED検査の場合、専用の治具を作成する手間がありません。 トライアル/テストも相談賜ります。 お困りごとがありましたら是非、お気軽にお問合せ下さい。

※詳細機能はカタログにてご覧いただけます※ TAKAYAのフライングプローブテスタには、独自開発のセンサプローブを用いて、 BGA, QFP, SOJなどのICリード浮き不良、ハンダ不良を高速検出するシステムを搭載できます。 IC本体にダメージを与えることなく、狭ピッチICのリード浮き不良や、BGAのボール浮き不良を電気的に検出が可能です。 トライアル/テストも相談賜ります。 お困りごとがありましたら是非、お気軽にお問合せ下さい。 ※詳細情報はカタログにてご覧いただけます※

※詳細機能はカタログにてご覧いただけます※ フライングプローブテスタでプリント基板の電気検査を行う場合、検査用プログラムの作成には基板・回路設計の知識が必要で、作業できる人が限られるなどの課題がありました。タカヤのフライングプローブテスタには、専門知識が無くても検査プログラムの作成が簡単に行える自社開発の専用ソフトウェアをご用意しており、どなたでも簡単な操作でお使いいただけます。グループ内にEMS事業部門にあることを活かし、実装現場の生のご意見を開発にそのまま反映することで、本当に「使いやすい」と言っていただけるソフトウェアとなっております。 まずはお手持ちの基板で試してみたい・・・というトライアル/テストも相談賜ります。お気軽にお問合せ下さい。 ＜こんな方におススメ！＞ ・多品種/少ロット基板の電気検査を必要とされている方 ・検査プログラム作成にかかるコスト/時間を削減し効率を上げたい方 ・回路設計に関する専門知識なしで電気検査を行いたい方 ※詳細情報はカタログにてご覧いただけます※

入手が容易なマウントデータから、タカヤフライングプローブテスタ用の検査プログラムを自動で生成する汎用性の高いワークステーションソフトです。 誰でも簡単に短時間で扱える操作性と、様々な検査用途に対応する機能を追及しています。 特徴 ・リアルマップ（実基板画像）の取り込み画面表示　不良個所の特定やコンタクト位置の確認が容易 ・データ変換は簡単操作、ワンタッチで対応 ・部品形状/領域指定/プローブ自動選択など充実したサポート機能 プログラム作成テスト、検査デモなども喜んで承ります。営業担当までお問い合わせください。

基板設計のCADデータ（ODB++形式）を取り込んで直接検査プログラムを作成できる、タカヤオリジナルのソフトウェアです。 特徴 ・Gerber（ガーバー）、ネット情報を手作業で編集する必要がなく大幅作業時間短縮、変換ミスなし ・回路エレメントの可視化により、不良個所の特定が容易 ・設計データの変更があっても、CADデータを再度読み込むことで自動的に変更箇所のみを抽出、部分修正が可能 プログラム作成テスト、検査デモなども喜んで承ります。営業担当までお問い合わせください。

フライングプローブテスタによるインサーキットテストは、アナログ回路における実装電子部品の電気特性検査を得意としております。しかし、プロービングできない部品は電気的検査が困難で、デジタル回路の機能検査は難しいです。一方、バウンダリスキャンテストは、LSIピン間の相互接続検査・FPGA等へのオンボードプログラミングが短時間で行えますが、バウンダリスキャン規格に準拠しているIC周辺のデジタル回路のみ検査可能で、接続に専用の治具を要するという課題もあります。 タカヤ株式会社では、バウンダリスキャンテストで必要となる4～5本のスキャン対応ピンと計測器を繋ぐ治具の代わりに、フライングプローブを用いる技術を保有しております。これによって、バウンダリスキャン準拠ICの相手先が 非バウンダリスキャン準拠IC・受動部品(コネクタ等)であっても、フライングプローブを仮想バウンダリスキャンセルとして機能させることで、バウンダリスキャンテストを行っていただくことが可能です。 フライングプローブテスタ一台で、デジタル/アナログ回路の両方を一括検査できるなど、今まで以上に検査効率を高められる技術です。

APT-1600FDシリーズの下面稼働軸に、 専用治具昇降機構を搭載するオプションです。 BST（バウンダリスキャンテスト）など、外部機器と接続した特殊検査や、 ICへの書き込み/ログ読み出しを、インサーキットテストと並行して行うことが可能です。 ＊動作のイメージはYoutube動画をご参照ください。

超大型基板のICT（インサーキットテスト）でお困りではないですか？ DIB（Device Interface Board）やPIB（Probe Interface Board）と呼ばれる超大型基板のICTであっても、タカヤのフライングプローブテスタにお任せください。 独自のオプション機構を用いることで　最大985x610mmサイズの基板を　そのままICT検査できます。 また、重量のある基板の自動搬送や、検査エリア内の個別カスタムなども喜んでお受け致します。 タカヤフライングプローブテスタの詳細につきましては、PDFカタログをダウンロードいただくか、営業担当者までお気軽にお問い合わせください。

特集内容 　■ＢＧＡ実装基板検査の最新動向 　　フライングプローブテスタとＪＴＡＧテストのハイブリッド検査 　　　アンドールシステムサポート株式会社　／　谷口　正純 氏 　　　タカヤ株式会社　／　柳田　幸輝 概要 BGA（Ball Grid Array）部品は、民生品から産業機器、近年では車載機器まで、あらゆる電子機器に使用されるようになった。一方でBGA部品が実装された基板（以下、BGA実装基板と呼ぶ）を確実に検査する方法は確立されていない。これはどのような検査手法にもメリットとデメリットが存在し、1つの検査手法のみで完全なテストを行うことはできないためである。したがって現在、多くの企業でBGA実装基板の検査が課題となっている。今回はそれに対する1つの解として、フライングプローブテスタとJTAG（ジェイタグ）バウンダリスキャンを組み合わせたハイブリッド検査についての最新の技術動向を紹介する。 1，はじめに 2，BGA実装基板の検査と課題 3，電気検査の可能性 4，インサーキットテスト 5，JTAGバウンダリスキャンテスト 6，ハイブリッドテスト 7，まとめ

最大±110Vの直流定電圧を印加し、 ・任意指定ネット間のリーク電流 ・MOS-FET、フォトMOSリレーなど半導体素子のリーク電流(漏れ電流) ・ダイオードの逆電流 等をフライングプローブテスタで測定するオプション機能です。 測定プローブと同一ネットに他プローブをコンタクトし 抵抗値を計測するチェック機能により、誤判定を防止します。 トライアル/テストも相談賜ります。 お困りごとがありましたら是非、お気軽にお問合せ下さい。

タカヤでは、お客様からのさらなるご要望にお応えするため フライングプローブテスタの印加パラメータを調整し、 より低抵抗（0.1mΩ～）を測定できる 独自モードの開発を進めております。＊分解能：0.001ｍΩ フライングプローブテスタは、手で測るタイプの低抵抗計と比較すると 測定プローブから本体までの測定線が長い（5メートル程度）ため、 外部ノイズの影響を考慮したマシン設計が必要ですが、我々は、この点において知見がございます。 また、手でプローブを持って測る場合は、 測定対象にプローブコンタクトする際の力加減・角度・位置が一定ではないため 測定結果のばらつきが発生したり、対象物に与える打痕・ダメージが課題になる可能性がありますが、 弊社のプローブシステムは、ダメージレスコンタクト・高精度コンタクトに定評がございます。 手作業による測定の不確かさを払しょくしたい・測定に手間がかかりすぎているなど、 お困りごとがありましたら 是非お声掛けください。テストトライから喜んでお受けいたします。

OPC UA（OPC Unified Architecture）は 産業オートメーションなどの業界で、安全で信頼性あるデータ交換を行うために策定されたオープンな国際標準規格です。OPC Foundationが2008年に発表、その後IEC62541として国際標準化されました。機器の種類・OS・メーカーなどの垣根を越えて、セキュリティが確保された信頼性の高いデータ交換が行えることから、Industrie4.0の標準通信として推奨され、世界中で普及が広まりつつあります。また、PLCの国際標準 IEC61131-3と整合されており、製造現場の情報を上位の監視制御システムや生産管理システム(MES：Manufacturing Execution System)と高い信頼性でやりとりできる強みがあります。 この流れを受け、タカヤではフライングプローブテスタ APTシリーズにOPC UAサーバを搭載できるオプションをご用意しました。FA機器とITの橋渡しをする産業IoT標準の普及に努めています。