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タカヤ株式会社

設立大正7年(1918年) 9月
資本金10000万
従業員数692名
住所岡山県井原市井原町661-1
電話0866-62-2015
  • 公式サイト
最終更新日:2024/10/29
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フライングプローブテスタ フライングプローブテスタ
RFIDリーダライタ RFIDリーダライタ
ストアセキュリティ ストアセキュリティ
ITソリューション ITソリューション
インサーキットテストの基礎知識 インサーキットテストの基礎知識
フライングプローブテスタの導入事例 フライングプローブテスタの導入事例
フライングプローブテスタのオプション紹介 フライングプローブテスタのオプション紹介
タカヤのRFIDが選ばれる理由 タカヤのRFIDが選ばれる理由
タカヤのストアセキュリティ製品が選ばれる理由 タカヤのストアセキュリティ製品が選ばれる理由
会社概要 会社概要
フライングプローブテスタ

フライングプローブテスタ

超高速検査で実装基板のあらゆる不良を確実に検出し、世界トップシェアの圧倒的実力を誇るフライングプローブ式のインサーキットテスタです。タカヤ株式会社は、世界で初めて『フライングプローブテスタ』を開発/販売した実装基板検査業界のリーディングカンパニーです。

超高速検査で実装基板の不良を検出。進化したインサーキットテスタ

トップクラスの業界シェア!フライングプローブテスタのご紹介

電子機器を制御する基となる電子回路基板は、幅広い分野で使われる重要部品の一つですが、 『フライングプローブテスタ』は、この基板の製造中に生じる様々な不良を いち早く、確実に検出する検査機です。 タカヤ株式会社は、1987年にこの『フライングプローブテスタ』を開発/販売開始しました。 そして、現在でも業界トップクラスのシェアを誇る 実装基板検査機業界の草分け的存在です。 【フライングプローブテスタの特長】 ■様々な部品不良を検出できる測定システム ■超高速/正確なプローブコンタクト制御 ■独自技術の垂直プローブを活用、検査領域を大幅拡大 ■スマートファクトリー対応可能なインターフェース搭載 ■特殊形状基板に対応できる独自機構クランプ ■拡張性を備えたファンクションテスト機能搭載 ■AOI(画像検査)機能搭載 ■+α 大型基板にも対応できる多彩なラインナップ/オプション フライングプローブ方式のインサーキットテスタにご興味のある方、 実装基板の電気検査でお困りの方は是非お問い合わせください。

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フライングプローブテスタ:APT-1340J *評価テスト受付中

業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

従来モデルよりプラットフォームを一新し、プローブ移動速度を最大50%アップさせるとともに、コンタクト位置精度を飛躍的に向上させました。フレキシビリティに富んだ新しい高精度・広範囲測定システムや、画期的な4ヘッド6フライングプローブ機構によって、基板品種・生産量を問わず、実装工程における検査コストの削減・品質向上に多大な効力を発揮します。 ★岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。

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フライングプローブテスタ:APT-1400F-SL*テスト受付中

業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。(検査可能基板サイズ:985×610まで対応)

APT-1340Jの基本性能はそのままに、対応基板サイズをW635×D610mmまで拡大したモデルです。 さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板の検査が可能です。 搭載部品高さ60mm、基板重量10kgまで対応できますので、車載/航空機/医療機器などに使用される基板や、 電源基板・プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。 ★岡山本社のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。 ※製品についてはPDFをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。

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デュアルサイドフライングプローブテスタ:APT-1600FD

上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストを可能にしたフラッグシップモデルです。

基板の上面に4本、下面に2本のプローブを配置。 それぞれが自在に高速移動し、 世界最高水準の驚異的な検査スピードを実現するフラッグシップモデルです。 上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査で 基板の上面・下面の両ポイントへの同時コンタクト検査を可能としました。 検査可能範囲を大幅に拡大し、検査時間のさらなる高速化を実現しています。 豊富な機能を備え、スピードや位置決め精度においても世界最高水準を誇ります。 ★岡山本社のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。

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デュアルサイドフライングプローブテスタAPT-1600FD-SL

上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストが可能です。(検査可能基板サイズ:985×610まで対応)

上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査で 基板の上面・下面の両ポイントにコンタクトが可能な部品の検査を可能としました。 スピードや位置決め精度においても世界最高水準を誇りつつ、 対応基板サイズをW635×D610mmまで拡大したモデルです。 さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板も検査可能です。 搭載部品高さ60mm、基板重量10kgまで対応できますので、車載/航空機/医療機器などに使用される基板や、 電源基板・プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。 ★岡山本社のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。

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【新商品情報】フライングプローブテスタ・RFIDリーダ/ライタ

【1/24~ ネプコン2024出展!】実装基板の超高速検査・RFIDを活用したシステム改善で製造現場の課題解決に貢献します

第38回 ネプコン ジャパンに新商品・新技術を出展します! 〇産業機器事業部 APT-1600FD デュアルサイドフライングプローブテスタ 板上下面にプローブヘッドを配し、裏表同時検査が可能なフラッグシップモデル OPC-UA(OPC Unified Architecture)を用いて、お客様のMES(製造実行システム)と連動、 稼働情報をリアルタイムで収集・管理できる独自ソフトウェア(*初出展) 〇RF事業部 RFID×IoTデータサービス 「RFID作業実績収集システム」 "置くだけ"でICタグのデータをMQTTでクラウドに送信してデータ収集が可能 収集したデータはダッシュボード機能で可視化し、「作業実績の見える化」を実現 リーダライタは自律型のため、HF帯・UHF帯ともに制御用PCやソフト開発が不要 タッチするだけで持出管理を記録 「持出管理システム」 ICタグを活用して、持出・返却履歴を確実に記録、 台帳への記入漏れや記入ミスを防止し 返却忘れや紛失の早期発見をサポート RFIDハンディによる一括読み取りで効率的な棚卸が可能 他にも多数出展予定です。

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【展示会情報】第38回 ネプコン ジャパン 出展製品のご紹介

「第38回 インターネプコン ジャパン」エレクトロニクス製造・実装展 ご来場ありがとうございました。

当日出展しておりました製品の情報をこちらよりご覧いただけます。 〇産業機器事業部  ・フライングプローブテスタ APT-1600FD-A(実装基板検査装置)   前後装置を連動させた無人連続検査   OPC-UA(OPC Unified Architecture)   MES(製造実行システム)と連動   稼働状況をリアルタイム情報収集・管理 〇RF事業部/ソリューション事業部  ・RFID持出管理システム  ・RFID UHF帯 常時監視システム  ・RFIDを活用した作業実績収集/半導体ICタグ読取  ・RFID×IoT データデバイス「RFID 実績収集システム」  ・バーコードから簡単置換え HIDリーダ・キー入力ツール

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『おかやまテクノロジー展 OTEX2023』出展製品のご紹介

『おかやまテクノロジー展(OTEX)2023』ご来場ありがとうございました。出展製品のカタログをご覧いただけます。

2023年11月7日(火)~8日(水)コンベックス岡山で開催の『おかやまテクノロジー展(OTEX)2023』にて、弊社ブースへお越しいただいた皆様、ありがとうございました。 「もう一度、展示内容をじっくり見たい」「関連カタログやパネルを手元で見たい」というご要望にお応えできるよう、タカヤブースでご紹介した製品カタログ・展示パネルを公開しています。ぜひご覧ください。

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【展示会】第37回ネプコンジャパン 出展製品のご紹介

【出展パネル公開】超高速検査で実装基板の不良を検出するフライングプローブテスタ(基板検査装置)・業務改革に貢献するRFID製品

2023年1月25日(水)~27日(金)に 東京ビッグサイトで開催されました「第37回 インターネプコン ジャパン」にて、弊社ブースにお越しいただいた皆様、ありがとうございました。 今回出展製品の資料・展示パネルを公開しております。期間中 会場にお越しいただけなかった方も、当ページより登録いただければ資料を閲覧頂けますので是非、ご活用ください。 今回、産業機器事業部では アンドールシステムサポート株式会社様の共同で、フライングプローブテスタによるバウンダリスキャンテストのデモを実施したこともあり、大変多くのお客様にご興味を持っていただくことができたことを嬉しく思っております。 また、今回が初となる産業機器事業部・RF事業部のコラボ出展で、たくさんの方々に弊社製品を知っていただけたのではないかと思います。 今後もタカヤ株式会社はお客様のご期待に応えられるよう、精一杯努力してまいります。これからもご愛顧賜りますよう何卒よろしくお願い申し上げます。

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【国際標準規格】OPC UA対応 MESシステムとの連携機能

【1/24~ ネプコン2024出展!】産業用機器とMESシステムとの相互接続性を実現!

OPC UA(OPC Unified Architecture)は 産業オートメーションなどの業界で、安全で信頼性あるデータ交換を行うために策定されたオープンな国際標準規格です。OPC Foundationが2008年に発表、その後IEC62541として国際標準化されました。機器の種類・OS・メーカーなどの垣根を越えて、セキュリティが確保された信頼性の高いデータ交換が行えることから、Industrie4.0の標準通信として推奨され、世界中で普及が広まりつつあります。また、PLCの国際標準 IEC61131-3と整合されており、製造現場の情報を上位の監視制御システムや生産管理システム(MES:Manufacturing Execution System)と高い信頼性でやりとりできる強みがあります。 この流れを受け、タカヤではフライングプローブテスタ APTシリーズにOPC UAサーバを搭載できるオプションをご用意しました。FA機器とITの橋渡しをする産業IoT標準の普及に努めています。

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ご来場御礼 電子機器トータルソリューション展2024

電子機器トータルソリューション展2024 / JISSO PROTEC 2024 ご来場ありがとうございました。

2024年6月12日 ~ 6月14日の期間 東京ビッグサイトで開催されました「電子機器トータルソリューション展2024 (JPCA Show 2024) / JISSO PROTEC 2024」にて、タカヤ株式会社ブースにご来場頂いた皆様ありがとうございました。出展した製品の情報を公開しています。内容に関するご質問・ご相談などございましたら、お気軽にお問い合わせください。 また、今回の出展に際し「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システム」で、第20回「JPCA賞(アワード)」を受賞し、本アワード受賞に関する紹介パネルを会場内に展示頂きました。

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第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 発表資料公開

第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 発表資料を公開しています。

第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会は、2024年3月13日(水)~ 15日(金)に 東京理科大学 野田キャンパスにて開催されました。 当講演大会にて、タカヤ株式会社 産業機器事業部 技術部長 柳田 が、「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システムの最新動向」の講演発表を行いました。 その際の発表資料を公開しましたので、下記、関連カタログのページより是非ご覧ください。 -------- 内容 -------- 実装基板の、確実な実装保証を行うためには、電気試験が不可欠です。しかし、1つの検査手法だけでは十分なテストカバレッジを得られません。この課題を解決するために、フライングプローブテスタとJTAGバウンダリスキャンテストを連携したハイブリッド検査システムをご紹介します。それぞれの検査手法の相互補完によって、高密度実装基板のテストカバレッジを最大限拡大でき、より正確な故障診断が可能になります。

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第20回「JPCA賞(アワード)」受賞のお知らせ

第20回「JPCA賞(アワード)」を受賞しました!!

タカヤ株式会社(本社:岡山県井原市井原町、代表取締役社長:岡本 龍二)は、「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システム」で、第20回「JPCA賞(アワード)」(以下、「本アワード」)を受賞しました。 今回 弊社受賞の「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システム」では、フライングプローブテスタとJTAGバウンダリスキャンテストを連携し、それぞれの検査手法の相互補完によって、高密度実装基板のテストカバレッジを最大限拡大でき、より正確な故障診断を可能とする新たなシステムを紹介しています。 本アワード受賞に関する紹介パネルが、6月12日(水)~ 6月14日(金)東京ビッグサイトにて開催される「JPCA Show 2024(電子機器トータルソリューション展 2024)」内にて展示されます。同展示会には弊社も展示ブースを出展し、フライングプローブテスタの実機を展示致します。合わせて、ぜひご覧ください。

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MES2024 に企業ブースを出展します

ES2024 第34回マイクロエレクトロニクスシンポジウムに企業ブース出展します!

タカヤ株式会社は、2024年9 月11日(水)~13 日(金)の3日間、名古屋市南区の大同大学滝春キャンパスにて開催されます『MES024 第34回マイクロエレクトロニクスシンポジウム』に企業展示ブースを出展します。同シンポジウムにご来場の際は 是非、タカヤのブースまでお越しください。 運営事務局 (一社)エレクトロニクス実装学会 〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2 TEL: 03-5310-2010 詳細および最新情報は MES2024 ホームページをご覧ください。

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フライングプローブテスタ APT-2400F

高機能な測定システムと多彩な機能を備え、試作から量産までの品質向上に貢献!

APT-2400F は、高密度実装基板の検査に対応できる業界最高クラスのプロービング精度を誇りつつ、 独自の制御機構・ センシング技術により、あらゆる環境下で信頼性の高い電気検査を実現する、 次世代のフライングプローブテスタです。 岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-2600FD

基板製造に新たな革新。生産効率と検査精度の向上を実現!

APT-2600FD は上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査が行える 次世代のデュアルサイドフライングプローブテスタです。 テストカバレッジ向上と共に、基板反転動作による製品破損リスクを軽減し、検査時間も大幅に短縮します。 高機能な測定システムと多彩な機能を備え、試作から量産までの品質向上に貢献します。 岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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フライングプローブテスタ APT-2400F / 2600FD

【第39回 ネプコンジャパン 国内初出展】高密度実装基板の検査に対応、業界最高クラスの精度!フライングプローブテスタの新モデル

タカヤ株式会社は、超高速検査で実装基板の様々な不良を確実に検出する フライングプローブテスタの新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」を発表します。 微細な部品配置や接続を高精度にチェックできる 最先端クラスの検査技術を搭載し、 わずかな不良やリスクも見逃さず、製品の品質向上を強力にサポートします。 また、当社独自の制御機構とセンシング技術により、 変動しやすい環境下でも信頼性の高い検査を実現し、 リコールリスクの低減といった品質管理への貢献が期待できます。 さらに、誰でも直感的に操作できるユーザーフレンドリーなインターフェースを採用、 特に労働力不足が深刻化する現場において 負担軽減を図りながらも 高い検査精度を確保でき、生産性の向上に寄与します。 ※詳しくはPDF資料をダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。

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フライングプローブテスタ APT-2400F-SL

高機能な測定システムと多彩な機能を備え、試作から量産までの品質向上に貢献!

APT-2400F-SL は、APT-2400F の基本性能をそのままに、対応基板サイズを W635×D610mmまで拡大した大型モデルです。 さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板の検査が可能です。 搭載部品高さ 上面60mm/下面120mm、基板重量15kgまで対応できますので、 車載/航空機/医療機器/電源基板/プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。 岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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デュアルサイドフライングプローブテスタAPT-2600FD-SL

基板製造に新たな革新。生産効率と検査精度の向上を実現!

APT-2600FD-SL は、APT-2600FD の基本性能をそのままに、対応基板サイズを W635×D610mmまで拡大した大型モデルです。 さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板の検査が可能です。 搭載部品高さ60mm、基板重量15kgまで対応できますので、車載/航空機/医療機器/電源基板/プローブカードなど、 サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。 岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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【展示会】第39回 ネプコンジャパンに出展します。

フライングプローブテスタの新モデルを国内初出展!

平素は格別のご高配を賜り、厚く御礼申し上げます。 タカヤ株式会社は 2025年1月22日(水)~ 24日(金) 東京ビッグサイトで開催される「第39回 インターネプコン ジャパン エレクトロニクス製造・実装展」 に出展いたします。 出展予定製品 産業機器事業部 ○フライングプローブテスタ  ・新モデル「APT-2600FD-A」*国内初出展 RF事業部/ソリューション事業部 ○RFID製品 ・RFID × IoTプラットフォーム ・RFID常時監視ミドルウェア ・RFID持出管理システム ・RFID入出庫プラグインパッケージ ぜひ当社ブースにお立ち寄り頂けますよう、宜しくお願い申し上げます。

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