●相対湿度不確かさ：指示値の±0.5％ ●手動操作可能なフルカラースクリーン搭載 ●大型テストチャンバー、複数の棚板オプション ●温度管理されたフルサイズの観測窓 ●チャンバーライト内蔵 ●３つの温度計により管理された開口部 ■CGS-240は、広範囲な相対湿度・温度・流量域で高精度の湿潤空気を連続して発生させるシステムです。CGS-240の設計には、 NISTにて開発された、RHSハイブリッド２温度2圧力法が採用されています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当社は、露点計をはじめとした計測器・校正器を幅広く取り扱っています。 今回はラインアップの中から半導体業界向けの製品をご紹介します。 【製品ラインアップ】 ■CRDS（キャビティリングダウン分光法）簡易型微量分析計「Spark H2O」 　測定濃度0～2000ppm、測定精度±4％ or 検出下限 【水分量の無償測定を実施中です】 微量分析計「Spark H2O」を使用した測定を無償で承ります。 以下の「お問い合わせ」よりお申し込みください。 ※環境によって測定ができない場合がございます。予めご了承ください。 ■オンライン露点計「TK-100ON」 ■高分子式露点計「TE-660TR」 ■ミラー（鏡面冷却）式露点計「MBW973」 ■風速トランスミッター「EE671」 ■ガルバニ式酸素濃度計「2001LC」 ■温湿度計「EE310」「EE08」「EE061」 ■低露点校正器「FPG」 ■温湿度校正器「CGS240」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

■高精度飽和槽による湿度発生 – 高精度を実現 ■持ち運び可能 - 研究・実験・校正室や現場での使用に最適 ■自己完結型 – 基準露点計不要 ■0～-100 ℃の露点 - ほとんどの水分測定機器の動作範囲をカバー ■3つのプローブポート – 様々なプローブの接続径に対応可能 ■初期設定をプログラム可能 – 日々のプロセスを迅速かつ簡単に実行可能 ■基準器用サンプルループ - 基準器との接続が可能 ■水分測定機器との接続：広範囲な露点温度に対応、あらゆるタイプの水分測定機器の校正が可能 ■FPGは、温度・圧力の制御・測定に基き、露点センサーや水分計、ほとんどのタイプの湿度計の精密なテストと校正が可能です。コンパクトで持ち運びが簡単であり、また、研究・実験・校正室や現場での使用に適しています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

● ペルチェ素子による冷却システム ● 高応答性 ● 高精度・高安定性 ● 小型軽量化 ■Model me-40DPは、一定温度の試験空間における湿度環境試験専用機です 。飽和槽温度をペルチェ素子による冷却を行うことにより従来にない小型軽量化を実現した小型調湿発生器です。 空調的な作業環境の調湿というより、小空間の精密な湿度制御に最適です。 応答性を重視し、精密な調湿を必要とする開発技術者、研究者にお勧めです。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

■ 極低露点-120 °C FP ～ +10 °C DP ■ 真空断熱/絶縁飽和槽とコントロールバルブ ■ 電源 100-240 VAC、50-60 Hz ■ ハイブリッド2温度2圧力法による、超高精度の露点発生 ■ デュアル・フロンフリー・クライオクーラー(極低温冷却器) ■ 1～3個の独立した流量制御ガス出力ライン ■ G3霜点発生器は、配管類、圧力レギュレーター、流量レギュレーター、飽和槽を密閉され た真空チャンバー内に封じ込めた低湿度発生器です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。