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元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です！
当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 EELS分析とEDS分析は、TEM試料に加速した電子を照射することで 元素同定を行う分析手法です。 「異なるカーボン膜」の事例では、状態分析が特長である EELS分析手法を用いてナノ領域での膜質評価を行いました。 EDS分析ではスペクトルの比較からBottom膜のみN,Oを微量に検出。 EELS分析では2つのSpectrumのショルダー形状が違うことから 有機膜に配合されているN,OとCの結合状態を比較することが可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
素材ポリアミドイミドやIR装置による分析結果、データ解析などをを分かりやすく掲載！
当資料は、コーティング剤、複合膜構成素材、各種成形品等に使用される スーパーエンプラポリアミドイミド（PAI）膜の変色原因を機器分析、 および反応機構により解明した事例をご紹介します。 素材ポリアミドイミドをはじめ、IR装置による分析結果、データ解析、 および反応機構などを掲載。 製品の製造において、原料となる材料の保存安定性は必須であるが、 加工プロセスにおける環境条件が不具合を誘発させることがあります。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■素材ポリアミドイミドについて ■IR装置による分析結果 ■データ解析、および反応機構 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
検出感度が良好！特に微量成分の定量分析やマップ分析等に優れています
EPMA分析は、エネルギー分解能や検出感度が良く、特に微量成分の定量分析や マップ分析等に優れています。 パッケージ内のAu-1stボンディグで不良が発生した例では、腐食原因物質の 特定と分布状況を確認するため、EDX分析とEPMA分析を実施しました。 EPMAでは分解能、検出下限、P/B（ピークバックグラウンド）比が、EDXより 優れているため、微量のCl分布が明瞭に把握することができました。 【装置仕様】 ■日本電子（株）製 Jeol-8200 ■分析方式：波長分散型X線分析（WDX） ■分析可能元素：B～U ■エネルギー分解能：20eV（EDXは約130eV） ■検出限界：0.01％～ ■最?試料寸法：100×100mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
マイクロATR結晶を密着！赤外線の全反射により表面付近の分析を⾏う⼿法のご紹介です
ATR法によるFT-IRスペクトルをもとに得られたイメージングから、アルミ・ ラミネート・フィルムといった有機多層膜の断面解析を行うことができます。 ATR法（Attenuated Total Reflection）は、分析対象物にマイクロATR結晶を 密着させ、赤外線の全反射により表面付近の分析を行う手法です。 対象物に当てる結晶の屈折率の影響で、見かけの空間分解能が高くなり、 より小さな異物の分析が可能となります。 【ATR法 特長】 ■赤外線の全反射により表面付近の分析を行う手法 ■対象物に当てる結晶の屈折率の影響で、見かけの空間分解能が高くなる ■より小さな異物の分析が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
有機膜の層構成を調べることが可能！高機能多層フィルム断面のイメージングFT-IR分析をご紹介
ミクロトームで薄片化した有機多層膜を透過法によるFT-IR イメージングにて有機膜の層構成を調べることが可能です。 資料では、高機能多層フィルム断面のイメージングFT-IR分析 について写真やグラフを用いてご紹介しております。 【高機能多層フィルム断面のイメージングFT-IR分析】 ■試料：高機能多層フィルム ■測定領域：透過法/反射法 175μm、ATR法 35μm ■空間分解能（ピクセルサイズ）：透過法/反射法 5.5μm、ATR法 1.1μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
有機分子団(官能基)の吸収波長を検出し分析します！
株式会社アイテスでは、樹脂の変質劣化を確認する「FT-IR分析」を 行っております。 樹脂の劣化は、目に見える変色もあれば、見えない変質もあります。 変色では外観変化で把握できますが、見えない変質は強度低下に繋がり、 様々な不具合の起点となります。 IRによる分析は、その変質による分子構造変化を把握する事が可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
加速電圧の違いによる変化を確認！蓄積されたノウハウにより適切な条件で分析！
EDX分析を行う際には元素の検出感度を上げる為に高い加速電圧で分析を 行っている方も多いのではないでしょうか？ しかし目的によっては必ずしも高加速電圧での分析が良いとは限りません。 白色LEDは青色LEDに黄色の蛍光体（粉体）を組み合わせて白色光を発生 させており、今回、この蛍光体について加速電圧を変え面分析を行うと、 どのような違いがあるのか確認しました。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■テスト試料（LED蛍光体） ■加速電圧の違いによる面分析像 ■モンテカルロシミュレーションによる電子線散乱領域からの考察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
LIF、LIFH分光結晶を用いることで、22Tiと56Baのピーク分離が可能になります！
EPMAは、EDXと比較すると検出分解能が優れています。 EDXでは元素の検出位置が近く、ピーク分離が困難な場合であっても、 EPMAであればピーク分離が可能な場合があります。 当資料では、22Tiと56Baのピーク分離についてご紹介。 積層セラミックコンデンサの分析例や、チタン酸バリウム（BaTiO3）の X線スペクトルを掲載しています。 【掲載内容】 ■22Tiと56Baのピーク分離 ・分析例 積層セラミックコンデンサ ・チタン酸バリウム（BaTiO3）のX線スペクトル ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
GC-MS分析やICP-AES分析など！化学分析により比較解析した事例をご紹介しています
液晶パネルに表示不良が発生した場合、再発防止のためその原因を解明する 必要があります。 本資料では、温度負荷によって表示ムラが発生したパネルAと表示不良が 確認されていないパネルBについて、化学分析により比較解析した事例を ご紹介。 アイテスは、観察などの初期解析にて原因が見当たらない場合、 液晶内部の化学分析から原因を探る事ができ、ここで挙げた手法以外にも 試料や目的に応じた分析法をご提案させていただきます。 【掲載内容】 ■信頼性試験（80℃/ドライ条件/1000時間） ■液晶 GC-MS分析 ■液晶内金属元素 ICP-AES分析 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
官能基や骨格構造など、様々な分析手法から情報を得て解析！質量分析ガイドをご紹介
当資料では、質量分析ガイドをご紹介しております。 有機化合物の分析では化合物が有する官能基、骨格構造、質量など、 様々な分析手法から情報を得て解析を行います。 化合物の質量を知る為の分析として様々な手法があり、それぞれ得意な 分析内容や対象があります。また、用途に合わせて使い分けたり、 他の分析手法と組み合わせて使うことで必要な情報を得る事が出来ます。 【掲載内容】 ■質量分析で主に用いられる手法 ・GC-MS ・LC-MS ・MALDI-TOFMS ・GPC ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
結晶構造の違いをもとに、2つの試料の差異を可視化！EBSD分析の事例をご紹介
似たような元素組成をもつ2種類の黄銅材について比較を行った事例を ご紹介いたします。 SEM-EDXでスペクトル分析を行ったところ、黄銅は主としてCu(銅)とZn(亜鉛) から成り、両試料の元素組成は比較的似通っているように見えました。 また、EBSD分析を行い相マップを確認した結果、試料1の⼀部に結晶構造の 異なるβ相が見られました。 【事例概要】 ＜元素分析による2つの黄銅材の比較＞ ■分析方法：SEM-EDXによる分析 ■結果 ・スペクトル分析を行ったところ、黄銅は主としてCu(銅)とZn(亜鉛)から成り 両試料の元素組成は比較的似通っているように見えた ・元素Cuと元素Znについて面分析を行ったが、面内分布に偏りは見られなかった ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試料導入装置と、それぞれの装置が得意とする分析試料や分析内容についてご紹介！
GC-MS分析は有機成分分析や有機構造解析によく用いられる手法です。 付帯装置により溶剤などの低分子からプラスチックなどの高分子まで 幅広い分析対応が可能。 当資料ではアイテスで保有している試料導入装置と、それぞれの装置が 得意とする分析試料や分析内容についてご紹介します。 ぜひご一読ください。 【掲載内容】 ■概要 ■条件 ■試料 ■得られるデータ ■分析例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
異物などの成分分析、定性分析には分光分析が適しています
株式会社アイテスのラマン分光分析とFTIRとの比較についてご紹介します。 異物などの成分分析、定性分析には分光分析が適しています。 ラマンとFT-IRはどちらも分析対象の構造に基づいたスペクトルを 取得する事ができます。 しかし、得手不得手があるため、分析対象に応じて 両者を使い分ける事が必要です。 【特長】 ■IRでは分析困難な数μmオーダーの測定が可能 ■サンプリングが不要 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
各相の多種のマップを表示することも可能！試料の持つ結晶構造の情報を基に解析
Sn-Ag-Cu系はんだとNiPパッド界⾯に形成される化合物の解析例をご紹介 いたします。 NiPパッドとSn-Ag-Cu系はんだの界面には(Ni,Cu)3Sn4や(Cu,Ni)6Sn5等 の化合物が成⻑しており、EDXによる面分析では化合物中にNiやCu、Snの 分布が⾒られます。 EBSD法は試料の持つ結晶構造の情報を基に解析する手法です。 EDXによる元素分析と合わせて解析することで組成を推定することができ、 Ni3Sn4やCu6Sn5の結晶データを代用して解析することが可能な場合があります。 【概要】 ＜EDXによる元素分析＞ ■面分析では化合物中にNiやCu、Snの分布が⾒られる ＜EBSDによる結晶方位解析＞ ■EDXによる元素分析と合わせて解析することで組成を推定することができる ■Ni3Sn4やCu6Sn5の結晶データを代用して解析することが可能な場合がある ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
