現場で即分析。軽量・高性能なXRFで、金属も土壌も瞬時に判別。
SciAps X-200は、軽量・コンパクトながら高性能を誇るポータブルXRF分析装置です。最先端のシリコンドリフト検出器(SDD)と最適化されたX線管設計により、非鉄金属から土壌、RoHS対象物質まで、幅広い材料を迅速かつ高精度に分析可能。スクラップ金属の選別、鉱山探査や環境調査、電子機器の規制対応検査など、多様な現場で活躍しています。ホットスワップ対応のバッテリーやWi-Fi/Bluetooth通信機能により、フィールドでの操作性も抜群。基本パラメータ法やコンプトン正規化法など多彩な校正方式に対応し、ユーザー独自の分析ニーズにも柔軟に対応します。スピードと精度、そして携帯性を兼ね備えたX-200は、現場分析の新たなスタンダードです。
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基本情報
測定方式蛍光X線分析(XRF) X線管最大50kV、200μA、RhまたはAuアノード 検出器20mm² SDD(シリコンドリフト検出器) 分解能< 140eV(Mn Kα線) 重量約1.4kg(バッテリー含む) 寸法238 x 283 x 84 mm ディスプレイ3.5インチ静電容量式タッチスクリーン 通信Wi-Fi、Bluetooth、USB、GPS バッテリーリチウムイオン、ホットスワップ対応 対応業種金属・合金、地質・土壌、RoHS、貴金属、自動車触媒、コーティングなど 校正方式ファンダメンタルパラメータ法、コンプトン正規化法、検量線法
価格情報
2,950,000円
価格帯
100万円 ~ 500万円
納期
※標準45日(通関の所要時間による)
用途/実績例
スクラップ金属の即時判別・分類 → リサイクル業者での非鉄金属の迅速な選別に活用。 土壌・地質調査における重金属分析 → 環境調査会社による鉱山探査や汚染土壌の現場分析に採用。 RoHS対応製品の検査 → 電子機器メーカーでの鉛・水銀・カドミウム等の含有量チェックに使用。
詳細情報
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検出限界表 ※このデータは理想的な条件下での検出限界を示しており、機器モデルやソフトウェア、あらゆる環境から発生する阻害要因により検出感度が下がることがあります。
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日本エリーズマグネチックス株式会社は、磁気応用製品の世界的な権威である米国エリーズマニュファクチュアリングカンパニーによって1969年に設立された、米国エリーズ社100%出資の日本法人です。 現在、当社は各種マグネットセパレーター(磁選機)を始めとして、渦電流非鉄金属選別機(アルミ選別機)、電磁石と永久磁石を組み合わせた特色ある電磁振動フィーダー、各種金属検出機等、種々の磁気応用製品を製造・販売しております。 当社浦安本社には各種テスト機を取り揃え、皆様の様々なご要望に応じた最適な機種選定ができるよう、これらテスト機を使用したサンプルテストも随時行っております。 今後更なる高品位化、高効率化、低コスト化を要求される様々な業界の皆様のご要望にエリーズ製品がお役に立てるよう、更なる努力を続けてまいります。