デモ/分析受付中 画像解析ならではの多様な測定結果！組み合わせ自由自在の粒子供給システム搭載
『S3500 SI』は、高性能カメラによるワイドレンジ測定を実現する 動的画像解析式の粒子形状・粒子径分布（粒度分布）測定装置です。 粒子画像情報から体積ベースおよび個数ベースの粒子径分布を出力。 透明性の高い粒子の場合、光源の光が粒子を透過して撮像結果に 穴抜けが発生しますが、この穴抜けを認識させないで、解析可能です。 【特長】 ■粒子画像情報から体積ベースおよび個数ベースの粒子径分布を出力 ■画像解析ならではの多様な測定結果 ■空洞画像の穴埋め処理 ■「ボケ」た粒子像を自動で除外 ■組み合わせ自由自在の粒子供給システム ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【測定データ例】 ■試料：ガラスビーズとアルミナの混合体 ■粒子径分布：円相当径、最大／最小フェレー径、楕円長径、楕円短径 ■散布図：円相当径、最大／最小フェレー径などに対して、円形度、 アスペクト比などを散布図として表示 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■食品、製薬、化粧品、電子部品、セラミックなど ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
当社は粉粒体物性測定装置の総合メーカーです。「粉粒体」のプロフェッショナルとして常に業界をリードする技術とサービスをご提供します。