【膜厚計の基礎知識 膜厚測定の原理】無料進呈中！膜厚計の選定に役立つ一冊！測定物に合わせた、正しい測定方式が分かる！
膜厚測定の原理では、電磁式・渦電流式・渦電流位相式・ホール効果磁気式・電気抵抗式・蛍光Ｘ線式・電量分析式（電解式）など測定物に合わせた様々な膜厚測定の原理をご紹介します。 【測定の対象】 ■磁性金属（鉄、鋼など）素地上の非磁性皮膜（メッキ、ペイント、樹脂膜など） ■非磁性金属（アルミ、銅、オーステナイト系ステンレスなど）素地上の絶縁皮膜（塗膜、樹脂膜、アルマイトなど） ■Fe上のZn、Cu、Al、Niメッキの膜厚 ■非鉄金属、鉄、絶縁材上のペンキ、プラスチック、セラミックコート ■亜鉛メッキ鋼板上のZnを含む有機系コーティング ■金属、非導電性基板上の金属皮膜 ■Al上のNiメッキ など ※詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問合せください。
この製品へのお問い合わせ
カタログ（2）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
FISCHER 製のポケットサイズの膜厚計から蛍光X線方式の膜厚測定器、分析器からフェライト組織量の検査器や導電性計などを製造、販売するメーカーです。 高品質な膜厚測定器は、ヘルムート・フィッシャー社設立から60年を超える豊富なノウハウや産業経験、そして著名なパートナーとの共同研究の結果です。フィッシャーは適切なアドバイス、きめ細かなサービスと実用的な訓練セミナーを提供し、貴社の有能なパートナーでもあります。 今日、 FISCHER製品は世界中の産業、研究、そしてエンジニアリングのすべてのフィールドで幅広く活用いただいています。
