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株式会社フィッシャー・インストルメンツ

従業員数35名
住所埼玉県草加市神明1丁目9番16号
電話048-929-3455
  • 公式サイト
最終更新日:2023/12/03
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蛍光X線式貴金属分析器「GOLDSCOPE SD 510」

貴金属買い取りに最適

GOLDSCOPE SD 510は、貴金属の非破壊検査用に開発された蛍光X線分析器です。この製品は、ハードウェアおよびソフトウェアがジュエリーや金などの検査要件に適合したモデルです。 貴金属の分析において、重要な機能に絞ったスペックとなっており、高精度かつ高品質な分析装置でありながら、コストパフォーマンスに優れたモデルとなっています。装置のフードが前方に開閉するため、評価PCを装置上に設置することができる省スペースモデルになっています!

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SR-SCOPE DMP30 電気抵抗式膜厚測定器

裏面や内層材の影響を受けずに銅の膜厚を測定

【SR-SCOPE DMP30】は、プリント回路基板上の銅の厚さを迅速かつ高精度に非破壊で、基板裏面にある銅層の影響を受けずに測定することができる電気抵抗式の膜厚測定器。堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、プリント基板表面の銅の膜厚測定に好適。保護等級IP64のアルミ製の筐体、落下などから筐体を保護するソフトバンパー、強化ガラスの液晶ディスプレイを搭載した頑丈な筐体を採用。また、光・音・振動による上下限値設定時のフィードバック通知機能、交換可能なリチウムイオンバッテリー、USBまたはBluetoothによるPC通信を可能としてデータ転送や測定値評価など、数多くの機能を搭載。 ※詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問合せください。

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電磁式・渦電流式の小型膜厚計『DUALSCOPE DMP40』

上位モデルのデュアル式(電磁式・渦電流式)ハンディー型膜厚測定器、様々な測定プローブにより高精度かつ様々な形状に対応

エントリーモデルのDMP20よりも汎用性があり 高機能なデュアル式(電磁・渦電流式)小型膜厚測定器です ■DUALSCOPE DMP40(デュアルスコープDMP40) 素材材料の自動認識と2種類の測定方式(電磁式・渦電流式)により、 鉄・鋼・アルミ・銅などの金属を下地とする数多くの皮膜を測定 バッチ(アプリケーション)設定可能数2,500件、 測定値保存数最大250,000件、 許容値監視にバイブレーションの追加、Bluetooth接続によるデータ通信 などスペックの高いモデル

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電磁式・渦電流式の小型膜厚計『DUALSCOPE DMP20』

精度の高い膜厚測定ができるべーシックなエントリーモデルのデュアル式(電磁・渦電流式)小型膜厚計

プラグインタイプのプローブを数多く取り揃えた小型膜厚測定器です ■DUALSCOPE DMP20(デュアルスコープDMP20) 下地金属を自動認識して2種類の測定方式(電磁式・渦電流式)により、 鉄・鋼・アルミ・銅などの金属を下地とする数多くの皮膜を測定できる

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電磁式の小型膜厚計『DELTASCOPE DMP30』

上位モデルの電磁式ハンディー型膜厚計、広範にラインナップした測定プローブにより高精度かつ様々な形状の測定サンプルに対応

エントリーモデルのDMP10よりも汎用性があり 高機能な電磁式小型膜厚測定器です ■DELTASCOPE DMP30(デルタスコープDMP30) 鉄または鋼などの磁性金属を下地とする亜鉛・クロム・ 銅・錫・塗料・プラスチック・エナメルといった非磁性皮膜の 測定に使用 バッチ(アプリケーション)設定可能数2,500件、 測定値保存数最大250,000件、 許容値監視にバイブレーションの追加、Bluetooth接続によるデータ通信 などスペックの高いモデル

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電磁式の小型膜厚計『DELTASCOPE DMP10』

精度の高い膜厚測定ができるべーシックなエントリーモデルの電磁式膜厚計

プラグインタイプのプローブを数多く取り揃えた電磁式小型膜厚測定器です ■DELTASCOPE DMP10(デルタスコープDMP10) 鉄または鋼などの磁性金属を下地とする亜鉛・クロム・ 銅・錫・塗料・プラスチック・エナメルといった非磁性皮膜の 測定に使用する

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渦電流式の小型膜厚計『ISOSCOPE DMP30』

上位モデルの渦電流式ハンディー型膜厚計、広範にラインナップした測定プローブにより高精度かつ様々な形状の測定サンプルに対応

エントリーモデルのDMP10よりも汎用性があり 高機能な渦電流式小型膜厚測定器です ■ISOSCOPE DMP(イソスコープDMP30) アルミ・銅などの非鉄金属を下地とするペイント、 塗料またはプラスチックやアルミ上のクロムまたは無電解ニッケル (条件付)ならびに陽極酸化皮膜といった絶縁被膜の測定に使用 バッチ(アプリケーション)設定可能数2,500件、 測定値保存数最大250,000件、 許容値監視にバイブレーションの追加、Bluetooth接続によるデータ通信 などスペックの高いモデル

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渦電流式の小型膜厚計『ISOSCOPE DMP10』

精度の高い膜厚測定ができるべーシックなエントリーモデルの渦電流式膜厚計

プラグインタイプのプローブを数多く取り揃えた渦電流式小型膜厚測定器です ■ISOSCOPE DMP10(イソスコープDMP10) アルミ・銅などの非鉄金属を下地とするペイント、 塗料またはプラスチックやアルミ上のクロムまたは無電解ニッケル (条件付)ならびに陽極酸化皮膜といった絶縁被膜の測定に使用

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【展示会出展製品】ハンディータイプ小型膜厚計 『DMPシリーズ』

頑丈なアルミ製筐体で高機能・高精度なハンディー型膜厚計:様々な金属を下地とする数多くの皮膜厚を測定

高機能・高性能なハンディー型膜厚計『DMPシリーズ』は、電磁式と渦電流式、または両方式を搭載した非破壊式で高精度な膜厚計です! 種類豊富な高精度測定プローブと組み合わせ、様々な形状のサンプルに対応します。   【特長】 ■電磁式(磁性金属上の非磁性皮膜を測定)、渦電流式(非磁性金属上の絶縁皮膜を測定)、またはその両方式 ■下地材料とプローブタイプを自動認識 ■簡単なワンハンドオペレーション ■USB Type-CまたはBluetoothによるPC接続(Bluetoothは上位機種のみ) ■種類豊富な高精度プローブ(Fプローブアダプターを装着することで従来のFMPシリーズのプローブも使用可能) ■デジタルプローブ搭載 弊社は幕張メッセで行われる「高機能金属展」に出展いたします。 『DMPシリーズ』も出展いたしますので、ご来場の際はぜひお立ち寄りください。 【展示会概要】 日程:2024年10月29日(火)~31日(木) 会場:幕張メッセ 東3ホール ブース番号:10-60 ※詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問合せください。

  • その他計測器

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蛍光X線式測定器『X-RAY XDV-μ LD』

新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!プリント回路基板やコネクターの複雑形状を短時間で測定が可能

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μLD』は、複雑な形状をより容易に測定 できるよう、測定距離をより長く設計されたロングディスタンスタイプの ポリキャピラリ集光レンズ搭載蛍光X線測定装置です。 非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置。 プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造です。 膜厚測定と素材分析を簡単にセットアップすることができます。 試料(サンプル)との距離が約12mmあるため複雑な形状の段差のある 部品の測定ができるようになります。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)を搭載 従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献します。。 【特長】 ■ロングディスタンスタイプ ■非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置 ■プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造 ■装置ハウジング側面に開口部を設けており大きな基板にも対応 ■XY軸はモーター駆動式でプログラム可能な測定ステージ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 計測・分析装置

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ハイエンドな蛍光X線測定器『X-RAY XDV-μ』

新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!薄膜・多層メッキを短時間で測定!

『X-RAY XDV-μ』は、汎用性が非常に高いエネルギー分散型蛍光X線 測定装置です。 非常に小さい部品や構造部分、複雑な多層膜を、非破壊で膜厚測定と 素材分析が可能。さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、 電動式で切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 半導体やコネクタといった微小な電子デバイスにおける高機能性メッキ表面処理の品質管理に最適なモデルです。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)を搭載 従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献します。 【特長】 ■最小10µmの集光レンズを搭載可  従来では測定できなかった微小部の薄膜メッキでも測定が出来ます。 ■アルミニウムAl(13)からウランU(92)まで、最大24種類の元素を同時測定 ■装置ハウジングの側面に開口部を設けた卓上型装置 ■XY軸はモーター駆動式でプログラマブル、電動式切替のフィルター ■測定方向:上から下 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 計測・分析装置

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蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』

新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!高性能で万能型。研究開発、工程解析、実験室などに好適!

『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や 微量分析ができる蛍光X線式測定器です。 大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検出器に採用。 大口径のコリメーターと組み合わせると非常に大きなカウント数が 得られ、優れた再現性と非常に低い検出限界が実現できます。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)を搭載 従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献します。 【特長】 ■電動ステージ付き ■非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析ができる ■シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用 ■高い凡用性 ■レーザーポイントが測定位置を表示し位置決めが容易 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 計測・分析装置

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『膜厚測定早見表』無料プレゼント!

【180通り以上】膜厚測定したい下地材と皮膜の組み合わせから測定できる測定方式が確認できる一覧表!

株式会社フィッシャー・インストルメンツは60年以上に及ぶ経験と実績をもとに⾼品質・⾼精度な測定機器を提供している専⾨メーカーです。 本資料では当社が測定可能な下地材と皮膜の組み合わせを示し、 その組み合わせの膜厚の測定方式をわかりやすくまとめております。 〈下地材と皮膜の組み合わせの例〉※全187通り掲載 ・鉄xアルミ ・銅×錫 ・ニッケル×金 等 ※詳しくは資料をダウンロード、もしくはお問合せください。

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『膜厚計の基礎知識 膜厚測定で知っておくべきこと』技術資料!

【膜厚測定で知っておくべきこと】無料進呈中!電磁・渦電流式膜厚計で測定する際、影響を与える重要な要素を知り正しく測定しましょう!

電磁式・渦電流式の膜厚計で測定する際に、正しく測定できるように、影響を及ぼす重要な要素をまとめた資料です。 【影響を与える要素】 ■素地材の磁気的特性 ■素地材の電気的特性 ■素地材の厚さ ■測定エリア面積 ■曲率 ■表面粗さ ■その他、 ※詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問合せください。

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電磁式/渦電流式 デュアルスコープ MP0R-FP-BT

持ち運びに便利なポケットサイズで、Bluetooth搭載のデュアル式小型膜厚計(電磁式/渦電流式 両用膜厚計)

デュアルスコープMP0R-FP-BTは、長さ80 cmのプローブが一体となったBluetoothを搭載した小型膜厚計!シンプルな操作性で簡単に測定ができます。ポケットに収まる超小型サイズの非破壊式の膜厚計です。 PCと測定器をBluetooth接続して、都度測定器をデータ転送したり、持ち帰ってから一斉にデータ転送できます。 プローブ先端部にV字型の溝がついているので、パイプ等の筒型の検体測定にも対応。 防錆塗装、造船産業、建物の塗装やアルマイトの膜厚管理などに最適です。

  • その他計測器

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電磁式/渦電流式 デュアルスコープ MP0R-BTA

持ち運びに便利なポケットサイズで機能制限した簡易型で、Bluetooth搭載のデュアル式小型膜厚計

デュアルスコープMP0R-BTA、Bluetoothを搭載した機能制限した簡易版の小型膜厚計!プローブを内蔵化し取扱いを容易にし、シンプルな操作性で簡単に測定ができます。ポケットに収まる小型サイズの非破壊式の膜厚計です! PCと測定器をBluetooth接続して、都度測定器をデータ転送したり、持ち帰ってから一斉にデータ転送できます。 防錆塗装、造船産業、建物やアルマイトの膜厚管理などに最適です。

  • その他計測器

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デュアルスコープ MP0R-BTA&MP0R-FP-BT

持ち運びに便利なポケットサイズで、Bluetooth搭載のデュアル式小型膜厚計(電磁式/渦電流式 両用膜厚計)

デュアルスコープMP0R-BTAおよびMP0R-FP-BTは、Bluetoothを搭載した小型膜厚計!プローブを一体化し取扱いを容易にし、シンプルな操作性で簡単に測定ができます。ポケットに収まる小型サイズの非破壊式の膜厚計です!   PCと測定器をBluetooth接続して、都度測定器をデータ転送したり、持ち帰ってから一斉にデータ転送できます。 防錆塗装、造船産業、建物やアルマイトの膜厚管理などに最適です。

  • その他計測器

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蛍光X線測定装置『X-RAY XULM』

コンパクトで測定サンプルセッティングが簡単な蛍光X線測定装置

『FISCHERSCOPE X-RAY XULM』は、X線源と検出器が測定チャンバーの 下側に配置されており、迅速かつ容易なサンプルのセッティングが 行えるよう設計された蛍光X線測定装置です。 測定室内の高さがあり、大きなサンプルを測定することも可能。 短い時間で再現性精度に非常に優れた測定ができます。 【特長】 ■迅速かつ容易なサンプルのセッティングが行えるよう設計 ■大きなサンプルを測ることも可能 ■測定スポットを100μmレベルまで小さくできる ■比例計数管により比較的高いカウントレートが得られる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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インライン測定システム『X-RAY 5000』

大きな測定エリアを持つ量産品の薄膜測定や合金分析を連続して行うシステム!

『FISCHERSCOPE X-RAY 5000』は、大きな測定エリアを持つ量産品の 薄膜測定や合金分析を非破壊で連続して行うシステムです。 再現性精度は、大きな測定面積、半導体ディテクター、 デジタル信号処理技術により、非常に高いレベルに保たれています。 測定ヘッドはコンパクト設計になっており、製造ラインに直接組み込むことができます。 【特長】 ■大きな測定エリアを持つ量産品の薄膜測定や合金分析を非破壊で連続測定 ■表面温度が非常に高温な物まで(最大500℃まで)測定可能 ■大気中と真空中の両方の雰囲気中で測定可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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蛍光X線測定器『X-RAY 4000シリーズ』

量産工程に組み込む測定オートメーションシステム

『FISCHERSCOPE X-RAY 4000シリーズ』は、生産ラインの現場にて インライン測定できるよう設計されたエネルギー分散型蛍光X線測定器です。 連続した量産工程に組み込んで測定するのに好適。 インライン測定システム用となっており、ユーザーフレンドリーかつ 最小限の設定で素早く実行が出来ます。 コンベアガイドの治具を取り換えて調整することで他の品目を測定可能です。 【特長】 ■プロセスモニタリング:測定値が制限範囲を超えた場合に警告ランプで表示 ■リモートコントロール:タスクプログラム、または外部制御 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』

ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線式測定器!

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。 ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された モデルです。 さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で 切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 【特長】 ■ユーザーフレンドリーな構造 ■革新的なポリキャピラリーレンズを搭載 ■高精度で高分解能な検出感度を実現 ■再校正に必要な時間や労力を大幅に削減可能 ■簡単に膜厚測定と素材分析ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』

電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能です。

『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適です。 全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 【特長】 ■薄膜コーティングの膜厚測定や組成分析に好適 ■機能性多層膜の測定・プリント回路基板などの自動測定 ■小さな測定スポットでも高いカウント数が得られ、高い精度で測定可能 ■高精度かつ長期安定性を有する ■より簡単に膜厚測定と素材分析が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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高性能導電率計『SIGMASCOPE SMP350』

非鉄金属素地の導電率を非接触で測定!広範な種類の測定アプリケーションに有効【原材料の分別や材質検査などに】

『SIGMASCOPE SMP350』は、あらゆる非磁性金属の導電率を測定できる ハンディタイプの高性能導電率計です! 当製品は、導電率をDIN EN2004-1とASTME 1004に準拠した渦電流位相変位感応式で 測定します。この方式は、最大500um厚の塗料やプラスチックコーティングの 下にある非鉄金属素地の導電率を非接触で測定できます。 また、導電率が他の材料特性に関するデータを提供するので、広範な種類の 測定アプリケーションに有効です。 【特長】 ■導電率を迅速に高い精度で容易に測定 ■広範な種類の測定アプリケーションに有効 ■非鉄金属素地の導電率を非接触で測定 ■Windows CE、大型タッチスクリーン、キーボード画面表示 ■ユーザー別に定義可能なユーザーインターフェース ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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携帯式膜厚計『PHASCOPE PMP10 DUPLEX』

塗装と亜鉛層それぞれの厚みが一回の測定で得られる膜厚計【船舶・橋梁などの膜厚管理や検査に】

『PHASCOPE PMP10 DUPLEX』は、 2層コーティング厚み測定用の携帯式膜厚計です。 塗装と亜鉛層それぞれの厚みが一回の測定で得られ、塗装厚と 亜鉛メッキ厚として別々に表示できます。 また、自動下地検知機能により、アルミ下地上の塗装膜厚測定も プローブを変更せずに行えます。 【特長】 ■電磁式・渦電流式・渦電流位相式の3方式を組み合わせ可能 ■自動検知機能によりアルミ板上の塗装膜厚測定もプローブ変更なく測定 ■一度に塗装と亜鉛層それぞれの厚みを測定 ■PCへのデータ転送・統計処理のFischer Data Centerソフト付き ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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電磁式小型膜厚計『PERMASCOPE MP0R』

持ち運びが便利なポケットサイズ!磁性金属上の非磁性皮膜を測定!【船舶・橋梁・建築物等の鉄素地上の塗膜やメッキの膜厚測定に】

『PERMASCOPE MP0R』は、電磁式による磁性金属上の非磁性皮膜(鉄上の塗膜、亜鉛、クロム、銅メッキなど)を測定できる 電磁式小型膜厚計です。 ハンディでコンパクトなため片手操作が可能。 現場で持ち運びながらの測定に好適です。 また、三点式プローブタイプが一体型となった測定器「MP0R-FP-V1GB2」も ご用意しております。 【特長】 ■持ち運びが便利なポケットサイズ ■ハンディでコンパクトなため片手操作が可能 ■読み取りやすい前面と上部の2画面デジタル表示 ■日本語の操作画面 ■電磁式による磁性金属上の非磁性皮膜を測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』

集光レンズタイプの蛍光X線式測定器!回路基板や微細構造部分の分析・測定に特別設計されたモデル!

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』は、大型プリント回路基板と 部品の微細構造部分の素材分析および膜厚測定に特別設計された 集光レンズタイプ蛍光X線式測定装置です。 革新的なポリキャピラリ―レンズの採用により、非常に小さな 測定スポットにおいても大きな励起強度を得ることが可能。 また、フィッシャーのFP法により校正なしで単体サンプルや多層膜の 分析ができます。 【特長】 ■大型プリント回路基板と部品の微細構造部分の素材分析・膜厚測定 ■ポリキャピラリ―レンズの採用 ■非常に小さな測定スポットにおいても大きな励起強度を得ることが可能 ■校正なしで単体サンプルや多層膜の分析ができる ■ユーザフレンドリーな卓上型 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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蛍光X線式測定器の自動化システム『XDV-μ SEMI』

お客様に合わせたカスタマイズが可能!クリーンルーム環境にも適用します!

『XDV-μ SEMI』は、微小部膜厚測定にすぐれたエネルギー分散型 蛍光X線測定装置です。 当製品の測定では、信頼性のある高精度な測定が可能なため、ナノスケールの UBMメッキ、C4はんだバンプ、鉛フリーはんだ銅柱、極小ランディングパッドや 2.5D/3Dパッケージソリューションなどの膜厚測定と組成分析ができます。 【特長】 ■自動化による安全性 ■お客様に合わせたカスタマイズが可能 ■きめ細やかなユーザビリティとメンテナンス性 ■別々の端末で構成されているため操作がしやすい ■クリーンルーム環境にも適用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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蛍光X線式測定器『XDLシリーズ』

簡単に膜厚測定と素材分析ができる汎用性の高い膜厚測定・素材分析装置です。

『XDLシリーズ』は、汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。 当シリーズは、量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析に好適な装置です。 高精度かつ長期安定性をもち、再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。 また、FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 【特長】 ■膜厚測定や組成分析に好適 ■再校正に必要な時間や労力を大幅に削減 ■より簡単に膜厚測定と素材分析ができる ■使いやすく設計されたユーザーフレンドリーな卓上型 ■ハウジングの両サイドがスリット状になっており、大きな板状サンプルも測定可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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蛍光X線式測定器『XANシリーズ』

膜厚測定や素材分析用の蛍光X線分析装置!非破壊式で簡単に素早く測定!

『XANシリーズ』は、貴金属・歯科用合金・ホワイト ゴールド・銀・ ロジウムなど、あらゆる宝飾用合金やコーティングを非破壊式で簡単に素早く 測定することができる蛍光X線式測定器です。 わずか数秒で測定試料の構成元素が正確に確認することができます。 試料の設置を単純化させるため下側からX線を照射させるタイプとなっており、 サンプルの配置が簡単に早くできるようになっています。 【特長】 ■わずか数秒で測定試料の構成元素を正確に確認 ■下側からX線を照射させるタイプ ■サンプルの配置が簡単に早くできる ■誰でも操作ができる ■レポートの印刷も簡単 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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高性能導電率計『SIGMASCOPE SMP350』

非鉄金属素地の導電率を非接触で測定!広範な種類の測定アプリケーションに有効

『SIGMASCOPE SMP350』は、あらゆる非磁性金属の導電率を測定できる ハンディタイプの高性能導電率計です。 当製品は、導電率をDIN EN2004-1とASTME 1004に準拠した渦電流位相変位感応式で 測定します。この方式は、最大500um厚の塗料やプラスチックコーティングの 下にある非鉄金属素地の導電率を非接触で測定できます。 また、導電率が他の材料特性に関するデータを提供するので、広範な種類の 測定アプリケーションに有効です。 【特長】 ■導電率を迅速に高い精度で容易に測定 ■広範な種類の測定アプリケーションに有効 ■非鉄金属素地の導電率を非接触で測定 ■WindowsTM CE、大型タッチスクリーン、キーボード画面表示 ■ユーザー別に定義可能なユーザーインターフェース ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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真偽判定検査装置『SIGMASCOPE GOLD B』

保護フィルムの上からでも測定可能!非破壊で金インゴット・コインを真偽判定!

『SIGMASCOPE GOLD B』は、約18mmまでの厚みのある金インゴットを測定可能な 金インゴット・コインの真偽判定検査装置です。 従来の破壊式測定器では、貴金属の価値そのものを喪失してしまいますが、 当製品は非破壊で金インゴットやコインが純金であるかを測定可能です。 金インゴットを両面から測定する際に、その深さ全体を測定することができるため 純金であるか合金であるかの真偽判定ができます。 【特長】 ■金インゴットを測定 ■偽造品であるかを判定 ■純金であるか合金であるかの真偽判定 ■3つの測定レンジから選択可能 ■保護フィルムの上からでも測定可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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電磁式・渦電流式膜厚計用のプローブ代表例

100種類を超える多数のプローブで様々なアプリケーションニーズにお応えします!

当社が取り扱う「電磁式・渦電流式膜厚計用のプローブ代表例」をご紹介します。 当社では特注を含め、100種類を超える多数のプローブで様々なアプリケーションの ニーズにお応えします。 また、電磁式か渦電流式どちらかの1方式専用・複数方式共用・渦電流位相方式・ 厚膜向けホール効果磁気式・曲面補正・電導率補正・温度補償付など あらゆる方式を取り揃えています。 詳細はフィッシャー社の専門員までお問い合わせください。 【電磁式・渦電流式膜厚計用のプローブ代表例(抜粋)】 ■電磁式プローブ(鉄・磁性金属下地上の非磁性膜むけ)  ・FGAB1.3  ・FGABI1.3-150 ■渦電流式プローブ(非鉄金属上の絶縁膜)  ・FTA3.3  ・FAW3.3 ■両用・二層タイプ(電磁式・渦電流式共用)  ・FD10 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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携帯式膜厚計『PHASCOPE PMP10 DUPLEX』

塗装と亜鉛層それぞれの厚みが一回の測定で得られる膜厚計をご紹介!

『PHASCOPE PMP10 DUPLEX』は、自動車産業向けの測定タスクに特化させた 2層コーティング厚み測定用の携帯式膜厚計です。 塗装と亜鉛層それぞれの厚みが一回の測定で得られ、塗装厚と 亜鉛メッキ厚として別々に表示できます。 また、自動下地検知機能により、アルミ下地上の塗装膜厚測定も プローブを変更せずに行えます。 【特長】 ■電磁式・渦電流式・渦電流位相式の3方式を組み合わせ可能 ■自動検知機能によりアルミ板上の塗装膜厚測定もプローブ変更なく測定 ■一度に塗装と亜鉛層それぞれの厚みを測定 ■PCへのデータ転送・統計処理のFischer Data Centerソフト付き ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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電磁式小型膜厚計『PERMASCOPE MP0R』

持ち運びが便利なポケットサイズ!電磁式:磁性金属上の非磁性皮膜を測定!

『PERMASCOPE MP0R』は、電磁式による磁性金属上の非磁性皮膜(鉄上の銅や亜鉛メッキ、塗装等)を測定できる電磁式小型膜厚計です。 ハンディでコンパクトなため片手操作が可能。 現場で持ち運びながらの測定に好適です。 【特長】 ■持ち運びが便利なポケットサイズ ■ハンディでコンパクトなため片手操作が可能 ■読み取りやすい前面と上部の2画面デジタル表示 ■日本語の操作画面 ■電磁式による磁性金属上の非磁性皮膜を測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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破壊式膜厚計『COULOSCOPE CMS2』

アノード溶出による電解式(電量分析式)に沿って測定!取り扱いがシンプル!

『COULOSCOPE CMS2』は、あらゆる素地(下地材料)にある、多層を含む 金属皮膜の厚みを測定できる電解式(電量分析式)の破壊式膜厚計です。 大型で高解像度のカラーディスプレイを搭載。 多様な言語と測定単位が選択可能です。 また、DIN EN ISO2177およびASTM B764-04、DIN EN 16866に準拠したSTEPテストに対応。多層皮膜の電位差を同時測定ができる「COULOSCOPE CMS2 STEP」もご用意しております。 【特長】 ■多層を含む金属皮膜の厚みを測定 ■取り扱いがシンプル ■オペレーターガイダンスによりサポートされた操作性 ■電気めっき産業における理想的なソリューション ■約100種類にもおよぶ所定の測定用アプリケーションが装備 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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『ハンドヘルド型蛍光X線式測定器XAN500』持ち運び可能!

高精度かつ高い検出感度!現場で素早く非破壊で検査します【携帯可能な蛍光X線式の膜厚測定・素材分析機器】

『ハンドヘルド型蛍光X線式測定器XAN500』は、携帯可能な蛍光X線式の 膜厚測定および素材分析機器です。 シリコンドリフト検出器搭載により、高精度かつ高い検出感度を実現。 品質管理、受け入れ検査、工程管理に適した装置で、小型部品や複雑な 形状の測定にも対応できます。 高精度で長期安定性がFISCHERSCOPE X-RAYシステムの大きな特長で、 キャリブレーションの頻度が少なく済むため、時間と手間が削減できます。 【特長】 ■現場に携帯し測定できる ■シリコンドリフト検出器搭載 ■高精度かつ高い検出感度 ■小型部品や複雑な形状の測定にも対応 ■時間と手間が削減できる 対象例:貴金属・金属・メッキ関連 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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マルチ測定システム『FISCHERSCOPE MMS PC2』

膜厚測定と材料試験を1台で測定することが可能なマルチ測定システム

『FISCHERSCOPE MMS PC2』は、様々な測定方式による膜厚測定を 1台で可能とし、品質管理が重視されるあらゆる分野で使用されている 卓上型マルチ測定システムです。 膜厚、伝導率、フェライト組織量などに測定に関して、高精度で 繰り返し精度の高い測定を提供します。 また8種類のモジュールボード搭載可能で、プローブ交換することにより様々な測定が可能です。 【特長】 ■多くの測定アプリケーションに応用可能 ■あらゆる分野で活躍 ■高い汎用性 ■膜厚測定と材料試験を1台で測定可能 ■USBポート、RS232接続によるデータ転送が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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『膜厚計の基礎知識 膜厚測定の原理』メッキ、塗装、宝飾等で活躍!

【膜厚計の基礎知識 膜厚測定の原理】無料進呈中!膜厚計の選定に役立つ一冊!測定物に合わせた、正しい測定方式が分かる!

膜厚測定の原理では、電磁式・渦電流式・渦電流位相式・ホール効果磁気式・電気抵抗式・蛍光X線式・電量分析式(電解式)など測定物に合わせた様々な膜厚測定の原理をご紹介します。 【測定の対象】 ■磁性金属(鉄、鋼など)素地上の非磁性皮膜(メッキ、ペイント、樹脂膜など) ■非磁性金属(アルミ、銅、オーステナイト系ステンレスなど)素地上の絶縁皮膜(塗膜、樹脂膜、アルマイトなど) ■Fe上のZn、Cu、Al、Niメッキの膜厚 ■非鉄金属、鉄、絶縁材上のペンキ、プラスチック、セラミックコート ■亜鉛メッキ鋼板上のZnを含む有機系コーティング ■金属、非導電性基板上の金属皮膜 ■Al上のNiメッキ   など ※詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問合せください。

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電磁式/渦電流式 両用膜厚計 デュアルスコープ MP0Rシリーズ

電磁式、渦電流式の両測定方式を搭載したポケットサイズ膜厚計!

デュアルスコープMP0Rシリーズは、プローブを一体化し取扱いを容易にした、非破壊式のポケットタイプ膜厚計です。下地材を自動で認識して、電磁式と渦電流式を自動切換えして簡単に測定できます。非常に優れた繰返し精度を実現します! 防錆、塗装産業、造船産業、建築構造物等の塗膜管理やアルマイトの膜厚管理などに最適です。

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膜厚測定 総合カタログ

フィッシャーの製品ラインは、幅広い領域の測定・分析装置に及んでいます。

フィッシャーの製品ラインは、極めて様々なアプリケーションと様々な業界を対象とした、幅広い領域の測定・分析装置に及んでいます。最適の精度で正しい結果を得るために、それぞれにふさわしい測定方法を使用します。電磁式または渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、あるいは蛍光X線式など、いずれの方式でもフィッシャーは適正な技術を持ちベストなソリューションをご提供いたします。

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蛍光X線式測定器『XDALシリーズ』

非破壊で膜厚測定と素材分析ができる!品質管理や生産管理における測定にも好適!

『XDALシリーズ』は、微小部品や複雑な構造部品を非破壊で膜厚測定と 素材分析をするのに好適な蛍光X線式測定器です! また、プログラム可能な電動式XYステージを搭載しており、自動測定で 品質管理や生産管理における測定にも適しています。 さらに当シリーズは、FISCHERSCOPE X-RAYシステムの特長である 高精度かつ長期安定性により再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。 【特長】 ■微小部品や複雑な構造部品を測定可能 ■非破壊で膜厚測定や素材分析ができる ■プログラム機能付き電動式XYステージを搭載 ■品質管理や生産管理における測定にも好適 ■再校正(キャリブレーション)に必要な時間や労力を大幅に削減 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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蛍光X線方式膜厚測定器 XULM

測定チャンバの下にX線源と検出器を配置しており、測定物を簡単かつ直接ポジショニング

X線源と検出器が測定チャンバ―の下側に配置されており、迅速かつ容易なサンプルのセッティングが行えるよう設計されています。 コンパクトな設計ですが、量産品の測定用に設計されており、大きなサンプルを測ることもできます。

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渦電流位相式膜厚計『PHASCOPE PMP10』

電気メッキ産業やプリント回路基板(PCB)産業における品質管理に好適な測定装置!

『PHASCOPE PMP10』は、さまざまな基板の金属皮膜の測定が可能な 渦電流位相式膜厚計です。 渦電流位相式(過電流位相変位感応式)を採用。 表面の粗い膜や小型部品、スルーホール内の銅メッキなどの膜厚測定に適しています。 また、粗い表面の測定においても影響が少なく正確に測定ができ、 完全にプローブが対象となる試料の表面に密着せずとも測定が可能です。 【特長】 ■粗い表面の測定においても影響が少なく正確に測定できる ■渦電流位相式(過電流位相変位感応式)を採用 ■プローブが対象となる試料の表面に密着せずとも測定可能 ■鉄上のニッケル層の膜厚の測定に好適 ■PCへのデータ転送・統計処理のFischer Data Centerソフト付き ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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貴金属用全自動判別分析機器

貴金属買取ビジネスに最適!専門知識が無くても金・プラチナ等の含有量を正確に分析できます。卓上型エネルギー分散方式蛍光X線分析器

金・プラチナ・ロジウムめっき品等の貴金属買取ビジネスに新提案! 卓上型エネルギー分散方式蛍光X線分析器 ■□■特徴■□■ ■貴金属全般・金・プラチナ・銀・ロジウム・ホワイトゴールド・ イエローゴールド・コイン等あらゆるジュエリー用の合金およびコーティングを 迅速に非破壊で分析するために最適化された製品 ■正確・安全で使い易く頑丈でメンテナンスフリー ■DIN ISO 3497およびASTM B 568に準拠 ■高速パルスプロセッサーと連動した高解像度半導体検出器によって、 精度が極めて高いと共に検出限界を非常に低く抑える事ができる

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コンパクト型蛍光X線方式測定器 XANシリーズ

下から照射型でコンパクト設計の蛍光X線膜厚・素材分析装置です。測定物を直接ポジショニング。

■ 測定方向が下側から照射されるため、サンプルのポジショニングが容易 ■ シリコンドリフト検出器搭載により、高分解能・高感度な測定が可能(XAN250、XAN252) ■ コンパクト設計 ■□■ラインナップ■□■ ■FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 (X線検出器:PINタイプ) ■FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250(X線検出器:SDDタイプ) ■FISCHERSCOPE X-RAY XAN 252(X線検出器:SDDタイプ)

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