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FT-IRとEDXによる有機・無機複合材の分析についてご紹介いたします。 ペットボトルラベル表面の光沢がある部分と無い部分におけるFT-IR測定を 行い、光沢部分と光沢の無い部分ではIRスペクトルが異なりました。 また、光沢がある部分と無い部分におけるSEM-EDX測定を行い、EDXスペクトル と反射電子像を得たところ、光沢の無い部分は光沢部分と異なり硫黄(S)、 バリウム(Ba)が検出されました。 【分析内容】 ■FT-IRを用いる有機物分析 ・ペットボトルラベル表面の光沢がある部分と無い部分におけるFT-IR測定 ■SEM-EDXによる無機物分析 ・光沢がある部分と無い部分におけるSEM-EDX測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
ICP発光分析によるLIB正極材活物質の組成分析についてご紹介いたします。 リチウムイオン電池(LIB)の正極材は電池の電圧やエネルギー密度に 関与する重要な構成要素の一つであり、正極材の組成は電池の性能に 大きく関与。 ICP発光分析は液体試料中に何の元素がどれくらい含まれているかを 分析することが出来ます。 【特長】 ■約70種類の元素の定性・定量分析が可能 ■試料に含まれる添加剤や不純物の定性・定量分析、RoHs指令物質等の 定量分析など、様々な分析に適用可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
FIB-SEMのSlice＆View機能を用いた、故障箇所の三次元再構築について ご紹介いたします。 構造物の連続SEM画像を取得し、得られた像を三次元構築ソフト(Avizo)で、 SEM画像間のパターンの位置ズレを補正し立体的に可視化。 故障箇所に対して断面出しをする位置特定技術とSlice＆View機能を 組み合わせることで不良状態を保持して異常部前後の情報を含めた 連続SEM画像を取得することができます。 【掲載内容】 ■Slice＆Viewと三次元再構築について ■OBIRCHにより特定した故障箇所の連続SEM観察と三次元再構築 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
株式会社アイテスでは「光学フィルムの解析」を行っております。 スマートフォン等に使用される光学フィルムはその構造と材質によって 様々な機能を有しています。 角度可変分光光度測定にてのぞき見防止フィルムの透過特性を調査し、断面 観察及びラマン分析によって機能発現の仕組みを解析することができます。 【特長】 ■光学特性の測定 ■機能発現のメカニズム解析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
当社では、前面ガラス窓の恒温恒湿槽とカメラを用いて、画面表示などの 動作状態を撮影・監視を行いながらの環境試験に対応します。 恒温恒湿槽などを用いた環境試験中に試験対象物の状態確認のため、 ロガーなどを用いたモニタリング(電圧・電流・抵抗、温度等)を 行う事は広く行われています。 ロガー等でのモニタリングが困難なサンプルに対して、前面ガラス窓の オプションを装備した恒温恒湿槽とカメラ・監視ソフトを組み合わせ、 試験中の試験機器の状態を撮影・監視を行いながら環境試験を行います。 【液晶パネルを監視した場合の例】 ■一定間隔で撮影を行うインターバル撮影 ■状態の変化を検知し撮影を行う、動体検知での撮影 ■インジケーターランプの監視も可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
Sn-Ag-Cu系はんだとNiPパッド界⾯に形成される化合物の解析例をご紹介 いたします。 NiPパッドとSn-Ag-Cu系はんだの界面には(Ni,Cu)3Sn4や(Cu,Ni)6Sn5等 の化合物が成⻑しており、EDXによる面分析では化合物中にNiやCu、Snの 分布が⾒られます。 EBSD法は試料の持つ結晶構造の情報を基に解析する手法です。 EDXによる元素分析と合わせて解析することで組成を推定することができ、 Ni3Sn4やCu6Sn5の結晶データを代用して解析することが可能な場合があります。 【概要】 ＜EDXによる元素分析＞ ■面分析では化合物中にNiやCu、Snの分布が⾒られる ＜EBSDによる結晶方位解析＞ ■EDXによる元素分析と合わせて解析することで組成を推定することができる ■Ni3Sn4やCu6Sn5の結晶データを代用して解析することが可能な場合がある ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
当社にて、ひずみゲージを用いて吸湿乾燥時のひずみの挙動を 調べた結果についてご紹介いたします。 加湿により吸湿して膨張し除湿により乾燥して収縮して元に戻りひずみも 加湿前の状態に戻る様子が観測されました。 FR-1横については、加水分解により材質の化学構造が変化したため 元の状態に戻らなかったものと推察されます。 【試験概要】 ■85℃50％⇒85℃85％⇒85℃50％ ■試験材料 ・FR-1 紙フェノール(片面板) ・FR-4 ガラスエポキシ(片面板) ■ひずみゲージ ■複合材料用箔ひずみゲージ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
当社で行っている「顕微FT-IRイメージング測定」について ご紹介いたします。 指定した面内において物質の分布状態を二次元画像として可視化可能。 通常の点測定だけでは難しいような物質の分布状態の変化の様子を 可視画像にて評価することが可能になります。 【イメージング測定に適した分析】 ■物質の拡散状態の評価(混合物における物質の混ざり具合、不純物の 存在する箇所の評価など) ■分子構造変化の評価(樹脂製品における表面から内部にかけての 酸化度合の評価など) ■サンプリングが難しい微小異物の定性分析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
当社では、「CP加工装置Arblade5000_ワイドエリア断面ミリング」を ご提供しております。 「Arblade5000」は、高ミリングレートとワイドエリア断面ミリング機能を 組み合わせることで広範囲の加工が可能。 ワイドエリア断面ミリングホルダにより断面ミリング加工幅を最大10mmまで 拡張できるため、広領域ミリングが必要とされる電子部品などに有効です。 【特長】 ■約2倍の幅広加工が可能 ■局所的であった観察範囲を大幅に広げることが可能となった ■冷却温度調整機能付きでイオンビーム照射による温度上昇も制御できる ■観察可能範囲は約8mm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
当社で行っている「ディスクリート半導体のIOL試験」について ご紹介いたします。 常温環境下にて通電ON/OFFを繰り返し行い、通電時のデバイス自身の発熱により 温度変化によるストレスをデバイスに加えます。 通電OFF時(冷却時)はファンによる強制冷却も行います。 【調整条件】 ■上昇温度：125℃ ■加熱時間：5分 ■冷却時間：5分 ■ファンの駆動時間：2分 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
薬液処理による⾦属組織観察についてご紹介します。 ⾦属試料の薬品処理を⾏う事で⾦属組織を明瞭に観察する事が可能。 組織を観察する事で試料の状態や熱、応⼒などの印加履歴などが確認出来る 事があり、組織形状から製品の出来具合や不具合調査の⼿がかりが得られます。 掲載カタログにて、アルミニウム板のマクロ組織や銅端子のロウ付部 などの⾦属組織観察の詳細をご覧いただけます。 また、その他、断⾯観察や各種分析サービスも御座います。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【掲載内容】 ■アルミニウム板のマクロ組織 ■銅端子のロウ付部 ■真鍮ネジ ■SUS棒の溶接部 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
「顕微FT-IR」には、大きく分けて「透過法」「反射法」「ATR法」の 3つの測定法があります。 FT-IRと光学顕微鏡を組み合わせた「顕微FT-IR」ではアパーチャ(視野絞り) によって通常のFT-IRでは測定困難な数十μm程度の微小物質も 測定することが可能。 顕微FT-IR測定において透過法が基本的な測定法ですが、試料の形状や サンプリングの可否などによっては反射法やATR法が適していることも あります。 【測定法の特長】 ■透過法 ・試料に赤外光を照射し、透過した光を測定する ・赤外光が透過した厚み分の情報が得られる ■反射法 ・試料に赤外光を照射し、反射した光を測定する ・試料の極表面の情報が得られる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
当社で行った「機械研磨による半導体の観察例」をご紹介いたします。 メリット、デメリットはありますが、FIBやCPに劣らぬ断面作製が 機械研磨でも可能。 当社では長年、蓄積されたノウハウを元に、観察目的や試料の組成、構造に 応じてより適切な処理方法をご提案いたします。 お困りごとなど御座いましたら下記までお気軽にお問い合わせください。 【観察例】 ■半導体_Si ■化合物半導体_GaN ■化合物半導体_GaP ■化合物半導体_GaAs ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社で行った「冷熱衝撃試験のひずみ測定」についてご紹介いたします。 冷熱衝撃試験装置にひずみゲージを貼り付けたサンプルをセットし、 ひずみゲージの配線は槽外のデータロガーに接続して試験中のひずみデータを リアルタイムで記録。 二種類の銅張積層板について、冷熱衝撃試験中のひずみ挙動を観測し、 温度の変化に伴い大きなひずみが生じることが観測されました。 FR-1はFR-4に比べ、生じるひずみがより大きいことが分かりました。 【試験条件】 ■温度サイクル：-30℃から120℃ ■各温度さらし時間：30min ■試験材料 ・FR-1 紙フェノール(両面版) ・FR-4 ガラスエポキシ(両面版) ■ひずみゲージ：プリント基板用箔ひずみゲージ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社で行ったレーザー回析による正極活物質の粒径測定の事例を ご紹介いたします。 気中または液中で、粒子にレーザー光を照射し、粒子により散乱される 光の強度の角度依存性を測定。散乱光強度の角度依存性を測定し、 そのデータから粒子径分布(粒度分布)が算出されます。 市販の試薬を試料として使用し、溶媒に分散させず、乾式で測定を実施。 NMC酸化物の粒径測定結果では、粒子径が数十μm以下の単分散状態と なっており、メジアン径は12μmと算出されました。 【事例概要】 ■測定方法 ・乾式 ■NMC酸化物の粒径測定結果 ・粒子径が数十μm以下の単分散状態 ・メジアン径は12μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社で行った基板実装部品の断面観察例をご紹介いたします。 市販のパソコン基板を用いて、実装部品のはんだ接合部や部品内部の構造を 金属顕微鏡で観察。金属顕微鏡の観察モードには、明視野観察、暗明視野観察、 偏光観察等があります。その他、透過光による観察等もあり、試料に合わせて 観察モードを選択します。 信頼性試験前後に断面観察を行うことで製品の信頼性を評価することが できます。観察する際は、はんだ接合界面の状態やクラック等の欠陥部を 明確に捉えるために、好適な「観察モード」を選択することが重要です。 【事例概要】 ■市販のパソコン基板を使用 ■実装部品のはんだ接合部や部品内部の構造を金属顕微鏡で観察 ・観察モード：明視野観察、暗明視野観察、偏光観察等 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社で行っている、ポアソン比測定についてご紹介します。 ポアソン比とは、物体に荷重を掛けた際に生じる縦方向と横方向の ひずみの比であり、材料の強度計算等において必要になるものです。 引張試験によるポアソン比測定、強度測定に対応いたします。 お気軽にご相談ください。 【測定事例】 ■引張試験機を用いた測定 ■ひずみ測定結果とポアソン比計算結果 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社で取り扱う『基板実装部品の各種断面観察』をご紹介いたします。 身の回りにある様々な電子機器の内部には、電子部品が搭載された 基板があります。実装基板を観察すると、多数の部品が所狭しと はんだ接合されているのが分かり、部品が正しく接合されていないと 正常に動作しないため確認が必要です。 信頼性試験前後の観察や断面観察をご検討の際はお問い合わせください。 【観察例(一部)】 ■セラミックコンデンサ ■トランジスタ ■チップ抵抗 ■QFP ■コネクタピン ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。 【特長】 ■結果が得られたデータのみ報告 ■結果報告は最大2手法まで ■3手法以上の結果報告をご希望の場合は、別途費用が発生 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社では、FPDを様々な角度から徹底評価、検証いたします。 構造解析では、FPD製品・先端技術が組み込まれた製品に対して、特性・構造上 の潜在的問題点がないかを評価し、ご報告。不良解析では、増え続ける 海外調達品の製品不良に対して最短ルートでアプローチ・原因究明いたします。 また、信頼性試験では、お客様の目的、必要性に応じて、豊富な ノウハウにより好適な信頼性試験手法・条件のご提案を行います。 【当社の強み】 ■解決する力 ・液晶製造工程を熟知した解析手法のご提案 ■つきとめる力 ・技能深い洞察力と高度かつサブミクロンレベルの微細な試料加工技術 ■特化した設備 ・多様な分析機器を組み合わせた考察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
COG実装の導電粒⼦形状観察についてご紹介します。 ICと液晶パネルはACF(異⽅性導電フィルム)を⽤いたCOG⽅式により実装。 核に樹脂ボールを使⽤し、その表面に導電のための⾦属層(ニッケルや⾦など) が成膜されており、接続時に粒⼦が適度に変形し、ICとパネルを電気的に接続。 粒⼦の変形具合や接続状態を確認するため、断面観察を⾏ったところ、 粒⼦変形量は「中」であり、適度な変形具合であることがわかりました。 平面⽅向と断面⽅向から導電粒⼦の変形具合を確認することで表⽰不良との関連性 を探ることができます。パネル関連の不具合調査はお気軽にご連絡ください。 【概要】 ■実装されたICでは、わずかに「反り」や「傾き」により、IC端部と中央部 で粒⼦の変形量に差が⽣じ、表⽰不良の原因となる場合がある ■平面⽅向と断面⽅向から導電粒⼦の変形具合を確認することで表⽰不良との 関連性を探ることができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電源が入らなくなった家電のスイッチ部にて故障が推測されたことから、 解析事例を作業フローと共に紹介します。 最初に外観の観察にて、膨れや⻲裂、変⾊などの形状変化がないか確認。 電気的な確認では不具合が再現されるか確認したりオープンなのか ショートなのか等を確認します。 X線での内部観察を行い、スイッチ内部の接点端子が溶融、 ⾶散し消失した事によるオープン不良と判明しました。 最終的には原因考察も含め報告書として提出させていただきます。 また非破壊検査後の解析相談も承っておりますので、お気軽にご相談ください。 【非破壊観察の基本】 ■その1：外観確認 ■その2：電気的な確認 ■その3：X線での内部観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社では、UV硬化性樹脂のUV照射前後のスペクトルを 解析しております。 UV硬化樹脂(アクリル系)に紫外線を照射し、照射前後の ラマンスペクトルを取得。 ラマンスペクトルの解析により硬化反応がある程度推定可能です。 より詳しい硬化モード硬化解析のためにはGCMS等の分析が必要ですが 当社ではスペクトル解析により、構造推定だけでなく、反応の推定まで 対応いたします。 【ラマンスペクトル解析 特長】 ■硬化反応がある程度推定可能 ■構造推定だけでなく、反応の推定まで対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
不織布シートの最大孔径、細孔分布を、バブルポイント法を用いて 評価した例を紹介します。 試料を薬液に浸漬し空気圧を加えます。圧力を加え、シートに染み込んだ薬液の 表面張力に打ち勝ち、気泡の出現が生じたときの圧力をバブルポイントといいます。 最大孔径は、バブルポイントの圧力、薬液の表面張力を基に計算することが 可能です。 【計算式】 ■d＝Cy/P ・d：最大孔径 ・C：定数 ・y：薬液の表面張力 ・P：差圧 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『ダイナミックSIMS』は、試料中に含まれる微量の全元素(H〜U)を ppmからppbの高感度で検出することができる二次イオン質量分析法です。 定性分析及び深さ方向分析ができ、加えて標準試料による高精度な定量分析が 可能。(当社の協力会社での分析実施) 最小ビーム径は約30um、材質によってさらにビーム径を落とすことが できます。 【特長】 ■試料の自動ロード/アンロード、高スループット(24試料/ロード) ■比類のないデプスプロファイリング能力と高いデプス分解能、 広ダイナミックレンジ ■ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの 分析に最適化 ■最高検出限界：ppmからppb (10^-6〜10^-9) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『引張試験』は、材料を一定速度で引張った時の荷重及び変位量(伸び)を 測定し、材料の物理特性や機械特性を求める試験です。 試験片を恒温槽内で引張ることで、これらの特性の温度依存性を求め、 把握することが可能。 当社では温度環境下における材料物性試験の対応が可能です。 測定したい材料、物性に合わせて、条件を提案させて頂くことも可能です。 お気軽にご相談下さい。 【試験機仕様】 ■恒温槽温度範囲：-40〜250℃ ■ロードセル：50kN、1kN ■荷重精度：荷重指示値の±1％ ■試験速度：0.0005〜1000mm/min ■移動距離 ・引張試験部：1485mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
GC/MSにおいて分析困難な物質を分析可能にするための前処理⽅法を紹介します。 GC/MSにおいて分析困難な物質を分析可能な物質に変換する前処理を “誘導体化"と呼びます。エステル化、アシル化、シリル化などがあり、 分析困難な物質の種類や特性などに合わせて使い分けます。 クエン酸溶液、およびエステル化後のクエン酸溶液におけるGC/MS測定を 行ったところ、カルボン酸であるクエン酸は誘導体化なしでは上手く 検出されず、エステル化を⾏うとクエン酸トリメチルが検出され、 クエン酸の存在が証明されました。 適切な誘導体化を⾏うことによってより正確な分析が可能になります。 【分析可能な物質】 ■揮発性が高い ■熱安定性が高い ■極性が低い ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
信頼性試験によって破壊した酸化物系全固体電池に対して、故障箇所 特定～断面観察までの一連の解析を実施した事例をご紹介します。 発熱解析により側面で発熱が強い傾向が認められ、X線透過観察では、 X線透過像で発熱が認められた境界付近に白い線状のコントラスト異常 が見られました。白線部で何らかの異常が発生している可能性が疑われます。 異常が見えていた箇所に対して、CP断面SEM観察を実施すると、層剥離が 認められ、信頼性試験によって正(負)極層が膨張、収縮を繰り返す事で 集電体や電解質層間に剥離が発生したと推測されます。 【事例概要】 ■サンプル情報：充放電試験による劣化が発生した酸化物系全固体電池 ■発熱解析結果：側面で発熱が強い傾向が認められた ■その他解析内容 ・X線透過観察 ・SEM観察によるCP断面観察、元素分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
GC/MSを⽤いたマイカシート接着剤成分分析についてご紹介します。 マイカシートにどのような成分が含まれているかを調べるために分光法測定 を実施したところ、シリコーン系の接着剤が用いられていることが示唆。 どのような組成のシリコーン系接着剤を用いているのかを調べるために GC/MS測定を実施。ペンタシクロオクタシロキサンを用いていることがわかり、 また、可塑剤としてジブチルフタレート、滑剤としてトリデカンなどの 鎖式飽和炭化水素を添加していることもわかりました。 【マイカシートの成分】 ■ペンタシクロオクタシロキサン(かご状のポリメチルシスセスキオキサン) ■ジブチルフタレート ■トリデカンなどの鎖式飽和炭化水素 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
赤外分光法とラマン分光法の比較について、各分光法と得られる スペクトルの特長を紹介します。 赤外分光法とラマン分光法はどちらも分子の振動エネルギーを調べる 振動分光法ですが、各分光法で得られるスペクトルの形状は同⼀物質を 測定しても互いに異なります。 ⾚外分光法とラマン分光法は相補的であり、どちらか単独の分析では得られない 情報も、2つの分析を⾏うことによってより詳細で正確に得ることができます。 なお、詳細は掲載カタログにてご紹介しておりますので、是非ご一読ください。 【⾚外分光法 特長】 ■振動に伴い双極子モーメントが変化する時に赤外吸収が起きる(赤外活性) ■電子の偏りが生じる(分子の対称性が崩れる)振動は赤外活性が高い ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
全固体電池用原料の組成分析について、イオンクロマトグラフィーを用いて、 五硫化二リンの純度を分析した例をご紹介します。 五硫化二リンは、硫化物系全固体電池の電解質製造に使用される原料の一つ。 IC測定の前処理として、五硫化二リンの粉末をアルカリ水に溶解させ、リン酸塩と スルフィド塩に変換。その後、スルフィドイオンを硫酸イオンに酸化して、 IC測定溶液を調整しました。 なお、詳細は掲載カタログにてご紹介しておりますので、 是非ご一読ください。 【固体電解質(一部)】 ■Li3PS4 ■Li7P3S11 ■Li6PS5Cl ■Li6PS5Br ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
株式会社アイテスの液晶ディスプレイの良品解析についてご紹介します。 まず、外観観察としてセルパネル状態で、FPC、FOG、COG、 シール材に着目して光学顕微鏡観察を行い、次にセルパネルを解体して、 シール材やPI膜、TFT形状を確認。 良品解析で不具合が見つかった場合は、配線の断面観察、異物分析など 原因究明のための追加解析を御提案させていただきます。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 【外観観察の観察内容】 ■FPCの配線に腐食や異物は無いか ■FOGの接合は問題ないか ■COGの接合は問題ないか ■シール材に破断等はないか ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
株式会社アイテスのラマン分光分析とFTIRとの比較についてご紹介します。 異物などの成分分析、定性分析には分光分析が適しています。 ラマンとFT-IRはどちらも分析対象の構造に基づいたスペクトルを 取得する事ができます。 しかし、得手不得手があるため、分析対象に応じて 両者を使い分ける事が必要です。 【特長】 ■IRでは分析困難な数μmオーダーの測定が可能 ■サンプリングが不要 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
株式会社アイテスの品質技術、ポリウレタンゴムの動的粘弾性測定 についてご紹介いたします。 DMAは高分子材料に周期的な振動荷重を与え、生じる応力と位相差から、 弾性や粘性を温度の関数として測定する分析です。今回は、円柱状の ゴム試料を用いて、圧縮モードで測定を行いました。 測定結果は、Tan δの温度分散曲線より、-15.7℃にガラス転移温度を 有していることを示し、 時間―温度換算則によるマスターカーブの 作成をしました。ご用命の際は当社へお気軽にご相談ください。 【荷重の与え方】 ■引張 ■圧縮 ■両持ち梁曲げ ■自由支持3点曲げ ■せん断(ずり) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
環境に配慮、そして無駄のない開発製造という姿勢が、技術分野に 求められ、世界全体で地球規模の視点で技術貢献する必要があります。 本資料では、廃棄され浮遊するマイクロプラスチックの物質特定と ともに、リサイクル原料の劣化程度を⽐較分析した事例をご紹介し、 使⽤可否判断をアシストします。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■マイクロプラスチック物質の特定分析事例 ■未使用ポリプロピレン原料と再生品(ペレット)の分子量分布の比較事例 ■顕微IR分析によるポリエチレンテレフタレート(PET)原料の比較分析事例 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
当社の『積層セラミックコンデンサ連続通電試験』をご紹介します。 故障モードをショート(短絡)と仮定して高温・高湿の環境下で直流電圧 を連続通電しながら漏れ電流の変化を常時測定で把握する高温・高湿 連続通電試験が可能。 メーカー別、ロット別等の複数の製品の実力を比較する有効な手法の一つと 考えます。また、試験基板の設計や作製から対応いたします。 【特長】 ■必要に応じて、デバイス実装用基板の設計から実施 ■0603・1005等のサイズも対応可 ■モニタリング装置は抵抗ボード経由でサンプルと接続しリーク電流値換算 ■試験後には容量測定を実施し容量劣化の程度を確認することも可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『加圧繰り返し試験』は、気密性を要求される製品に対して、圧縮エアーを 既定圧力で送り込み、漏れが発生しないか確認します。 加圧⇔解放状態を繰り返す耐久試験を行うこともでき、 環境試験槽との組み合わせで加温状態で実施することも可能。 また、圧力データのログから漏れが発生したタイミングを 確認することができます。 【装置仕様】 ■加圧圧力：Max0.7MPa(ゲージ圧) ■繰り返しサイクル数：Max32000サイクル ■圧力保持時間：Max3000秒 ■モニター：試験中の圧力センサの値(ゲージ圧)の記録 ■試験品との接続：エアーチューブ(接続方法は試験品に合わせて対応) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
材料に熱を掛けると様々な特性が変化します。このような特性の調査には 熱分析が適しています。観測したい特性の変化に応じて装置を使い分け、 必要に応じ組み合わせて⾏います。 材料が熱を受けた時に起きる様々な変化を知ることで、実際に 使⽤される場⾯にてどのような挙動を⽰すかを知る手掛かりとなります。 他の化学分析と組合わせると、分子レベルの構造との関係も推定が可能です。 材料と熱の関係について知りたい事がありましたら、 まずはお気軽にご相談ください。 【分析装置(抜粋)】 ＜DSC(示差走査熱量計)＞ ■観測する変化：熱流(発熱・吸熱) ■知る事のできる特性：融点(凝固点)、ガラス転移、結晶化、比熱容量 ■適用できる材料：プラスチック、ゴム、金属 ■分析事例：熱硬化性樹脂の硬化度測定、形状記憶合金の変態温度測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社では、OLEDなどの発光面の輝度・色度ムラについての 『液晶ディスプレイの輝度・色度ムラ評価』を行っております。 輝度測定(表示面を二次元輝度計で測定)では、液晶ディスプレイ表示面の デジカメ画像と、二次元輝度計で輝度測定を行った結果を比較。 デジカメ画像ではムラの分布が判別しにくい状態ですが、輝度分布の カラースケール表示では、輝度ムラのあるエリアが目立つようになり 判りやすくなっています。 【測定器概要】 ■測定項目：三刺激値(X,Y,Z)、色度(x,y) ■測定範囲：0.01cd/m2～1,000,000cd/m2 ■有効画素数：1376×1024 ■発光面サイズ：15～115インチ程度 ■設置方法・治具：縦置き、平置きなど、形状に応じて対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
「キセノンウェザーメーター」は、光源にキセノンアークランプを用いた 促進耐候性試験機で、照射、温湿度、降雨などの暴露条件を組み合わせることで 屋外や屋内の環境を人工的に再現し、自然暴露試験よりも短い時間で 試験体の劣化を促進させて耐候性・耐光性を評価します。 光源のキセノンランプは、太陽光の紫外・可視部に極めて近似した分光分布を 持ち、適切なフィルタの使用と放射照度を正確に制御。屋外暴露と相関性・ 再現性の良い試験が行えます。 本試験は、協力会社様で実施するサービスとなっております。 【特長】 ■使用するフィルタの組み合わせで、屋外の直射日光、屋内の窓ガラス越しの 日光などを再現 ■強エネルギー型の試験機では太陽光の約3倍の高照度で照射し、より短時間で 耐光性の評価が可能 ■自動車、塗料、建築、プラスチック、印刷物、繊維などの様々な分野で、 試験として採用されている ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
観察試料の処理方法により、得られる情報が異なることがあります。 はんだの接合部を断面から2次元で観察することがあるかと思いますが、 3次元的に化合物がどのように成長しているか疑問に思われたことは ありませんか。 当資料では、Cuパッドとはんだの接合部の観察例をご紹介。 「断面観察」と「平面観察」を掲載しております。 【掲載内容】 ■断面観察 ・エッチング処理前 ・エッチング処理後 ■平面観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
天然成分は枯渇の恐れがあるため人工的に合成された代替成分が用いられることが あり、その識別には、GCMSなどによる分離・分析が適しています。 今回は線香の原材料として使用される白檀（ビャクダン）に着目。その香りの 線香2種（A、B）から白檀の成分が検出されるかを試しました。 線香Aではサンタロールが検出されたのに対し、線香Bではサンタロールは検出されず、 別の香り成分が検出されました。このうちバグダノールは合成香料の一種であり、 その構造的特長から、白檀様の香りを持つと考えられます。 【線香Aの成分】 ■バグダノール：微量 ■セドロール：無 ■α-サンタロール：有 ■β-サンタロール：有 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
形状記憶合金は、変形させても固有の温度以上にすると元の形状に戻る という特性を持つ合金であり、形状記憶性の発現は、 相変態(マルテンサイト変態)によるものです。 変態時の熱エネルギー変化をDSCにて捉える事で、3種類の形状記憶合金 製品の変態温度を測定し、元素分析によって組成との関係を調べました。 変形した針金をお湯に漬けると一瞬で元の形状に戻ります。 【DSCによる変態温度測定】 ■DSCにて3種類の形状記憶合金の変態温度を調査 ・変態温度はA＞B＞Cの順であることが分かった ・形状記憶合金Cは室温では超弾性の状態であると考えられる ・Af：A45.91、B41.20、C11.83 ・Ms：A43.75、B36.25、C-15.59 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
急激な温湿度変化で生じる結露は、製品の腐食やイオンマイグレーションに よるリーク、誤動作を引き起こす原因となります。 『結露サイクル試験』は温度変化と加湿を行い、結露を強制的に繰り返し 発生させ結露に対する評価を実施。 また結露試験前後における経時変化の観察対応もできますのでご用命の際は お気軽にお問い合わせください。 【試験槽仕様】 ■型式：TSA-203D(ESPEC) ■内寸：W650×H460×D670 ■温度範囲 ・高温さらし：-10℃～+100℃ ・低温さらし：-40℃～+10℃ ■湿度範囲：40～95％RH(高温さらし) ■試験中の通電も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社では液晶ディスプレイやOLEDなどの光学特性を分光放射計を用いて 測定できます。 試験前後に測定を行う事で、光学特性の変化を定量的に評価。 白および赤緑青の4パターンにて分光放射輝度を測定します。 輝度・色度・主波長など、さまざまな光学特性を測定することが 可能です。 【測定器概要】 ■測定項目：分光放射、輝度、色度 ■測定範囲：0.0005cd/m2～5,000,000cd/m2 ■波長測定範囲：380nm～780nm ■波長分解能：1nm(有効波長幅[半値幅]：5nm） ■設置方法・治具：縦置き、平置きなど、形状に応じて対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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