アイテスでは、JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じた環境試験装置を使用し、 様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価受託試験を承ります。 電気試験をはじめ、非破壊観察やパワーサイクル試験 などがございます。 【環境試験】 ■高度寿命加速試験 ■恒温恒湿試験 ■冷熱衝撃試験 ■液槽冷熱衝撃試験 ■温湿度サイクル試験 ■In-Situ常時測定信頼性評価試験サービス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

■高度加速寿命試験　5台 ■冷熱衝撃試験　24台 ■恒温恒湿試験　22台 ■液槽冷熱衝撃試験　3台 ■高温保存試験 ■耐ホットオイル評価試験 ■絶縁抵抗連続モニター評価 ■導通抵抗連続モニター評価 ■エレクトロマイグレーション連続モニター評価 ■マイクロフォーカスX線透過観察 ■超音波顕微鏡観察 ■ESD評価試験 ■CDM評価試験 ■万能引張評価試験 ■断面（研磨）観察サービス（環境試験前後の評価も可能です） ■太陽電池（結晶シリコン/アモルファスシリコン/化合物/有機薄膜など）EL発光現象 ■発熱観察

半導体デバイスやそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD破壊およびラッチアップによる破壊に対する耐性を評価する試験サービスを提供します。 ■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ JEDEC、EIAJ、ESDAなどの規格に準拠した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合は、故障解析/原因究明から問題解決までのお手伝いをします。

■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合には、故障解析/原因究明から問題解決までのお手伝いをします。

■ 各規格波形　JEDEC、JEITA（EIAJ)、AEC　に対し 　ユニット交換で対応します。 ■ 直接チャージ法（Direct CDM）、電界誘導法（Field Induced CDM） 　の両方に対応します。 ■印加ピンの接触状態の確認機能により確実に印加します。 ■ダイオード特性判定法による破壊判定対応も可能です。（要相談）

信頼性評価手法の1つであるイオンマイグレーション評価試験は、製品の 軽短小への推移によって事前評価としてますます重要な試験となってきています。 当資料では、当社での評価試験の一例を使用してイオンマイグレーション評価の 概略及び試験実施内容を掲載。 評価試験において使用している常時測定(In-Situ)装置の有用性についても ご紹介します。 【掲載内容】 ■はじめに ■イオンマイグレーション ■イオンマイグレーション評価試験 ■評価方法 ■評価試験事例 ■むすび ■参考文献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

株式会社アイテスでは、『ハイパワー恒温恒湿槽での環境試験』を 承っております。 最大15℃/分（-45⇔±155℃）の定速温度変化が可能。 温度勾配をコントロールしての温度サイクル試験が実施できます。 また、温度制御範囲が一般的な恒温恒湿槽より広く、95℃にて制御可能です。 【特長】 ■ハイパワー恒温恒湿槽を2台導入 ■最大15℃/分（-45⇔±155℃）の定速温度変化が可能 ■温度勾配をコントロールしての温度サイクル試験が実施できる ■温度制御範囲が一般的な恒温恒湿槽より広い ■95℃にて制御可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

株式会社アイテスでは、シーメンス製（メンター製）のパワーサイクル 試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。 試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。 また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。 パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができます。 【特長】 ■試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能 ■パワーデバイスの各種観察・測定にも対応 ■パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

株式会社アイテスでは、『モジュール試作と熱抵抗評価』を承っております。 パワーデバイス及びパワーデバイスで使用する材料の評価において、実際に デバイスを組み立てての熱抵抗測定は、実力の把握に有効な方法です。 試作から評価まで対応致します。 ご興味がございましたら、是非お気軽にご相談ください。 【特長】 ＜パワーモジュールの試作＞ ■チップの調達からモジュールの組立てまで、一貫して柔軟かつ安価でご提供 ■ダイアタッチやTIM材などの評価に好適 ＜過渡熱抵抗測定＞ ■パワーデバイス向けのT3Ster（パワーサイクル試験装置 内蔵）にて、 　過渡熱抵抗の測定を実施、構造関数の取得と熱解析を行う ■そのデータも用いて、材料間の比較や熱抵抗の算出・不良部の推定などが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

信頼性試験の間、試料は刻々と変化します。 「どの時点でクラックが入ったのか」「劣化の進行はどのように 進んでいくのか」「初期状態とどれくらい変化したか確認したい」 ということはございませんか？ 信頼性試験と組み合わせることで、時系列かつ非破壊で対象物を 評価いたします。 【特長】 ■ウィスカ観察、マイグレーション観察、耐圧観察、はんだ評価、 　薬品侵蝕試験、市場での経年劣化品などの変化観察に応用可能 ■環境試験、観察頻度はお客様のご要望の条件にて実施 ■電気特性、SEM観察、元素分析、断面観察などの追加解析も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ JEDEC、JEITA、AEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合には、故障解析/原因究明から問題解決までのお手伝いをします。

海外製部品・製品の中には、初期動作は問題なくても、 短期間に不具合を引き起こし、故障破壊に至るものもあります。 海外製品を採用・使用される前に、アイテスの 部品・製品 品質評価サービスをご検討下さい。 ■海外製部品評価例 ・部品調達・選定段階での信頼性評価 ・部品・製品メーカー間比較評価 ・現行部品⇒変更部品（コスト削減）の置き換え時の信頼性評価 ■対応部品の例 ・能動部品（トランジスタ、ダイオード、サイリスタ、等） ・受動部品（コンデンサ、抵抗、等） ・LCD ・基板 ・電源 等

In-Situ常時測定 信頼性評価試験では、特性を測定しながら、ストレスを印加し信頼性評価試験を行います。 ●正確な故障時間の把握が可能 　決まった時間にストレス環境より取り出して測定するリードアウト方式では、リードアウトのタイミングでしか故障の把握ができず、正確な故障発生時間を知ることはできません。 　In-Situ測定では、正確な故障時間の把握ができます。 ●回復性故障の検出が可能 　回復性故障は市場において重大な問題を引き起こすことがあります。 　リードアウト方式ではこれら回復性故障の検出がほとんどの場合不可能ですが、In-Situ測定では回復性故障の検出が可能であり、正確な判断/判定ができます。 ●試料へのストレス印加状態の監視が可能 　ストレス印加状況および測定データをリアルタイムで確認できます。

アイテスでは信頼性試験、分析・解析などパワーデバイスのトータルソリューションサービスを行っております。過渡熱測定を同時に行える「パワーサイクル試験機」をはじめ、「化合物半導体の故障解析」「拡散層の濃度解析」「モジュールの断面解析」など。具体的実績を元にご提案させていただきます。 キーワード：■パワー半導体全般（チップ、モジュールTIM素材など）■信頼性試験/評価　■構造解析（出来栄え・他社品RE）■故障解析（故障箇所特定、原因究明、改善提案） 【試験一覧】 ■パワーサイクル試験 ■液槽熱衝撃試験 ■ゲートバイアス試験 ■半導体・パッケージ剥離部の非破壊観察 ■パワーチップの故障解析　など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

信頼性の低い液晶ディスプレイが市場で問題を起こしています。 アイテスでは豊富な経験と最新設備により、信頼性試験のデザインから 試験前後の目視検査を行い、お客様の抱える信頼性問題を解決します。 さらに、故障モードの分類から故障解析、材料分析まで御支援します。

【試験・評価・分析・解析】 　●信頼性試験 　　■温度サイクル試験 　　■冷熱衝撃試験 　　■高温保存試験 　　■高度加速寿命試験 　　■プリコンディショニング 　　■ホットオイル試験 　　■In-situ常時測定 　　■イオンマイグレーション試験 　　■エレクトロマイグレーション試験 　　■テストコンサルティンング 　●評価試験 　　■接合強度試験：プル/ シェア試験 　　■機械的強度試験：振動・衝撃／落下試験／圧縮強度・ズレ強度 　　■ESD / Latch Up / CDM試験 　　■電気特性計測 　　■塩水噴霧試験 　●分析・解析 　　■X線透過観察 　　■超音波顕微鏡観察 　　■発光解析（EMS/IR-OBIRCH） 　　■走査型電子顕微鏡（SEM） 　　■透過型電子顕微鏡(TEM) 　　■表面汚染分析(TOF-SIMS） 　　■異物分析（FT-IR)

当社が導入したYXLON製「Cheetah EVO」の付属機能をご紹介します。 「リフローシュミレータ」では、はんだ付け時のボイドの挙動など、 リアルタイムで観察が可能です。 リフローの条件出しやはんだの選定などに活用いただけます。 【特長】 ■セラミックヒーター＆ランプ加熱 ■対象サイズ：40ｘ40ｘ20mm ■最大設定温度：350度 ■リアルタイムで観察が可能 ■リフローの条件出しやはんだの選定などに活用可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『Cheetah EVO』は、リフローシュミレータも搭載されているため、はんだ付け時のボイドの挙動などリアルタイムで観察することができるX線透視・CT検査装置です。リフローの条件出しやはんだの選定などに活用可能。当社は、当製品による「インダクタコイルの観察」をはじめ、「BGAはんだクラック解析」や「IC型コイルの観察」などの事例があります。 【装置スペック(抜粋)】 ■X線発生器：マルチフォーカス透過型 ■管電圧：25－160kV ■管電流：0.01－1.0mA ■管電力：64W ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

●製品ライフサイクル全般をカバーする総合的な技術サービス 　電子部品の品質向上のために必要な開発時の原材料評価、信頼性試験と結果解析、出荷後の故障解析と結果の開発・製造現場へのタイムリーなフィードバック、さらには品質問題解決のコンサルティングまで、製品ライフサイクル全体にわたりご支援します。 ●信頼性試験の結果を速やかに解析、速報 　信頼性試験での不良に対し、豊富で効率的な解析メニューにより的確でタイムリーな原因特定、考察をご支援します。 ●必要なサービスを必要なだけご利用ください 　決められた評価計画に基づく試験・検査実施から、問題解決のための評価・解析計画立案、結果解析、原因究明とコンサルテーションまで、必要にあわせて自由にご選択頂けます。

■総合力 　信頼性試験から電気特性測定、光学特性測定、さらに分析・解析までの一貫評価耐性 ■充実した解析手法 　・順方向バイアス解析/逆方向バイアス解析 　・可視～赤外まで検出 　・発光解析/OBIRCH解析 ■特殊技術 　可視光領域をフィルタリングすることにより、異常部位からの微弱発光を逃さず検出

■解決する力 　知識と技術でかいけつに導くコンサルティング 　スピード対応でお客様スケジュールを支援 ■つきとめる力 　故障個所をピンポイントし可視化する技能 　深い洞察力と高度かつ繊細な試料加工技術 ■特化した設備 　最高180℃での液槽熱衝撃試験 　パワー半導体に必須のパワーサイクル試験

株式会社アイテスでは、『パワーデバイスのHAST試験』を承っております。 【特長】 ■最大1000V印加での不飽和蒸気加圧試験が可能 ■高温高湿下での通電により、金属配線の腐食やマイグレーション等の評価を実施 ■試験中のモニタリングにより､リアルタイムでの試料劣化を把握

当社が行っている『高温ラッチアップ試験』についてご紹介します。 近年､デバイスの最大使用周囲温度条件下でのラッチアップ試験の需要が増加。 特に、車載部品用のAEC規格では、ClassII（最大使用周囲温度）の試験条件のみ となっており、高温状態での動作が要求されるデバイスでは、高温での ラッチアップ試験が推奨されています。 【ラッチアップ試験の主要規格（抜粋）】 ■JEDEC（JESD78E） ・電流パルス印加法､電源過電圧印加法 ・ClassI：室温､ClassII：最大使用周囲温度 ■JEITA｛JEITA ED4701／302（試験方法306B）｝ ・電流パルス印加法､電源過電圧印加法 ・ClassI：室温､ClassII：最大動作温度 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当資料は、株式会社アイテスによる『超微小硬度計による負荷除荷モード＆ カラーフィルター測定例』についてのご紹介しています。 硬度測定で得られる結果をグラフを用いて解説。そのほかにも、不要になった ディスプレイからカラーフィルターを取り出し、カラーレジストのRed、 Green、Blueの硬度を測定した例も写真やグラフを用いて掲載しています。 是非、ダウンロードしてご覧ください。 【掲載内容】 ■硬度測定で得られる結果 ■ディスプレイ内カラーフィルターの硬度測定例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

試験環境、観察環境が重要な評価として、ウィスカ観察がありますが、 ウィスカは非常に繊細で、振動・空気の揺らぎなどに敏感なため、試験後の 移動・保管などの取り扱いには注意が必要です。 当社では、試験槽と保管庫、観察場所を1フロアに集約し、移動・保管の リスクを低減、ウィスカが脱落・消失しない環境を整えております。 また、信頼性試験前後のマイグレーション観察やはんだ表面観察も 承っておりますので、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■信頼性試験から観察まで一貫したサービス ■試験槽と保管庫、観察場所を1フロアに集約 ■移動・保管のリスクを低減 ■ウィスカが脱落・消失しない ■信頼性試験前後のマイグレーション観察やはんだ表面観察も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ランプ加熱試験（赤外線照射試験）についてご紹介します。 環境試験槽に試験試料を設置し送風状態で雰囲気温度を制御しながら、 赤外線ランプを最大7個使用し光を照射することで、試料表面の温度センサー の温度が雰囲気温度より高くなるように制御を行います。 例えば、昼間の高温になった車内において、太陽光により雰囲気温度より さらに過熱されるストレスを模擬する事ができます。 【特長】 ■環境試験槽内で送風環境下における赤外線照射試験に対応可能 ■雰囲気温度に対して試料表面の温度が高くなるような環境を再現できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

製品を構成する素材の、熱、湿気負荷による信頼性試験は必須ですが、 試験後の分析評価もまた、欠かすことのできないプロセスです。 恒温恒湿試験は、製品、素材などに温度と湿度の負荷をかけ、物性、特性、 外観などの変化有無、および寿命を確認する装置で、当社では、多種多様な サンプルの設置も工夫してご対応。 当資料では、恒温恒湿試験前後の素材分子構造変化をIR分析にて検証した 事例をご紹介します。ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■信頼性試験装置例（恒温恒湿試験装置） ■サンプル設置の工夫 ■化学分析による試験前後の比較評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『自記分光光度計による透過率測定サービス』についてご紹介します。 透明素材の透過率は、使用される製品のスペックに重要な特性項目です。 熱、湿度、紫外線などによる劣化でその特性が低下、 または失われる場合があります。 当資料では、装置原理とともに、透明樹脂の恒温恒湿試験前後での 透過率の変化を比較評価した結果、および考察内容を掲載。 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■自記分光光度計の原理、および仕様 ■PET樹脂（ポリエチレンテレフタレート）の透過率変化 ■PVC樹脂（塩ビ︓ポリビニルクロリド）の透過率変化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『信頼性試験、曇価（ヘーズ）測定、IR分析のセットメニュー サービス』についてご紹介します。 プラスチック（樹脂）素材は、使用環境により変色、変質する場合があり、 透明素材は、その透明性、高い透過率が価値ある特性となりますが、 劣化変質によりその特性が低下することで、素材としての機能を失います。 当資料では、「信頼性試験装置例」をはじめ「曇価測定結果」や 「IR分析結果」を表とグラフを用いて解説。 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■信頼性試験装置例（恒温恒湿試験装置） ■曇価（ヘーズ）測定結果 ■IR分析結果 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ICP発光分光分析では、試料中に含まれる金属元素などを複数同時に 検出することが出来ます。 当資料では、液晶中に含まれる微量な金属元素の分析例をご紹介。 ICP-AES分析の原理・概要や測定事例を掲載しています。 サンプルの状態や分析対象の元素など、お気軽にお問い合わせください。 【掲載内容】 ■ICP-AES分析の原理・概要 ■測定事例︓液晶パネル内金属元素のICP-AES定性分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

液晶パネルに表示不良が発生した場合、再発防止のためその原因を解明する 必要があります。 本資料では、温度負荷によって表示ムラが発生したパネルAと表示不良が 確認されていないパネルBについて、化学分析により比較解析した事例を ご紹介。 アイテスは、観察などの初期解析にて原因が見当たらない場合、 液晶内部の化学分析から原因を探る事ができ、ここで挙げた手法以外にも 試料や目的に応じた分析法をご提案させていただきます。 【掲載内容】 ■信頼性試験（80℃/ドライ条件/1000時間） ■液晶 GC-MS分析 ■液晶内金属元素 ICP-AES分析 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

樹脂は、成形加工、および調色がしやすいため多くの製品で使用されています。 使用される環境によっては、変色しやすいことも事実であり、 信頼性試験前後の表色系、および透過率の評価は欠かせません。 本資料では、透明樹脂の恒温恒湿試験前後における表色系、透過率の 変化結果をご紹介いたします。 【掲載内容】 ■（xyY）およびL*a*b*表示系について ■恒温恒湿試験（85℃ 85% 168時間）前後の測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

プラスチックの押出/射出成形加工は、その原料の耐熱温度（融点 Tm）に 応じて条件設定されますが原料の劣化変質により、決められた設定温度で 成形加工が困難となるケースもあります。 プラスチック原料のペレットや粉末のメルトフローレイト（MFR）を 確認することで、従来品と変化がないかを把握することが可能。 未処理（負荷なし）、温湿度負荷（恒温恒湿試験）、および紫外線照射した PP（ポリプロピレン）を射出し、温度230℃、荷重5kgで評価した事例を ご紹介しておりますので、ぜひPDFダウンロードよりご覧ください。 【評価事例】 ■PP：ポリプロピレン ■8585：85℃85％ × 336時間 ■UV：紫外線照射 253.7nm × 336時間 ■射出時間：10分（3分から換算） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

製品を構成する素材は多種多様ですが、製品性能は素材の特性が 鍵を握ることも少なくありません。 アイテスでは、素材の信頼性試験から観察、物理/化学分析まで 一貫対応いたします。 本資料では、プラスチック材料の紫外線/恒温恒湿負荷前後の 分子構造、および熱特性変化の⽐較評価を⾏った事例をご紹介します。 【掲載内容】 ■恒温恒湿試験、および紫外線照射 　（サンプル：ポリエチレン（PE）ペレット） ■IR、ラマン、およびEGA分析結果 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

アイテスでは、『真贋調査（比較観察）』を行っています。 正規品又は標準品と調査対象品を比較し、構造などの差異や サイレントチェンジされていないか等を調査。 外観観察をはじめ、開封観察や電気的特性測定、破壊・非破壊観察、 信頼性試験、材料調査などに対応しています。 【特長】 ■正規品又は標準品と調査対象品を比較 ■構造などの差異やサイレントチェンジされていないか等を調査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当資料では、物体色を数値化する色差計をご紹介しています。 光を物体に照射すると、物体の表面や内部で光学的な現象が起こり、 その散乱光を検出することで物体色を数値化することが可能となります。 例として、水性塗料に対して紫外線（UV）を照射した条件とUV未処理の 条件で色の違いを数値化した試験結果をご紹介しておりますので 是非、ダウンロードしてご覧ください。 【掲載内容】 ■色差計（装置構造） ■L*a*b*表色系 ■水性塗料の目視とL*a*b*表色系への変換 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当社では、液晶パネルにおいて特定のTFTに対し、性能確認のための 良品特性測定、不良特性測定や信頼性評価をすることが出来ます。 「TFTの各温度での電気特性測定」では、表示状態のモニターを解体し、 パネル内の画素TFTに対して、電気特性測定が可能。 「DCバイアスストレス試験」では、Gate,Drainに任意のDCバイアスを印加し TFTにストレスを与えたときのVthシフトを測定し、信頼性確認を行います。 【特長】 ＜TFTの各温度での電気特性測定＞ ■パネル内の画素TFTに対して電気特性測定が可能 ■アニール前後、光照射、加温や冷却下で測定できる ■測定結果からIon、Ioff、Vth、移動度の指標を算出 ■良品解析での実力値の確認や不良原因の解明を行う ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『ESD(CDM)試験受託サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なデバイス帯電モデルのESDによる 破壊に対する耐性を評価します。 直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応。 また、ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も 可能です。(別装置を使用) 【特長】 ■各種規格条件JEDEC、JEITA(EIAJも可)、AECに対してユニット交換で対応 ■直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応 ■AEC-Q100-011の直接チャージ法と電界誘導法にも対応 ■ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も対応可能 ■印加ピンの接触確認機能により確実に印加 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『ESD(HBM・MM)試験サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なHuman Body ModelとMachine Modelの ESDによる破壊に対する耐性を評価します。 512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応。 ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を 実施します。また、耐性に問題があった場合、故障解析/原因究明等の 問題解決のお手伝いをします。 【特長】 ■512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応 ■512ピン以上の製品についても一部対応(要相談) ■ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を実施 ■お客様のご要望や目的に応じた試験をご提案、実施 ■耐性に問題があった場合、故障解析/原因究明等の問題解決をお手伝い ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当社では、液槽冷熱衝撃試験において、LEDを常時通電点灯しながら試験ができ 試験中の点灯状態の確認や、電流値の常時モニターなどの評価に対応します。 液槽は液体を媒体に温度ストレスを与え、気槽より温度変化が急峻。 絶縁性の高い液体を使用しているため通電試験が可能で、試験中のLEDの 点灯状態の確認や、電圧(電流)をモニターすることで、特性の変化点が 確認できます。 【特長】 ■LEDを常時通電点灯しながら試験が可能 ■液槽は液体を媒体に温度ストレスを与え、気槽より温度変化が急峻 ■絶縁性の高い液体を使用しているため通電試験が可能 ■特性の変化点が確認できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014において、試験時のデバイス付近の相対湿度は 30％未満にすることを要求されています。 確認方法は、サンプル設置近傍の2ヶ所に温湿度センサーを設置して温度・ 湿度を常時モニターし、相対湿度が30％未満となった時点で試験開始。 AEC規格においても2019年の改訂でANSI/ESDA/JEDEC JS-002に準拠すると明記され、 低湿度環境の要求は今後も高まってくると見込まれます。 【CDM試験の主要規格の湿度要求】 ■ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018：相対湿度30％未満 ■AEC-Q100-011 Rev-D・AEC-Q101-005 Rev-A：相対湿度30％未満 ■JEITA ED-4701/302A(試験方法305D)：周囲温度25℃±5℃ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を ご紹介いたします。 半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の 不具合検出に大変威力を発揮します。 非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、 剥離等の検出ができます。 【仕様(抜粋)】 ■パルサーレシーバー：500MHz ■観察手法：反射法/透過法　両観察手法に対応 ■音響レンズ/反射法：15,25,30,50,80,100,230MHz ■音響レンズ/透過法：15,25,30,50,100MHz ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

株式会社アイテスでは、『冷熱衝撃試験』を行っております。 試料に高温と低温を繰り返し晒す事により、高温・低温の熱による ストレスだけではなく、各部位の伸縮により応力が発生。 繰り返し応力によってもストレスが加えられます。 電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価としても 当試験が行われます。 【冷熱衝撃試験装置の主なスペック】 ■内法：W650×H460×D370mm　温度範囲：-65～0/+60～200℃ ■内法：W650×H460×D670mm　温度範囲：-65～0/+60～200℃ ■内法：W970×H460×D670mm　温度範囲：-65～0/+60～200℃ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

株式会社アイテスでは、『液槽冷熱衝撃試験』を行っております。 液体を媒体として温度変化によるストレスを与え、気槽式熱衝撃試験よりも 温度変化が急峻なため、短期間で実施するのに有効な試験方法です。 当装置では、高温の最高温度が180℃まで対応可能なため、高耐熱部品・材料 などの加速試験に対応することができます。 【特長】 ■最高温度が180℃まで対応可能 ■高耐熱部品の試験・評価に有効 ■気槽式熱衝撃試験よりも温度変化が急峻 ■短期間で実施するのに有効 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験（HTRB）が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより､リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能｡電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準（電流値）の設定が可能で不良判定デバイスの電源を 不良判定時に遮断することができます。 【特長】 ■試験中のリーク電流のモニタリングにより､リアルタイムで 　デバイスの劣化状況が把握出来る ■電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 　故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼさない ■不良判定デバイスの電源を不良判定時に遮断することができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。