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当資料では、東芝ナノアナリシス株式会社で行っている「受託分析サービス 信頼性評価」について詳しく解説しております。 温度変化による熱ストレスを与えて耐性を確認する電子部品の温度サイクル試験や X線による物質への影響や耐性を評価するX線照射試験など、豊富にご紹介。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 【掲載内容】 ■信頼性試験 ■電子部品の温度サイクル試験 ■温度サイクル試験による経時劣化の観察 ■熱衝撃試験による経時劣化の観察 ■X線照射試験 ■表面実装部品のはんだ耐熱性試験 ■半導体パッケージの接合強度試験 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料では、東芝ナノアナリシス株式会社で行っている「受託分析サービス 非破壊観察」について詳しく解説しております。 磁場顕微鏡で行うプリント基板配線パターン内の電流経路観察や、 超音波顕微鏡でのウェーハ貼り合わせの密着性観察(反射法)などの 事例を多数掲載。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 【掲載内容】 ■磁場顕微鏡 ■超音波顕微鏡(SAM) ■3次元X線顕微鏡(X線CT) ■受託分析サービスの流れ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『それ、壊さずに見えますよ!』は、隠れた異常が見える受託分析サービスです。 非破壊の観察手法には電流経路を可視化する磁場顕微鏡、剥離を高感度で 検出する超音波顕微鏡、内部構造を3次元で観察できるX線顕微鏡(X線CT)があり、 これらを組み合わせることで、さまざまな現象を捉えることが可能です。 また、高輝度X線により、錠剤の吸水と崩壊開始の状態をリアルタイムに 観察でき、動画でのご提供も可能です。 お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■剥がれ・割れが見える ■3次元構造が見える ■磁場・電流が見える ■知りたい数値が見える(粒度・体積・配向・空隙・密度) ■リアルタイムで形状変化が見える ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
磁場顕微鏡は、電流により発生する磁場分布を測定対象外から測定し、 測定対象内に流れる電流経路を推定する非破壊の解析技術です。 磁場顕微鏡で特定したショートなどの異常個所を3次元X線顕微鏡(X線CT)で 観察することにより、非破壊で詳細な原因解析が可能。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【解析フロー】 1.磁場顕微鏡による異常検出 2.3次元X線顕微鏡による観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
「MEMS」には、立体的で可動部を有するMEMS構造体が中空で 封止されています。 この構造をあるがままに観察するためには開封などの加工を行わず 観察することが必要です。 3次元X線顕微鏡(X線CT)は、非破壊で3次元観察でき、できばえ解析・ 不具合解析・リバースエンジニアリングに有効です。 【3次元X線顕微鏡 特長】 ■対象物の内部を非破壊で3次元観察することが可能 ■試料を透過したX線を光学レンズで拡大するため、高分解能・ 高コントラストな観察が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
パワー半導体の普及に向け、低欠陥のSiCウェーハの開発が 進められています。 X線CTは非破壊で物質の形状を3次元的に可視化し、定量評価できる手法です。 PDF資料にて、SiCウェーハに形成されたエッチピットを3次元X線顕微鏡 (X線CT)で観察した際のCT像をご覧いただけます。 【概要】 ■X線CTによるエッチピットの形状解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電気製品で断線による故障が発生する場合があります。 配線の周囲が不透明な樹脂などで覆われていると、どこで断線が 発生しているか、外観検査だけで探すことは困難です。 そのような場合、X線透過観察により、断線箇所を見つけることが可能です。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【概要】 ■X線透過観察による断線箇所特定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社試験所は管理された環境と確かな手順による信頼性評価サービスを ご提供します。 標準規格のほかに、ご要望の仕様に基づいた評価条件にも対応可能。 半導体・電子パネル・電子部品・実装基板・ガラス・各種材料に 対応しています。 【環境試験・機械強度試験(一部)】 ■高温試験 ■低温試験 ■高温高湿試験 ■HAST試験/オートクレーブ試験 ■温度サイクル試験/気槽冷熱衝撃試験/ヒートサイクル試験 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
