超音波顕微鏡(測定) - メーカー・企業と製品の一覧 | イプロス

超音波顕微鏡の製品一覧

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プリント基板の超音波顕微鏡観察

外観検査では見えない基板内部の剥離も可視化が可能！

株式会社アイテスでは、プリント基板の超音波顕微鏡観察(透過法)を行っております。プリント基板では、保管環境や熱・湿度ストレス、製造工程の不具合などが原因で基板内部の層間が分離してしまうデラミネーション(剥離)による不具合が発生することがあります。透過法は、超音波を観察サンプルに透過させ、レシーバーで受けた超音波を電気信号に変換して画像化。剥離等空隙が存在する場合は超音波が透過しないため、画像としては黒く写ります。【特長】 ■基板内部の不具合のため外観検査では見えない　デラミネーション(剥離)の検出に有効 ■超音波を観察サンプルに透過させ画像化 ■剥離等空隙が存在する場合は黒く写る ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

企業：株式会社アイテス
価格：応相談

その他分析機器
超音波顕微鏡

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超音波顕微鏡『SAM』

非破壊にて観察が可能！内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮！

当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』をご紹介いたします。半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の不具合検出に大変威力を発揮します。非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、剥離等の検出ができます。【仕様(抜粋)】 ■パルサーレシーバー：500MHz ■観察手法：反射法/透過法　両観察手法に対応 ■音響レンズ/反射法：15,25,30,50,80,100,230MHz ■音響レンズ/透過法：15,25,30,50,100MHz ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。