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双眼実体顕微鏡、光学顕微鏡など！主に化学薬品や医療用途に使用
「顕微鏡」は、肉眼で見るには小さすぎる物体を検査するために使用する 拡大鏡付き光学機器です。 元のサイズの数百倍又は数千倍に物体を拡大することができます。 主に化学薬品や医療用途に用いられますが、法医学、地質学、植物学、 品質管理用途など、さまざまな分野で使用されています。 【ラインアップ(抜粋)】 ■ホーザン 顕微鏡 L-50,倍率：10X ■カートン光学 顕微鏡 NSW-30SB,倍率：10 X, 30 X ■RS PRO 顕微鏡,倍率：40X ■Dino-Lite 顕微鏡 AM5116ZTL,倍率：10 → 90X ■Dino-Lite デジタル顕微鏡 AM4113ZT4,倍率：400 → 470X ■Dino-Lite デジタル顕微鏡 AM4115ZT,倍率：20 → 220X ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
液晶の角度が自由に変更でき、片手で操作可能なデジタル顕微鏡
●光学倍率最大300倍まで拡大できるモニタ付きの顕微鏡です。 ●光学ズームは20倍～300倍、デジタルズームは最大4倍まで変更できます。 ●3インチ大型液晶モニタを内蔵しています。 ●専用スタンド付きで、カメラ本体を固定して使用できます。 ●液晶画面が回転でき、見やすい向きに変更できます。 ●8つのLEDを内蔵し、被写体を明るく撮影できます。 ●ビデオケーブルを接続すれば、映像をモニタ出力することができます。 ●リチウムイオン電池で繰り返し充電できるので経済的です。 ＜注意事項＞ ※製品本体のモニタに表示した時の倍率は、最小倍率約7倍、最大倍率約29倍です。 ※本製品で5Mの解像度で画像を撮影し、解像度1920×1080ピクセルに設定した24インチモニタで表示した場合、約380倍になります。 ※撮影には、別売りのmicroSD（HC）カード（32GBまで）が必要です。 ※被写体にレンズ部をぴったりつけている場合、高倍率と低倍率の2箇所でピントが合います。 ※光学ズームの倍率は画面上では表示されません。 ※任意の倍率で対象物を見ることはできません。
HDMIの高画質出力が可能なデジタル顕微鏡。フルHDで動画撮影も可能。
HDMIの高画質出力が可能なデジタル顕微鏡。フルHDで動画撮影も可能。 ■高画質で撮影・出力できるデジタル顕微鏡 ■ピント合わせ撮影がラクラク 据え置き型デザイン デスクに置いて使う据え付け置き型なので、ピント合わせ・撮影の際にカメラがぐらつきません。 安定した観察ができます。
ワイドレンジズーム式三眼実体顕微鏡（スムースアーム付）／ 品番 M511FN-0745S-RT3
両眼観察とカメラ撮影が同時にできる2光路設計
表面形状の測定を短時間・簡潔に！防塵・防風用シールド、防振機構が標準搭載
『NaioAFM』は、表面形状の測定に必要な要素技術を標準搭載しつつ、 装置のセットアップやカンチレバー交換が簡単に行えるなど、 機能性と操作性を両立したコンパクトタイプの原子間力顕微鏡です。 スキャン前に必要な再チューニングやサンプルへのアプローチ、 サンプル平面の傾斜補正はソフトウェアが自動的に行うため、 サンプルにカンチレバーを近づければ、スキャンが開始されます。 【特長】 ■コントローラ、XYステージ・防風シールド・防振機構が一体化 ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載・場所決め用サイドビュー観察 ■ニーズに応じて測定モードの追加が可能 ■お客様先に装置を持参してのデモも受付中 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。 デモをご希望の方はお問い合わせフォームよりお申込み下さい。
設備で発生したトラブルの真の原因を究明することで、効果的な対策立案が可能となります！
設備トラブルで損傷した部位を詳細に解析することで、発生したトラブルの真の原因を究明し、対策を提案して再発防止や改善に役立てていただけます。東レグループでの４０年以上の経験と専門知識をベースに電子顕微鏡や成分分析装置など各種ツールを駆使してお客様の疑問にお答えします。 【解析装置例】 ■走査型電子顕微鏡（SEM） ■エネルギー分散型X線分析装置（EDS） ■硬度計 ■各種光学顕微鏡 等
圧倒的な分解能を実現！今まで隠れていた微少な現象を測定
『ハンディAFM』は、SEMや高倍率の3次元光学顕微鏡の変わりに使用 することができる原子間力顕微鏡です。 サイズは、奥行き幅共に15cmの超小型。 走査ヘッドは、高分解能、広域タイプの2種類が選択でき、交換も瞬時に 行えます。 【特長】 ■プローブの交換が数秒で実施可能 ■カーボンナノチューブプローブもオートアプローチが可能 ■オプションで小型の自動ステージやインライン全自動機に対応 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
各種シリコンデバイスの界面の各部寸法を鮮明な画像で計測する赤外線反射顕微鏡システム
『IR1300RL』は、顕微鏡本体にオリンパス製BX53を使用した 赤外線顕微鏡です。 高解像度赤外線CMOSカメラとイメージエンハンサソフトにより、 各種シリコンデバイスの界面の各部寸法を鮮明な画像で計測できます。 また、独自のイメージエンハンサソフトにより、張り合わせウエハーの アライメントマークずれ計測が可能です。 【特長】 ■各種シリコンデバイスの界面の各部寸法を鮮明な画像で計測 ■顕微鏡本体にBX53オリンパス製を使用 ■X軸、Y軸、Z軸は手動動作タイプ ■アライメントマークずれ計測が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
アリ溝式ステージ、メジャースコープ、画像認識用レンズ、エアーピットなど緻密で繊細な手作業によって作り込まれた製品を紹介！
ミラック光学が製造する精密機器・光学機器は、すべて MADE IN JAPAN です。 日本のお家芸とも言える緻密で繊細な手作業によって作り込まれた製品は、品質・精度・耐久性において自信を持ってお客様へお薦めできるものばかりです。 『光学関連機器・部品 総合カタログ』では、さまざまな位置決めに対応した他にはないバリエーションと、なめらかな摺動の「アリ溝式ステージ」、さまざまな工業関係の生産・加工・検査工程に必要不可欠な顕微鏡「メジャースコープ」、高品質で低価格を追求、レンズ機能を高める周辺機器も充実している「画像認識用レンズ」、吸着・搬送、製品への傷・汚れ・指紋・手油の付着、心配無用「エアーピット」など、多数掲載しています。 【掲載内容】 ■アリ溝式ステージ ■メジャースコープ ■画像認識用レンズ ■エアーピット ※詳しくはPDFダウンロード、もしくはお問い合わせください。
ステージ・顕微鏡の総合カタログ＆検査装置の改善事例をセットでプレゼント！
アリ溝式ステージや測定工具顕微鏡、画像認識用レンズなどを製造する 光学機器メーカー・ミラック光学から、“総合カタログ”と “検査装置の改善事例をまとめた技術資料”をセットで無料進呈！ アリ溝式ステージはしっとりと滑らかな摺動と高耐久性が特長で、 FA分野における位置決め部品や、治工具などの機械要素部品として幅広く活躍中。 改善事例では、小型化したアリ溝式ステージで検査装置の 小型化・XY可動化に成功したケースを紹介しています。 【掲載内容】 ■アリ溝式ステージ ■測定工具顕微鏡 メジャースコープ ■画像認識用レンズ ■真空ピンセット エアービット ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。 ※総合カタログはダイジェスト版になります。 完全版をご希望の方はお問い合わせからご請求ください
目盛付きレンズの目盛を数えて、実際の長さを簡単に計算できる！
Elcometer株式会社では、『照明付き顕微鏡(50倍) 900』を 取り扱っております。 目盛付きレンズの目盛を数えて、実際の長さを簡単に計算可能。 倍率50倍、照明付きのシンプルな顕微鏡です。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【仕様】 ■電源：LR03電池(AAA)1本 ■寸法：120x43x115mm(4.7x1.7x4.5インチ) ■重量：145g(0.31ポンド) ■内用品：Elcometer 900照明付き顕微鏡、取扱説明書 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です！
当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。 レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定ができ、透明体の膜厚形状や 透明体越しの表面形状測定が可能です。 【特長】 ■試料表面の凹凸形状の3D測定が可能 ■透明体の膜厚形状や透明体越しの表面形状測定が可能 ■408nmレーザーを用いて観察、計測 ■測定結果は国家基準につながるトレーザビリティ体系に基づく ■測定機器として非破壊測定に活用できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに配線構造、結晶構造解析まで一貫対応が可能です！
当社では、LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察を 行っております。 FIBを用いた特定箇所の断面作製、LV-SEM/EBICによる拡散層の 形状観察、さらにTEMによる配線構造、結晶構造までのスルー解析が SiCパワーデバイスでも対応できます。 「LV-SEM拡散層観察」では、PN接合の内蔵電位に影響を受けた 二次電子（SE2）をInlens検出器で検出。 FIB断面でのSEM観察で拡散層の形状が可視化できます。 【EBICを用いた解析手法】 ■PEM/OBIRCH 不良箇所特定 ■FIB断面加工 ■低加速SEM ■EBIC解析 ■TEM ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
微細なクラックが見やすい！導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ます
『卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察』についてご紹介です。 製品の信頼性評価において、クラックの断面観察は欠かせません。 光学顕微鏡観察では見落とす可能性がある微小なクラックもSEM観察では 明確に確認することが可能です。 しかも卓上SEMなら、導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ます。 【特長】 ■蒸着不要 ■簡易的に結晶粒が見える ■微細なクラックが見えやすい ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
明視野モードと通常/標準モードの断面観察などを掲載しています！
当資料では、卓上型SEM(電子顕微鏡)によるネオジム磁石の断面観察に ついてご紹介しています。 ネオジム磁石など磁性を帯びた試料は、着磁状態でSEM観察はできませんが、 脱磁処理を施すことで、SEM観察や元素分析を行うことが出来ます。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■ネオジム磁石の脱磁とSEMによる断面観察(日立ハイテク社製TM3030Plus) ・脱磁処理(磁石は、着磁状態でのSEM観察が不可能なため、脱磁を実施) ・断面観察 ・EDXによる元素分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
大型試料（65mm×28mm）の断面作製と内部構造の観察事例をご紹介！
65mm×28mmの大型試料（膨張弁）の観察事例をご紹介します。 本試料は磁性材料が用いられており、SEM観察は像が歪んでしまうため、 光学顕微鏡による観察を主としました。 外観とX線透視観察で、X線では一部、透視されない箇所があることが わかりました。 【概要】 ■外観とX線透視観察 ■光学顕微鏡による断面観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像！表⾯情報に敏感なインレンズSE検出器を装備
ZEISS製の「FE-SEM ULTRA55」は、GEMINIカラムを搭載しており、 極低加速電圧で高分解能観察が可能な装置です。 検出器も複数搭載されており、さまざまなサンプルの観察が可能。 2種類の反射電⼦検出器による組成情報の把握ができ、低加速電圧でも ⾼分解能なEDX分析ができます。 【特長】 ■⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像 ■極低加速電圧による極表⾯分析 ■表⾯情報に敏感なインレンズSE検出器を装備 ■2種類の反射電⼦検出器による組成情報の把握 ■低加速電圧でも⾼分解能なEDX分析 ■無蒸着による観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
平面傾斜切削も可能な“ミクロトーム”など！様々な製品で使用されている塗膜の観察、分析例をご紹介
自動車、携帯電話等、様々な製品で使用されている塗膜の観察、分析例を ご紹介します。 「トリプルイオンポリッシャー(CP)」は、硬・軟材料の共存する試料であっても、 ダメージのない加工ができ、「ミクロトーム」は、断面作製のみならず、 平面傾斜切削も可能。 この他、「卓上斜め切削機」は、表面情報として元の厚みの6～300倍の サンプル面を取り出すことが可能で、「卓上型SEM(電子顕微鏡)」は、低真空下 での観察が可能なモード(帯電軽減)があり、揮発成分が出る試料の観察や 元素分析ができます。 【プラスチック皮膜(携帯電話のケース)の観察】 ■トリプルイオンポリッシャー(CP) ■ミクロトーム ■卓上斜め切削機 ■卓上型SEM(電子顕微鏡) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
非破壊にて観察が可能！内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮！
当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を ご紹介いたします。 半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の 不具合検出に大変威力を発揮します。 非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、 剥離等の検出ができます。 【仕様(抜粋)】 ■パルサーレシーバー：500MHz ■観察手法：反射法/透過法 両観察手法に対応 ■音響レンズ/反射法：15,25,30,50,80,100,230MHz ■音響レンズ/透過法：15,25,30,50,100MHz ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
トランジスタの超音波顕微鏡観察！同じ焦点でも様々な場所での剥離状況を確認可能
当社で行っている半導体パッケージの超音波顕微鏡観察について ご紹介します。 半導体パッケージは保管状態や実装条件等により、金属部分 (ダイパッド)とパッケージ樹脂との間で剥離が発生することが あります。パッケージ内部の剥離は製品品質に大きな影響を与える 不具合ですが、外観から剥離の発生を確認することはできません。 超音波顕微鏡を用いることでパッケージ内部の構造を鮮明に捉え、 信頼性評価に貢献します。 【特長】 ■チップ側より超音波顕微鏡観察 ・同じサンプルでも、焦点位置を変えることにより見えていなかった ところが見えてくる ■ダイパッド側より超音波顕微鏡観察 ・同じ焦点でも様々な場所での剥離状況を確認することができる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ワイヤレス操作を実現！コードが邪魔で顕微鏡を使いづらかった環境でも活躍
『3R-WM601WIFI』は、顕微鏡が捉えた映像をWiFi機能付きのタブレットや スマートフォンに映し出すワイヤレスデジタル顕微鏡です。 撮影したデータもそのまま機器内に保存可能。 また、ワイヤレス・有線の両方に対応しているため、使用する無線に 制限がある環境では有線で使用するなど、使用環境に合わせて 接続方法を選択できます。 【専用アプリの特長】 ■2画面表示で比較できる ■同じ画像内で続けて計測が可能 ■計測した値をほかの画像でも使用できる ■補正結果の保存ができる ■スケール表示が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【技術資料進呈中】高感度性能と高波数精度を両立！コンパクトかつ堅牢な分散型顕微ラマンシステム
『SENTERRA II』は、品質管理等のルーチン分析から先端の研究分野まで対応する ブルカーならではの高性能システムです。 一般的なラマン顕微鏡では、分光器が顕微鏡と分離されたシステムがほとんどで、 性能を維持するために多くの時間を割く必要があります。 当製品は励起レーザー、分光器、顕微鏡が一体となったコンパクトかつ堅牢な 統合システムで、その効率的な光学設計により、高い性能と安定性を達成しています。 また、迅速に結果が得られるようにスムーズかつ的確にオペレーターをサポート。 試料の可視観察からスペクトル品位の確認、測定領域の設定まで、データ測定の 手順をステップごとにガイドします。 【特長】 ■高度に自動化された各種機能と効率的な操作性 ■コンパクト＆堅牢設計 ■効率性と柔軟性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
柔軟な拡張性を備える研究開発用FT-IR顕微鏡。QCL 赤外レーザーによるイメージング機能を1つの装置に組み込むことが可能です。
HYPERION II は、赤外顕微鏡における技術革新です。赤外イメージングを回折限界に到達させ、顕微 ATR における基準を作りました。さらには透過・反射・ATR のすべての測定モードにおいて FT-IR 顕微鏡と赤外レーザーイメージング顕微鏡機能 (ILIM) の両方を 1 台で実現する、世界初のシステムです。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
分析作業効率の飛躍的な向上はもちろん、新たなアプリケーションも期待されます！
赤外顕微鏡「HYPERION II」は、従来の顕微FT-IR測定に加え、QCLによる 赤外レーザーイメージングに対応します。 当資料では、「FT-IRを用いた精密機械のQA/QCについて」をはじめ、 「関心領域（ROI：Regions Of Interest）の迅速な検出」や「赤外レーザー イメージングを使用したROIの検出」などを掲載。 QCLとFT-IRとのコンビネーションは、ROIの速やかな検出と、それらの情報に 基づくより正確な定性分析を実現します。 【掲載内容】 ■FT-IRを用いた精密機械のQA/QCについて ■関心領域（ROI：Regions Of Interest）の迅速な検出 ■FT-IRとQCLのコンビネーションによるメリット ■赤外レーザーイメージングを使用したROIの検出 ■FT-IRによる分析の信頼性の向上 ■FT-IRとレーザーイメージング：強力なコンビネーション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
微小な塗装の欠片も分析することが可能！実際に事故車両の特定に貢献しています
赤外顕微鏡は、微小物の組成を同定できる分析ツールの1つであり、法科学の 証拠分析においても不可欠なものとなっています。 当資料で紹介するブルカーの「HYPERION II-ILIMシステム」による、IRレーザー イメージングと顕微FT-IR測定を併用した分析法は、分析時間を大幅に 短縮しつつ、分析の質をさらに向上させることができます。 ぜひ、ダウンロードしてご覧ください。 【掲載内容】 ■IRレーザーイメージングとFT-IRで使用される光源のちがい ■IRレーザーイメージングとFT-IRを併用した分析法 ■応用例：自動車の塗装片 ■ゲームチェンジャー：IRレーザーイメージングとFT-IR測定を1台の装置で実現 ■測定結果：効率と信頼性の向上 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
凸凹な対象物も広範囲にピントが合う！電子機器、バイオメディカルにも最適なデジタルマイクロスコープ
『ディノライト エッジシリーズ』は、画期的な新機能と新設計によって 使い勝手の良さと高品質の両立を実現したデジタル顕微鏡です。 操作は簡単。つぶれや色とび、焦点のズレのない画像が手軽に取得可能。 液体中の物体や触れることができない精密機器、 電子部品など幅広い対象物の検査に使用できます。 【特長】 ■奥行きがあっても全体にピントが合う EDOF（強化被写界深度）機能 ■白とびや暗部のつぶれを補正する EDR（拡大ダイナミックレンジ）機能 ■モニターと倍率操作がシンクロする AMR（自動倍率読み取り）機能 ■フォーカスバーとオート＆マニュアルフォーカス ■先端部アタッチメントの取り外しや交換によるカスタマイズ変更が可能 デモ機のご用意もございます。 詳しくはカタログをご覧下さい。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
高画質HDMI/DVIやVGA/D-Sub出力に対応したモニター接続用マイクロスコープ
『Dino-Lite（ディノライト）モニター用シリーズ』は、 モニターやTVのHDMIまたはDVI端子に接続して、 パソコンを経由せずに直接画像を映し出すデジタル顕微鏡です。 720pのデジタルHD超高画質での観察が可能です。 パソコンを必要としないので簡単に素早く作業を開始できます。 また、本体のボタンを押すことにより画像を静止させることが可能です。 【特長】 ■HDMI/DVI 超高画質デジタル出力 ■D-Sub/VGA高画質出力 ■アルミ合金の精密ダイキャストボディを採用 ・非常に剛性が高く堅牢さがアップ 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
対象物を非接触で観察・撮影！ワンタッチ撮影ボタン搭載のデジタルマイクロスコープ
『Dino-Lite（ディノライト）望遠シリーズ』は、対象物から約50mm離した状態で観察・記録することが可能なデジタル顕微鏡です。 本体を入れることができない狭いところにあるもの、液体中の物体、触れてはいけない精密機器の部品チェックなど、本格的な業務用途としてもマルチにお使いいただけます。 【特長】 ■対象物を非接触で観察・撮影可能 ■ワンタッチ撮影ボタンを搭載 ■倍率ロック機構付新ボディ ■先端部取り外しモデルはアダプター交換可能 ■測定のキャリブレーション（較正）が可能 ・測定精度を高めることができる 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
[デモ機あります。ご依頼ください]バッテリー内蔵モニターが付属のDino-Lite。持ち運んでどこでも使用できるデジタル顕微鏡
『Dino-Lite（ディノライト）ポータブルシリーズ』は、携帯可能な液晶モニター付きバッテリー内蔵のレコーダーが付属で、思った時に好きな場所に持ち運んで使えるデジタル顕微鏡です。 パソコンなしで、その場でSDカードに静止画や動画の記録ができます。 フィールドワークに最適です。 【特長】 ■10～230倍に拡大可能 ■白色LEDライトを搭載 ■SDHCカード(～16GB)への動画と静止画の撮影機能やテレビ出力機能装備 ■バッテリー内蔵でAC、USBで充電可能 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
深さ方向の光学情報をより高速に取得し、リアルタイムな三次元光イメージングが可能!
走査型レーザー顕微鏡は集光したレーザー光を試料上で走査し、試料からの反射・散乱光や蛍光を計測することで試料の微細構造や蛍光プローブの局在を可視化する。従来の走査型レーザー顕微鏡は、顕微鏡の光軸に直交する面（観察面）の２D画像の高速取得が可能な一方、三次元観察のためには観察面を光軸方向に機械的に移動しながら逐次画像取得を行う必要があり、リアルタイムでの三次元画像の取得が困難であった。 本発明では、検出信号に対する波面制御を原理として、観察試料の光軸方向に沿った空間情報を受光面での空間的な位置情報として検知することを可能にした。本発明によって、光学系や検知対象物を光軸方向への移動無しに、レーザー集光スポットの二次元走査のみで対象の深さ情報を一挙に取得する、高速な、リアルタイム三次元イメージングを可能にする。
