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多重散乱の効果を低減！サンプルのまま測定することが可能な粒子特性評価装置
日本カンタム・デザインの『LS Spectrometer』は、 洗練された、SLSやDLSに基づく粒子特性評価装置です。 データに与える多重散乱の寄与を省くために、革新的な 3Dクロスコリレーション技術を採用しており、サンプルを希釈する 必要はありません。 サンプル本来の状態のまま、粒径や形状・構造因子、分子量、回転 および並進拡散係数を測定することができます。 【特長】 ■SLSやDLSに基づく粒子特性評価装置 ■サンプルを希釈する必要がない ■サンプル本来の状態のまま測定することが可能 ■多重散乱の効果を低減するのに有効 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
界面せん断強度・接触角を測定！マイクロドロプレット法による複合材界面特性評価装置
『MODEL HM410』は、マイクロドロップレット法を用いた繊維と樹脂界面の せん断強度測定と接触角測定ができる複合材界面特性評価装置です。 任意の温度環境下で極細単遷移に液状樹脂を付着させ、 その形状を撮影し、画像から接触角を求めます。 同時に同一サンプルを使って引抜試験を行い、その時の引抜荷重から、 遷移と樹脂の界面せん断強度を測定します。 【特長】 ■マイクロドロプレット法を用いた評価装置 ■画像から接触角を測定 ■引抜荷重から遷移と樹脂の界面せん断強度を測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
性能確認のための良品特性測定、不良特性測定や信頼性評価をすることが出来ます！
当社では、液晶パネルにおいて特定のTFTに対し、性能確認のための 良品特性測定、不良特性測定や信頼性評価をすることが出来ます。 「TFTの各温度での電気特性測定」では、表示状態のモニターを解体し、 パネル内の画素TFTに対して、電気特性測定が可能。 「DCバイアスストレス試験」では、Gate,Drainに任意のDCバイアスを印加し TFTにストレスを与えたときのVthシフトを測定し、信頼性確認を行います。 【特長】 ＜TFTの各温度での電気特性測定＞ ■パネル内の画素TFTに対して電気特性測定が可能 ■アニール前後、光照射、加温や冷却下で測定できる ■測定結果からIon、Ioff、Vth、移動度の指標を算出 ■良品解析での実力値の確認や不良原因の解明を行う ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
メタマテリアル(微細凹凸構造)の品質チェックを容易に行えます
微小な単位構造の周期配列からなるメタマテリアルは、その単位構造に欠陥が生じると、所望の光学特性が得られない場合がある。そのため従来より種々の品質評価方法が用いられているが、従来の品質評価方法では大面積を効率よく低コストで判別する手段がなく新しい手法が望まれていた。本発明はメタマテリアルに代表される周期構造体に入射した光から得られる回折像に、位相の情報を加えることで得られる再構築像の欠陥から、光学特性の品質を予測することができるため、従来技術に比して、安価で品質評価にかかる時間を短縮でき、最終的にはコスト低減できることが期待できる発明である。
