ワイヤ(接合) - メーカー・企業と製品の一覧 | イプロス

ワイヤの製品一覧

1~2 件を表示 / 全 2 件

表示件数

各種組成のワイヤボンディングの断面観察例

蓄積されたノウハウにより加工や前処理、観察手法をご提案!各種ワイヤ断面の観察・元素分析例をご紹介

当社にて、各種組成のワイヤボンディングの断面観察及び 元素分析を行った事例をご紹介いたします。 ワイヤボンディングは半導体チップ上の電極とパッケージ端子を 金属ワイヤで接続する技術で、ワイヤには金(Au)や アルミニウム(Al)、銅(Cu)等の素材が用いられます。 掲載した試料は機械研磨により断面を作成しましたが、観察目的や 試料の組成、構造により適切な処理方法があります。当社の蓄積された ノウハウにより加工、前処理、観察手法や組み合わせを検討、 ご提案いたします。 【各ワイヤの特長】 ■金(Au)ワイヤ:高い導電性を持ち、化学的に安定し酸化しにくいため信頼性が高い ■アルミニウム(Al)ワイヤ:大電流を流す用途に適切 ■銅(Cu)ワイヤ:金よりも電気抵抗が低く、熱伝導率が高い ■パラジウム(Pd)コート銅(Cu)ワイヤ:酸化防止と接合性が向上 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

ブックマークに追加いたしました

ブックマーク一覧

ブックマークを削除いたしました

ブックマーク一覧

これ以上ブックマークできません

会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます

無料会員登録

【CTスキャン】通常の計測器では観察が難しいボンディングワイヤ

内部欠陥の解析や3Ⅾデータの作成まで、お任せください!

材質:プリント基板 観察範囲:5 x 5 (mm) 画像は、ボンディングワイヤを観察した際の様子です。 ボンディングワイヤとは、半導体の接続材料として使われる金属の細い線のこと。 通常の計測器では評価が難しいとされる接合不良や流れ率の算出などを可視化しました。 キャステムでは、Nikon MCT225を利用したCTスキャンサービスを行なっております。 お客様の試料をお預かり、もしくは当社スタッフ付き添いの上にお客様にスキャンしていただくことも可能です。 CTスキャンを行うことで、内部の欠陥を解析や3Dデータの作成、内部寸法の計測等が可能になります。 ご興味がございましたら、お気軽にお問合せください。 ※詳しくは下記からお気軽にお問い合わせください。 https://www.castem.co.jp/contact/

  • 非破壊検査
  • 測定・検査
  • その他計測器
  • ワイヤ

ブックマークに追加いたしました

ブックマーク一覧

ブックマークを削除いたしました

ブックマーク一覧

これ以上ブックマークできません

会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます

無料会員登録