XPS・ARPESの大量データを効率よく解析。比較・ピークフィッティングから定量評価まで
KolXPDは、X線光電子分光（XPS）や角度分解光電子分光（ARPES）などの測定データを可視化・解析する、表面分析・材料研究向けソフトウェアです。 SpecsLab、Spectra、Omicron、VGなどのデータを取り込み、複数のスペクトルを重ねて表示したり、ウォーターフォール形式で測定条件による変化を比較したりできます。 ピークフィッティングでは、設定したフィッティング条件を複数のスペクトルに適用でき、ピーク面積などの変化を効率よく比較できます。大量の測定データはツリー構造でまとめて管理できるため、条件を変えながら取得した一連のスペクトルの比較・解析にも活用できます。 XPSによる材料表面の化学状態の評価をはじめ、XPDやARPESなどの角度分解測定、NEXAFSや共鳴光電子分光などのエネルギー分解実験にも対応。日常的なXPSデータ解析から、多次元・角度分解データを扱う研究まで幅広く利用できます。
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基本情報
【対象製品】 KolXPD メーカー：Kolibrik.net, s.r.o. 【主な機能】 ・XPS、XPD、ARPES、RESPES、NEXAFSなどの光電子分光データの処理・解析 ・複数スペクトルの重ね合わせ、ウォーターフォール表示 ・複数スペクトルのピークフィッティング ・ピーク面積などを用いた定量プレビュー ・角度分解測定データの2D表示、バンドマッピング ・測定データや実験工程をツリー構造で管理 ・SpecsLab、Spectra、Omicron、VGなど各種データのインポート ・解析結果やグラフのエクスポート ※仕様はメーカーの予告なく変更される場合があります。
価格情報
※価格は、為替相場の変動やメーカーの価格改定などにより、予告なく変更される場合があります。 最新の価格はお問い合わせください。
納期
用途／実績例
【主な用途】 ・XPSによる材料表面の元素・化学状態の評価 ・表面処理、成膜、加熱などに伴うスペクトル変化の比較 ・複数のXPSスペクトルのピークフィッティング ・測定条件を変えて取得した大量データの比較・整理 ・ARPESによる電子バンド構造の可視化 ・XPDなど角度分解測定データの解析 ・NEXAFS、共鳴光電子分光などのデータ処理 ■ 表面処理・成膜による変化の評価 処理前後や成膜条件の異なるXPSスペクトルを重ねて表示し、ピーク位置や形状、面積の変化を比較。 材料表面の状態変化の確認に活用できます。 ■ 大量のXPSスペクトルをまとめて解析 複数のスペクトルに同じフィッティング条件を適用し、ピーク面積などの変化を比較。 測定条件を変えながら取得した一連のデータの解析を効率化できます。 ■ ARPESデータの可視化 角度分解測定データを処理し、バンドマッピングなどに活用。 エネルギー・角度分解実験で得られた多次元データの解析にも対応します。
ラインアップ（3）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| KolXPD - perpetual license | 電子納品（電子デリバリー） |
| KolXPD - satellite license | 電子納品（電子デリバリー） |
| KolXPD - 1-year license | 電子納品（電子デリバリー） |
カタログ（1）
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企業情報
テガラ株式会社は、全国の研究開発者様に向けた専門的な製品の調達販売や 情報提供、サポートなどのサービスを統合した研究開発プラットフォームを 形成しています。 スピードが価値を持つ研究開発の分野で、お客様の研究開発の スピードアップのためのお手伝いをし、ひいては日本および世界の 研究・開発の推進をお手伝いすることがテガラの考える使命です。 研究開発者様にとっての心強いパートナーであり続けるために、当社は日々 新しい技術を磨き続け、サポート体制の強化を行っております。 当社はインボイス制度（適格請求書等保存方式）に対応しております。 適格請求書発行事業者登録番号：T3080401003319 見積書・納品書・請求書・領収書などを適格請求書形式で発行可能です。
