半導体およびデバイス分析向け業界最先端の熱画像処理技術
SanjSCOPE NT220は、Microsanj社の主力熱反射イメージングシステムであり、サブミクロンレベルの空間分解能とナノ秒スケールの過渡熱解析を実現します。半導体故障解析、RFデバイス特性評価、先端材料研究向けに設計されたNT220は、マイクロスケールでの熱挙動の特定と解析において、比類のない精度と速度を提供します。 主な特徴とメリット 超高空間分解能– 250nmまでの詳細な熱マッピングが可能。 ナノ秒スケールの熱解析– 高速な過渡的熱現象を捉える。 高度な故障解析– ホットスポット、温度勾配、およびデバイスの欠陥を検出します。 非破壊検査– 半導体、RF、フォトニクスに最適です。 シームレスなシステム統合– 光ポンプ・プローブ技術および多層デバイス試験に対応。
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基本情報
空間分解能： 250nm 時間分解能：ナノ秒スケール 温度感度： 10mK 測定技術：定常状態および過渡状態の熱画像 超高空間分解能– 250nmまでの詳細な熱マッピングが可能。 ナノ秒スケールの熱解析– 高速な過渡的熱現象を捉える。 高度な故障解析– ホットスポット、温度勾配、およびデバイスの欠陥を検出します。 非破壊検査– 半導体、RF、フォトニクスに最適です。 シームレスなシステム統合– 光ポンプ・プローブ技術および多層デバイス試験に対応。
価格帯
納期
用途／実績例
【半導体パッケージングおよびIC 】 – チップの性能と信頼性を最適化します。 【RFおよび5G/6Gデバイス】 – パワーアンプとアンテナの熱管理。 【パワーエレクトロニクス】 – GaN、SiC、IGBTコンポーネントの効率性を確保する。 フォトニクスおよびオプトエレクトロニクス– レーザーダイオード、LED、および光インターコネクトの解析。
詳細情報
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オープン不良個所の特定
ラインアップ（4）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| NT220 | 新デバイス開発・R&D研究開発用 |
| EZ-THERM | アクティブデバイスデスクトップ測定・R&D研究開発・量産検査用 |
| PT500 | 科学研究 |
| PS700 | 熱伝導率特性評価 |
カタログ（1）
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企業情報
アンテナテクノロジー株式会社は、主に無線LAN用各種アンテナ、データテレメトリ用各種アンテナ等の設計・製造・販売を行っている会社です。お客様個々のニーズに合わせた受注開発を得意としており、幅広い分野の電波伝送・高周波伝送技術に対応が可能です。ご要望の際は、是非当社にお問合せください。
