独自技術「ユーセントリック機構」で高倍率観察を簡単に実現。「エレクトロテストジャパン」で新製品の実機を展示
当社は、独自技術「ユーセントリック機構」を採用し、簡単かつ効率的に 高倍率での観察が行える3次元X線CTシステムを提供しています。 斜めCTの撮影では、X線焦点に対象部位を近づけることで 高倍率の断層撮影が可能。細部まで観察でき、実装基板や 半導体デバイスの不具合の発見・解析を強力に支援します。 【特長】 ◎『XVA-160RA』 ■スタンダードモデルをベースに新たに生まれ変わった高精細発生器対応モデル ■ナノフォーカスX線発生器搭載（フォーカスサイズ 250/800nm） ■高倍率1,600倍で細部まで鮮明な観察が可能 ■可視光マッピング機能、フォーカス自動調整機能を搭載 ◎『XVA-160αII“Z”』 ■より高倍率に特化し、パッケージ内部の構造も解析可能なハイエンドモデル ■ナノフォーカスX線発生器搭載（フォーカスサイズ 200nm～） ■高倍率2,000倍で詳細構造まで精密に観察 ■高精細トップテーブル、光軸・回転中心・フォーカス自動調整機能を搭載 ★当社は1月22日（水）から東京ビッグサイトにて開催される 「エレクトロテストジャパン」に出展します。
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基本情報
【展示会概要】 展示会名：エレクトロテストジャパン（第39回 ネプコン ジャパン内） 会期：2025年1月22日（水）～24日（金）10:00～17:00 会場：東京ビッグサイト 東ホール 会期中は、新製品『XVA-160RA』を実機展示するほか、 新しい取り組み内容をご紹介するプレゼンテーションを行います。 ※製品の詳細は資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
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用途／実績例
※製品の詳細は資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
企業情報
当社は、先進のX線デバイス・高精度ステージ・画像処理技術をコアとした 非破壊検査装置の開発と製造をおこなっています。 任意の着目位置を中心に回転観察が可能なユーセントリックステージを用いた XVAシリーズは、ナノレベルでの実装解析や製造ラインでの 高度な品質保証を求めるお客様のニーズに的確にお応えしています。 また、プリント板半田付け実装の検査のみならず、半導体製品や 各種電子デバイス、車載部品・自動車関連、素材・複合材料、 メディカル関連といった幅広い分野の研究、開発、製造を支援しています。
