【展示会出展告知】2019年7月開催の『第9回 非破壊評価総合展』に出展しました!

このたびダイヤ電子応用は、【製造業】から【社会インフラ】に向けた
2年に1度の「非破壊評価」の情報が一堂に集う『第9回 非破壊評価総合展』に出展しました。
来場登録者は約40,000名で、表面欠陥検出や内部欠陥検出などのための
非破壊検査に関する製品やサービスが多く出展されました。
当社も「品質と安全をサポート」を目的として、
検査対象に好適な非破壊検査機器・装置を出展しました。
たくさんのご来場、誠にありがとうございました。
■ブース番号:W2K-36

開催日時 | 2019年07月24日(水) ~ 2019年07月26日(金) 10:00 ~ 17:00 |
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会場 | 東京ビッグサイト 西展示棟、南展示棟(予定) ■ブース番号:W2K-36 |
参加費 | 無料 招待券要(事前請求 ※無料) |
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