黒球熱中症指数計　日本産業規格JISZ 8504に準拠

熱中症対策　気象情報の予測・観測・報知を一元管理　自然災害防災システム　ZEROSAIオプション

職場での熱中症対策義務化に伴い、弊社にも熱中症に関するお問い合わせが増えております。 なかでも「JIS 規格に準拠した暑さ指数（WBGT）を測定したい」というご要望を多く頂戴しています。 結論から申し上げますと 日本産業規格JIS Z 8504に準じた暑さ指数(WBGT)の観測は【自然災害防災システム　ZEROSAI】 の黒球温度計を活用することで実現可能です。 ■ピンポイント気象予測と合わせてリアルタイムな暑さ指数(WBGT)をクラウドで管理 ■基準値超過時には電光掲示板やビジネスチャットでの通報が可能　(LINEWORKS　direct　Wowtalk　Microsoft teams) ■各種観測機器　風速　雨量　水位　騒音振動など　の情報も一元管理 ■API連携可能 ※詳しくはHPをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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建設現場の気象情報を一元管理　線状降水帯、台風、熱中症などの気象対策　NETIS登録番号QSK－150021－VE

【自然災害防災システム　ZEROSAI(ゼロサイ)】NETIS登録製品：登録番号 QS-150021VEはクラウド上で建設現場の気象予測　気象観測　注意報警報　線状降水帯　台風などの情報を一元管理することができます。 合わせて作業従事者の方へは、電光掲示板と回転灯で気象情報や基準値超過の警報を発令しスムーズな情報共有が可能です。 【特長】 ■クラウド上でピンポイントな現場の気象予測と観測情報を一元管理 ■注意報警報　線状降水帯　台風　などの情報も網羅 ■監理者の方へはクラウド上で　作業従事者の方へは電光掲示板と回転灯で気象情報を共有 ■基準値超過時にはビジネスチャットと連携し通報可能　LINE WORKS direct WowTalk　Microsoft Teams ■技術提案や創意工夫で活用できる ■気象予報士による電話コンサルティング ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。

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職場での熱中症対策義務化に伴い、弊社にも熱中症に関するお問い合わせが増えております。 なかでも「JIS 規格に準拠した暑さ指数（WBGT）を測定したい」というご要望を多く頂戴しています。 結論から申し上げますと 日本産業規格JIS Z 8504に準じた暑さ指数(WBGT)の観測は【自然災害防災システム　ZEROSAI】 の黒球温度計を活用することで実現可能です。 ■ピンポイント気象予測と合わせてリアルタイムな暑さ指数(WBGT)をクラウドで管理 ■基準値超過時には電光掲示板やビジネスチャットでの通報が可能　(LINEWORKS　direct　Wowtalk　Microsoft teams) ■各種観測機器　風速　雨量　水位　騒音振動など　の情報も一元管理 ■API連携可能 ※詳しくはHPをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

有線式の離床センサーにこんなお悩みや要望は御座いませんか？ ×有線ケーブルの絡まり、つまづき ×ケーブルの断線・破損 ×センサー一時停止後のスイッチの入れ忘れが心配。 ×ナースコールコンセントから離れた場所でも、離床を知らせてほしい。 そんなお悩みをセンサーに接続するだけでナースコール連動型ワイヤレスセットが解決します！ 当社の提供するナースコール連動型ワイヤレスセットは、 離床センサー「うーご君」「たためる薄型マッ太君」「あゆみちゃん」「置くだけポール君」に 送・受信機を接続することで、ベッド周りの配線が少なく済み、 ケーブルによるつまづきや転倒の不安を軽減、現場環境の整頓に貢献します。 さらに、ナースコールコンセントから離れた場所でも離床センサーをご利用いただけるようになり、より自由な設備配置を可能にします。

2025年7月4日（金）和歌山ビッグ愛 1階 展示ホールにて開催されました、『第8回和歌山県けんさんぴん建設資材フェア』にケイエフは出展致しました。 2025年7月4日（金）17：00まで開催しています。 お近くの方、お時間にご都合がつく方、是非弊社スタッフと交流頂けると幸いです。 詳細はブログで。

この度、ニッケグループのサンコー株式会社 （所在地：東京都千代田区、代表取締役：荒井太智）は、2025年7月1日に開催された臨時取締役会において、前取締役である荒井太智が代表取締役に選任され、2025年7月1日付で就任いたしましたことをご報告申し上げます。 なお、前代表取締役の山光博康は、同日付で会長に就任いたしましたことを、併せてご報告申し上げます。

当社では、信頼性試験から故障解析までの一貫した解析を行っております。 それにより、サンプルが規格を満たしているか確認すると共に、 Failしたサンプルの不良箇所の特定及び観察をする事が可能。 お客様のご要望、目的に応じた試験や解析をご提案、実施し、 原因究明～問題解決までのお手伝いをいたします。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問合せください。 【解析の流れ】 ■信頼性試験による半導体素子のスペック確認 ■不良箇所特定～TEMによる故障箇所の観察 ・EMS/OBIRCH解析による不良箇所特定 ・TEMによる故障箇所の観察