MES2024 第34回マイクロエレクトロニクスシンポジウム 企業展示ブース出展のご案内

業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

従来モデルよりプラットフォームを一新し、プローブ移動速度を最大50％アップさせるとともに、コンタクト位置精度を飛躍的に向上させました。フレキシビリティに富んだ新しい高精度･広範囲測定システムや、画期的な4ヘッド6フライングプローブ機構によって、基板品種・生産量を問わず、実装工程における検査コストの削減・品質向上に多大な効力を発揮します。 ★岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。

• 測定・検査

業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。（検査可能基板サイズ：985×610まで対応）

APT-1340Jの基本性能はそのままに、対応基板サイズをW635×D610mmまで拡大したモデルです。 さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板の検査が可能です。 搭載部品高さ60mm、基板重量10kgまで対応できますので、車載/航空機/医療機器などに使用される基板や、 電源基板・プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。 ★岡山本社のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。 ※製品についてはPDFをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 測定・検査

上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストを可能にしたフラッグシップモデルです。

基板の上面に4本、下面に２本のプローブを配置。 それぞれが自在に高速移動し、 世界最高水準の驚異的な検査スピードを実現するフラッグシップモデルです。 上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査で 基板の上面・下面の両ポイントへの同時コンタクト検査を可能としました。 検査可能範囲を大幅に拡大し、検査時間のさらなる高速化を実現しています。 豊富な機能を備え、スピードや位置決め精度においても世界最高水準を誇ります。 ★岡山本社のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。

• 測定・検査

上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストが可能です。（検査可能基板サイズ：985×610まで対応）

上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査で 基板の上面・下面の両ポイントにコンタクトが可能な部品の検査を可能としました。 スピードや位置決め精度においても世界最高水準を誇りつつ、 対応基板サイズをW635×D610mmまで拡大したモデルです。 さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板も検査可能です。 搭載部品高さ60mm、基板重量10kgまで対応できますので、車載/航空機/医療機器などに使用される基板や、 電源基板・プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。 ★岡山本社のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。

• 測定・検査

ICTとBSTの相互補完によって、新たな価値を創造します。

フライングプローブテスタによるインサーキットテストは、アナログ回路における実装電子部品の電気特性検査を得意としております。しかし、プロービングできない部品は電気的検査が困難で、デジタル回路の機能検査は難しいです。一方、バウンダリスキャンテストは、LSIピン間の相互接続検査・FPGA等へのオンボードプログラミングが短時間で行えますが、バウンダリスキャン規格に準拠しているIC周辺のデジタル回路のみ検査可能で、接続に専用の治具を要するという課題もあります。 タカヤ株式会社では、バウンダリスキャンテストで必要となる4～5本のスキャン対応ピンと計測器を繋ぐ治具の代わりに、フライングプローブを用いる技術を保有しております。これによって、バウンダリスキャン準拠ICの相手先が 非バウンダリスキャン準拠IC・受動部品(コネクタ等)であっても、フライングプローブを仮想バウンダリスキャンセルとして機能させることで、バウンダリスキャンテストを行っていただくことが可能です。 フライングプローブテスタ一台で、デジタル/アナログ回路の両方を一括検査できるなど、今まで以上に検査効率を高められる技術です。

• 測定・検査

富士高周波工業株式会社は、2025年11月26日（水）に無料オンラインセミナー 『マルチレーザワイヤDED Meltioの紹介』を開催いたします。 弊社は、2023年まで、粉末を使ったレーザクラッディングに特化してきました。 2023年4月に導入したMeltioは、ワイヤーを使ったレーザクラッディングになります。 供給材料がワイヤーと粉末、それぞれどのようなメリット・デメリットがあるのかについて説明します。 【こんな方にオススメ】 ■最新のレーザクラッディング技術について知りたい ■ワイヤーを使った金属の3Dプリンター技術について知りたい

2025年11月11日（火）～13日（木）に開催される interOpto2025 / 光とレーザーの科学技術フェア＠パシフィコ横浜 展示Cホール に出展いたします。 小間番号D-11　是非ともご来場ください。

AIの進化によって登場したエージェンティックAIは、ビジネスプロセスを変革する可能性を秘めています。多様な領域でAI導入が進む一方で、情報管理やセキュリティ体制の不備が、事業継続や企業価値を大きく揺るがすリスクとなることも現実です。 本フォーラムでは、AIの最新活用事例と、組織を守るためのセキュリティ戦略を両軸で取り上げ、最前線のソリューションを紹介します。また、切り口の異なる3つのセッションをご用意し、NRIグループの専門家が解説します。

弊社ではこのたび、東京ビッグサイトで開催される「建設ＤＸ展」へ出展します。本展示会は、BIM・CIM・CAD、建設業向けAI、現場管理・工程管理、測量機器、業務効率化システムなど、建設業のDX技術が出展します。ゼネコン・サブコン・建設会社などが製品・技術の導入を目的に来場する建設DXの専門展示会となっております。 弊社からもAIを活用した各種ソリューションをご紹介致します。 出　展　品　　・AI鉄筋出来形計測システム『AIJO 配筋王 -AIJO HiKing-』 　　　　　　　・AI監視ソリューション『AIJO Site Monitor』 　　　　　　　・作業前の安全具装着点検『AIJO Safety』　　

従来の暗号技術が無力となってしまう量子時代を見据え、耐量子計算機暗号（PQC）への移行が急がれます。しかしながら、（量子コンピュータの影響を受けやすいとされる公開鍵暗号をはじめとした）暗号技術は、世の中のさまざまなところで使用されており、利用箇所や状況の把握だけでも大変なうえ、移行にあたって関わるステークホルダーが多岐にわたるため、 PQCへの移行は簡単ではありません。 本セミナーでは、耐量子計算機暗号の最新動向と、移行をスムースに進めるために、現状把握から計画策定、体制づくり、ステークホルダーへの調整、経営資源の配分等、事業者が考慮すべき事項や関連ソリューションなどについて解説します。 ＜セッション1＞ 耐量子計算機暗号の最新動向と移行に向けた初手 講演者：NRIセキュアテクノロジーズ 深沢 彩花 ＜セッション2＞ PQC移行に向けた３つの具体策と海外事例 講演者：タレスDISジャパン 池田　浩志 【参加対象】 ・耐量子計算機暗号（PQC）移行をお考えの方 ・セキュリティ部門、情報システム部門の方