JTAGテスト技術の最新動向がわかる!バウンダリスキャン公開研究会のご案内(9/25 オンラインセミナー)【産業機器事業部】
9/25(月)に開催される、バウンダリスキャン公開研究会(オンラインセミナー)にて、アンドールシステムサポート株式会社 谷口様と、タカヤ株式会社 柳田が共同で講演を行います。詳細は関連資料のPDFファイルよりご確認いただけます。皆様、是非ご視聴ください。
<基調講演>
「チップレット時代における半導体パッケージ革命」
Rapidus株式会社 専務執行役員 折井 靖光 氏
<講演1>
「バウンダリスキャンによるチップレットのテストと評価」
愛媛大学 亀山 修一 氏
<講演2>
「フライングプローブテスタとJTAGテストのハイブリッド検査」
アンドールシステムサポート(株) 谷口 正純 氏
タカヤ(株) 柳田 光輝
<講演3>
「バウンダリスキャンテストとCAEの連携によるHALT試験におけるBGA信頼性評価」
(株)先端力学シミュレーション研究所 前澤 祐 氏

| 開催日時 | 2023年09月25日(月) 13:30 ~ 16:50 オンライン研究会 (Zoom) |
|---|---|
| 参加費 | 有料 リンクより参加申し込みをお願い致します。 |
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