『FISCHERSCOPE MMS PC2』は、様々な測定方式による膜厚測定を 1台で可能とし、品質管理が重視されるあらゆる分野で使用されている 卓上型マルチ測定システムです。 膜厚、伝導率、フェライト組織量などに測定に関して、高精度で 繰り返し精度の高い測定を提供します。 また8種類のモジュールボード搭載可能で、プローブ交換することにより様々な測定が可能です。 【特長】 ■多くの測定アプリケーションに応用可能 ■あらゆる分野で活躍 ■高い汎用性 ■膜厚測定と材料試験を1台で測定可能 ■USBポート、RS232接続によるデータ転送が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測器

『フィッシャージャパン　製品カタログ』は、膜厚測定器、素材分析器、 微小硬さ試験機、材料試験器の販売・保守サービス等を行う、 株式会社フィッシャー・インストルメンツの製品カタログです。 電磁式、渦電流式で非破壊方式で膜厚を測定するハンディタイプの 「DELTASCOPE FMP10/FMP30」や、卓上型のマルチ測定システム 「FISCHERSCOPE MMS PC2」などを掲載しています。 【掲載内容】 ■知識・能力・経験、それらに基づいた信頼 ■膜厚測定と材料試験 ■膜厚測定と材料分析 ■材料試験 ■微小硬さ測定　ほか ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測器

『FISCHERSCOPE HM2000』は、ISO14577に準拠したマイクロレンジの 微小硬さ試験機です。 測定ヘッドHT2000を搭載し、高剛性の石製構造体と大型のプログラミング ステージ（X軸170mm、Y軸140mm）の組み合わせで、試料の大きさを気にする ことなく、簡易な試料調整で迅速かつ高精度なインデンテーションを行う ことが出来ます。 【特長】 ■高精度なプログラミングXYステージ ■小さい構造体でも±0.5μm（オプション）の位置決め精度で測定 ■防風チャンバとアクティブ除振台を使用して除振効果（オプション）が可能 ■ソフトウエアWIN-HCUによって直感的操作が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測器

膜厚測定の原理では、電磁式・渦電流式・渦電流位相式・ホール効果磁気式・電気抵抗式・蛍光Ｘ線式・電量分析式（電解式）など測定物に合わせた様々な膜厚測定の原理をご紹介します。 【測定の対象】 ■磁性金属（鉄、鋼など）素地上の非磁性皮膜（メッキ、ペイント、樹脂膜など） ■非磁性金属（アルミ、銅、オーステナイト系ステンレスなど）素地上の絶縁皮膜（塗膜、樹脂膜、アルマイトなど） ■Fe上のZn、Cu、Al、Niメッキの膜厚 ■非鉄金属、鉄、絶縁材上のペンキ、プラスチック、セラミックコート ■亜鉛メッキ鋼板上のZnを含む有機系コーティング ■金属、非導電性基板上の金属皮膜 ■Al上のNiメッキ　　　など ※詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問合せください。

• その他計測器

デュアルスコープMP0Rシリーズは、プローブを一体化し取扱いを容易にした、非破壊式のポケットタイプ膜厚計です。下地材を自動で認識して、電磁式と渦電流式を自動切換えして簡単に測定できます。非常に優れた繰返し精度を実現します！ 防錆、塗装産業、造船産業、建築構造物等の塗膜管理やアルマイトの膜厚管理などに最適です。

• その他計測器

フィッシャーの製品ラインは、極めて様々なアプリケーションと様々な業界を対象とした、幅広い領域の測定・分析装置に及んでいます。最適の精度で正しい結果を得るために、それぞれにふさわしい測定方法を使用します。電磁式または渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さ法（インデンテーション）、あるいは蛍光X線式など、いずれの方式でもフィッシャーは適正な技術を持ちベストなソリューションをご提供いたします。

• その他計測器

コンピュータ制御による自動試験システムで、DIN EN ISO14577 DIN50359の規格に基づき、応用範囲が広く、高い精度で硬さをはじめ、他にも貴重な物性データが得られる画期的な硬さ試験機です。将来を先取りした全く新しい技術をベースにしています。 ●物理学的に重要な硬さ値HM（マルテンス硬さ値）、HU（ユニバーサル硬さ値）をはじめ、幅広い関連物性データが得られます。 ●どのような材料にも、また非常に薄い皮膜にも応用できます。 ●オペレータの主観によるエラーが全く起こりません。試験が自動化され、試験結果がコンピュータ処理されるので経済的です。

• その他計測器

『XDALシリーズ』は、微小部品や複雑な構造部品を非破壊で膜厚測定と 素材分析をするのに好適な蛍光X線式測定器です！ また、プログラム可能な電動式XYステージを搭載しており、自動測定で 品質管理や生産管理における測定にも適しています。 さらに当シリーズは、FISCHERSCOPE X-RAYシステムの特長である 高精度かつ長期安定性により再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。 【特長】 ■微小部品や複雑な構造部品を測定可能 ■非破壊で膜厚測定や素材分析ができる ■プログラム機能付き電動式XYステージを搭載 ■品質管理や生産管理における測定にも好適 ■再校正（キャリブレーション）に必要な時間や労力を大幅に削減 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測器
• 非破壊検査

『PICODENTOR HM500』は、ナノレンジの多層コーティング・微細構造物・ メッキ断面などの硬さ測定ができる測定器です。 ピコメートル領域での高精度の距離測定や、数マイクロニュートンまでの 小さい荷重調整ができるので、 当製品を使用して、 荷重/押込み深さ法(インデンテーション試験法)によって超薄型の皮膜 または表面部分の機械的物性を特徴づけることができます。 【特長】 ■硬さ測定ができる ■プログラミング可能なXYステージ、電動Z軸、高倍率顕微鏡カメラを搭載 ■微小部測定が容易 ■サンプルの前処理無しでほとんどのサンプルを素早く測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測器

X線源と検出器が測定チャンバ―の下側に配置されており、迅速かつ容易なサンプルのセッティングが行えるよう設計されています。 コンパクトな設計ですが、量産品の測定用に設計されており、大きなサンプルを測ることもできます。

• その他計測器

『PHASCOPE PMP10』は、さまざまな基板の金属皮膜の測定が可能な 渦電流位相式膜厚計です。 渦電流位相式(過電流位相変位感応式)を採用。 表面の粗い膜や小型部品、スルーホール内の銅メッキなどの膜厚測定に適しています。 また、粗い表面の測定においても影響が少なく正確に測定ができ、 完全にプローブが対象となる試料の表面に密着せずとも測定が可能です。 【特長】 ■粗い表面の測定においても影響が少なく正確に測定できる ■渦電流位相式(過電流位相変位感応式)を採用 ■プローブが対象となる試料の表面に密着せずとも測定可能 ■鉄上のニッケル層の膜厚の測定に好適 ■PCへのデータ転送・統計処理のFischer Data Centerソフト付き ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測器

金・プラチナ・ロジウムめっき品等の貴金属買取ビジネスに新提案！ 卓上型エネルギー分散方式蛍光X線分析器 ■□■特徴■□■ ■貴金属全般・金・プラチナ・銀・ロジウム・ホワイトゴールド・ イエローゴールド・コイン等あらゆるジュエリー用の合金およびコーティングを 迅速に非破壊で分析するために最適化された製品 ■正確・安全で使い易く頑丈でメンテナンスフリー ■DIN ISO 3497およびASTM B 568に準拠 ■高速パルスプロセッサーと連動した高解像度半導体検出器によって、 精度が極めて高いと共に検出限界を非常に低く抑える事ができる

• その他計測器

■　測定方向が下側から照射されるため、サンプルのポジショニングが容易 ■　シリコンドリフト検出器搭載により、高分解能・高感度な測定が可能（XAN250、XAN252） ■　コンパクト設計 ■□■ラインナップ■□■ ■FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 (X線検出器：PINタイプ） ■FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250（X線検出器：SDDタイプ) ■FISCHERSCOPE X-RAY XAN 252（X線検出器：SDDタイプ)

• その他分析機器

『DUALSCOPE FMP100』は、品質管理において優れた性能を発揮できる 携帯タイプの膜厚測定器です。 当製品のキーパッドつき高解像度タッチスクリーンは、スタイラスや指で 操作ができます。 また、広範囲の高性能プローブが使用でき、高品位アプリケーション用の 特殊プローブをはじめ、様々な種類が使用できます。 【特長】 ■品質管理において優れた性能を発揮 ■キーパッドつき高解像度タッチスクリーンを搭載 ■数千種類の測定アプリケーションのキャリブレーション・パラメターを記憶可能 ■FMP150：3種類(渦電流式・電磁式磁気式ホール効果)の測定方式が1台で使用できる ■広範囲の高性能プローブが使用可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測器