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株式会社アイテス

設立平成5年1月1日
資本金3000万
従業員数106名
住所滋賀県大津市栗林町1番60号
電話077-599-5015
最終更新日：
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アイテスのカタログ一覧

226～270 件を表示 ／ 全 353 件

表示件数

【SEMによる破断面観察】カニカン

技術資料・事例集

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Liイオン電池セパレータの解析

技術資料・事例集

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FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術

技術資料・事例集

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FT-IRによる樹脂硬化度の測定

技術資料・事例集

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【保有設備】FIB（Focused Ion Beam)

技術資料・事例集

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EPMA分析

技術資料・事例集

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EPMAによる微量元素の検出

技術資料・事例集

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EPMAによる状態分析

技術資料・事例集

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【EBSDによる解析例】カニカン

技術資料・事例集

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CCDカメラモジュールの断面加工観察

技術資料・事例集

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【不良解析事例】ACアダプターのX線観察

技術資料・事例集

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Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始

製品カタログ

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【資料】EBSDによるウイスカ解析

その他資料

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【資料】イオンクロマトによる低分子有機酸の分析事例

技術資料・事例集

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発光解析のための半導体の裏面研磨

製品カタログ

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LEDの故障解析

その他資料

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【資料】化学反応機構研究所 異種材料界面剥離メカニズム1

その他資料

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超微⼩硬度計による材料評価

その他資料

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EBSDによる解析例（セラミック）

その他資料

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顕微ラマンによる無機化合物の分析

製品カタログ

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顕微ラマンによる金属腐食の分析

製品カタログ

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【資料】化学反応機構研究所　材料変色原因解明事例

その他資料

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液晶パネルの不良解析

製品カタログ

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フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析

製品カタログ

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パワー半導体の解析サービス

製品カタログ

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ウィスカ評価

製品カタログ

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EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み

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EELS分析手法による膜質評価

製品カタログ

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FIB-SEMによる半導体の拡散層観察

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LCDパネル良品解析

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LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察

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SiCデバイスの裏面発光解析

製品カタログ

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静電破壊した橙色LEDの不良解析

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短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析

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ICの不良解析

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表面実装電子部品の断面観察サービス

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実装部品・電子部品の断面研磨サービス

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【受託分析】レーザー顕微鏡（観察＆測定）

製品カタログ

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【受託分析】レーザー顕微鏡（高精度3D測定＆カラー観察）

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クロスセクションポリッシャー(CP)法による断面観察サービス

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EBSD法による解析例

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EBSD法によるCu結晶解析

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EBSD解析

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【EBSDによる結晶解析】はんだ接合部における金属間化合物

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【EBSDによる結晶解析】BGA

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