その他

株式会社アイテス

設立平成5年1月1日
資本金3000万
従業員数106名
住所滋賀県大津市栗林町1番60号
電話077-599-5015
最終更新日：
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アイテスのカタログ一覧

226～270 件を表示 ／ 全 365 件

表示件数

反応熱分解GCMSによる検出困難物質の分析

製品カタログ

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【資料】断面作製方法

その他資料

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【資料】卓上型SEM(電子顕微鏡)によるネオジム磁石の断面観察

その他資料

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卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察

その他資料

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卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』

その他資料

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【資料】太陽電池モジュールの断面観察

その他資料

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【資料】機械研磨法による加工ダメージ

その他資料

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パワーデバイスのHAST試験

製品カタログ

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角型Liイオン電池の構造解析

技術資料・事例集

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ウィスカ観察

技術資料・事例集

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異物分析のための試料加工技術

技術資料・事例集

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ミクロトームによる断面作製

技術資料・事例集

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【観察事例】トグルスイッチのX線観察

技術資料・事例集

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デジタルマイクロスコープによる外観観察

技術資料・事例集

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【イメージングFT-IRによる有機多層膜の分析】多層フィルム

技術資料・事例集

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【イメージングFT-IRによる有機多層膜の分析】アルミ

技術資料・事例集

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イオンクロマト分析

技術資料・事例集

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【SEMによる破断面観察】カニカン

技術資料・事例集

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Liイオン電池セパレータの解析

技術資料・事例集

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FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術

技術資料・事例集

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FT-IRによる樹脂硬化度の測定

技術資料・事例集

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【保有設備】FIB（Focused Ion Beam)

技術資料・事例集

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EPMA分析

技術資料・事例集

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EPMAによる微量元素の検出

技術資料・事例集

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EPMAによる状態分析

技術資料・事例集

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【EBSDによる解析例】カニカン

技術資料・事例集

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CCDカメラモジュールの断面加工観察

技術資料・事例集

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【不良解析事例】ACアダプターのX線観察

技術資料・事例集

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Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始

製品カタログ

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【資料】EBSDによるウイスカ解析

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【資料】イオンクロマトによる低分子有機酸の分析事例

技術資料・事例集

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発光解析のための半導体の裏面研磨

製品カタログ

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LEDの故障解析

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【資料】化学反応機構研究所 異種材料界面剥離メカニズム1

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超微⼩硬度計による材料評価

その他資料

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EBSDによる解析例（セラミック）

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顕微ラマンによる無機化合物の分析

製品カタログ

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顕微ラマンによる金属腐食の分析

製品カタログ

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【資料】化学反応機構研究所　材料変色原因解明事例

その他資料

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液晶パネルの不良解析

製品カタログ

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フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析

製品カタログ

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パワー半導体の解析サービス

製品カタログ

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ウィスカ評価

製品カタログ

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EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み

製品カタログ

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EELS分析手法による膜質評価

製品カタログ

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