『N54シリーズ』は、2000V耐圧仕様のパワーデバイステスターです。 FPGAの搭載により、テスター内部をフルロジックで同期させ、 高速測定を実現しています。 また、ハンドラー等装置への組込が容易かつ、テストステージまでの 配線距離が短縮され測定品質が向上しています。 【特長】 ■2000V耐圧仕様 ■低インピーダンス ■スイッチング特性 ■ハイスピード ■シンプル ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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『N50シリーズ』は、200V耐圧仕様で、デスクトップサイズのパワー デバイステスターです。 ハンドラー内に収納ができ、デバイス直近に設置可能。静特性、熱抵抗、 L負荷測定（アバランシェ）を行うことができます。 また、当社では、開発評価用途等のカスタムニーズにも対応致します。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■200V耐圧仕様 ■デスクトップサイズ ■ハンドラー内に収納 ■デバイス直近に設置可能 ■ラインアップ：静特性、熱抵抗、L負荷測定（アバランシェ） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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パワーデバイステスター『N50シリーズ』『N54シリーズ』は、 ディスクリート半導体や小規模なロジックデバイスに特化した製品です。 ニーズに応じてSiC、GaNデバイスにも対応できる計測や治具開発も行います。 【ラインアップ】 ＜『N50シリーズ』（200V耐圧仕様）＞ 　■FPGAの搭載でテスター内部をフルロジックで同期でき、高速測定を実現 　■コンパクトなサイズでハンドラー内への組み込みが簡単 　■測定項目：静特性、熱抵抗、L負荷 ＜『N54シリーズ』（2000V耐圧仕様）＞ 　■高耐圧＆低インピーダンス 　■di/dt＝20kA/μSを実現 　■測定項目：静特性、熱抵抗、短絡耐量、スイッチング特性、RBSOA/RRSOA ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

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S-Lightは、フィルム（偏光/PET等）やガラスなど透明体の欠陥検査、鏡面・精密塗装面の表面検査（ヒケ，ウェルドライン，白ボケ，オーロラマーク）など、従来の照明では確認できなかった欠陥が簡単に発見できるようになります。 《特徴》 ◎新開発　光をコントロールした特殊ランプ ◎模倣光　ランプは太陽光の視認性を再現 ◎未曾有　レンズレスの照明装置 ◎広範囲　約60°の角度に均一照射 ◎鮮鋭化　照射間の広域でシャープに写像 ◎小軽量　手持ちでの作業が可能 ◎固定可　カメラ用三脚ネジ対応 ◎耐傾斜　光源BOXの可動域は180°（上方90°・下方90°） ◎多用途　画像処理用光源としても機能 つまり、セッティングの自由度が極めて高い。 《応用》 ・メッキや鏡面金型の検査　等 ・各種光学実験　他 《海外出荷終了のお知らせ》 2020年12月をもって海外出荷を終了させて頂く事となりました。 《デモ窓口・販売店》 ・株式会社菱光社　営業技術本部　TEL:03-5548-0212 FAX:03-5548-0213

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