『SYNC』は、高精度な粒子径分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒子径分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の 高角度にて連続面として検出し、粒子径分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm ■高精度な粒子径分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 　粒子径分布（粒度分布）測定 ■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、 　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『MT3000 IIシリーズ』は、マイクロトラックに3本の半導体レーザを 搭載し、ワイドレンジ・高分解能を実現した粒子径分布（粒度分布）測定装置です。 粒子の光散乱情報から正確に粒子径情報を検出する為には、0～360度の 光散乱情報を検出する必要があります。 マイクロトラックでは独自のトリレーザーシステムを採用することにより、 すべての散乱光を連続して検出することが可能な機構となっています。 【特長】 ■同一モジュールで4機種ラインアップ（アップグレード可能） ■3本レーザーと独自の検出機構 ■外部セル方式の採用により、湿式測定と乾式測定の切り換えがスムーズ ■測定光学部と循環部がセパレートなため、試料の特性に応じて、 　試料供給器をフレキシブルに選択可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『AEROTRAC II』は、短い測定間隔で高精度な粉粒体解析するレーザ回折式 の粒度分布（粒子怪分布）測定装置です。 限られたスペースでも装置設置が可能！ガスレーザでは必要な定期的なレーザ交換が不要です。 高濃度の噴霧粉粒体でもレーザー光多重散乱の影響を最小に補正して 高精度測定が可能。 また、連続測定における測定間隔は0.02msec～500msecで、音速で空間を 飛翔する粉粒体の特性でも連続的に高精度測定ができます。 【特長】 ■幅広いアプリケーション ■多重散乱補正ソフトウェアを標準装備 ■各アプリケーションに対応した測定モード ■コンパクトな光学台 ■短い測定間隔で高精度な粉粒体解析 ■半導体レーザ搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当カタログでは、さまざまな評価・解析装置をご紹介しております。 粒子径・形状解析「レーザ回折・散乱式」や「動的／静的画像解析式」 ガス吸着評価「比表面積・細孔分布」、「触媒評価」などを掲載。 Microtrac MRBは、粉粒体の物性評価におけるベストパートナーとして、 革新的な技術開発と高品質な製品ラインアップにて信頼性の高い測定結果を 得るための先進技術をお客様にご提供します。 【掲載内容（抜粋）】 ■3つの卓越したコア技術 ■粒子径・形状解析「レーザ回折・散乱式」 ■粒子径・ゼータ電位／流動電位「動的光散乱式」 ■粒子径・形状解析「動的／静的画像解析式」 ■粒子径・形状解析「アプリケーション」 ■粒子径・形状解析「測定方式の比較」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『SYNC』は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の 高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm ■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 　粒子径分布測定 ■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、 　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『SYNC』は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の 高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm ■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 　粒子径分布測定 ■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、 　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

『SYNC』は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の 高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm ■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 　粒子径分布測定 ■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、 　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の 高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm ■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 　粒子径分布測定 ■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、 　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の 高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm ■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 　粒子径分布測定 ■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、 　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の 高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm ■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 　粒子径分布測定 ■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、 　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の 高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm ■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 　粒子径分布測定 ■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、 　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の 高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm ■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 　粒子径分布測定 ■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、 　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の 高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm ■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 　粒子径分布測定 ■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、 　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の 高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm ■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 　粒子径分布測定 ■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、 　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の 高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm　画像解析：5～2000μm ■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 　粒子径分布測定 ■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、 　円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当資料では、微粒化したチタン酸バリウムをレーザ回折・散乱法ならびに 動的光散乱法の2つの手法により粒子径分布測定した結果に基づき、 微粒化材料の好適な粒子径評価手法を提案します。 情報通信機器の小型化、高性能化に伴い、電子材料等の微細化が積極的に 進められています。 代表的な電子粉体材料の一つで、積層セラミックコンデンサに利用されている チタン酸バリウムも、サブミクロンからナノ領域まで微粒化が進められており 粉体材料の研究開発や品質管理において、微粒領域における粒子径の管理が 課題であり、なかでも適切な測定手法の選定が重要です。 【掲載内容】 ■概要 ■実験 ■結果 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

当資料では、微粒化したチタン酸バリウムをレーザ回折・散乱法により 粒子径分布測定した結果をもとに、微粒化材料における好適な粒子径 評価手法を提案します。 情報通信機器の小型化、高性能化に伴い、電子材料等の微細化が積極的に 進められています。積層セラミックコンデンサに利用される代表的な 電子粉体材料であるチタン酸バリウムもそのうちの一つです。 これより、粉体材料の研究開発や品質管理において微粒領域における 粒子径の管理が課題であり、とくに適切な測定手法の選定が重要です。 【掲載内容】 ■はじめに ■実験 ■結果と考察 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。