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貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます！
「FISCHERSCPOE(R) X-RAY XAN(R)215」は、エネルギー分散型蛍光X線分析器です。 貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます。 対象元素はCl(17)からU(92)までで、24元素を同時に分析が行えます。 主な測定対象としては、ジュエリー・貴金属および歯科用合金、イエロー・ホワイトゴールドなどの金性、プラチナおよび銀、ロジウムメッキされた金や銀合金、合金組成および皮膜厚さ測定、多層の皮膜厚さ測定などです。 【特長】 ○優れた精度と長期安定性 →再校正にかかる時間と労力を節約できる ○最新のシリコンPin検出器が高い精度と検出感度を達成する ○フィッシャーのFP法は固体や液体に関わらず、 皮膜の厚さまで理論計算で分析が可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
薄膜や微量元素の分析に最適！貴金属組成分析やメッキ厚さ測定が非破壊で可能
「FISCHERSCPOE(R) X-RAY XAN(R)250/XAN(R)252」は、エネルギー分散型蛍光X線分析器です。 貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます。 特に薄膜や微量元素の分析に適しています。 XAN250とXAN252は測定ステージとハウジング・サイズが違います。 「XAN250」は固定ステージタイプ、「XAN252」は手動XYステージタイプ・大型安全フード付きです。 主な測定対象としては、数nmの薄膜測定（電子機器、半導体関連）、規制物質の分析（おもちゃの中のPbなど）、高精度を要求する分析（ジュエリー、時計、貴金属）、大学や研究機関などです。 【特長】 ○測定仕様ごとに最適な照射エリアとフィルタを自動で設定 ○最新のシリコンドリフトディテクターが高い精度と検出能力を発揮 ○優れた精度と長期安定性 →再校正にかかる時間と労力を節約できる ○フィッシャーのFP法は固体や液体に関わらず、 皮膜の厚さまで理論計算で分析が可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
現場で即分析。軽量・高性能なXRFで、金属も土壌も瞬時に判別。
SciAps X-200は、軽量・コンパクトながら高性能を誇るポータブルXRF分析装置です。最先端のシリコンドリフト検出器（SDD）と最適化されたX線管設計により、非鉄金属から土壌、RoHS対象物質まで、幅広い材料を迅速かつ高精度に分析可能。スクラップ金属の選別、鉱山探査や環境調査、電子機器の規制対応検査など、多様な現場で活躍しています。ホットスワップ対応のバッテリーやWi-Fi/Bluetooth通信機能により、フィールドでの操作性も抜群。基本パラメータ法やコンプトン正規化法など多彩な校正方式に対応し、ユーザー独自の分析ニーズにも柔軟に対応します。スピードと精度、そして携帯性を兼ね備えたX-200は、現場分析の新たなスタンダードです。
