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比重計では分析が解りにくい地金も素早く分析できます
当社では、地金の純度、プラチナを分析する小型で低価格の蛍光X線分析装置 『EDX800』を取り扱っています。 操作方法は簡単。 チャンバー内に、測定したい対象物を置いてPCで測定開始操作をすれば 60秒以内で地金の判定が可能です。 【仕様】 ■型式：EDX800 ■本体寸法：L416ｍｍ×W370ｍｍ×H360mm ■重量：約40Kg ■分析時間：約1分 ■測定元素：Au、Ag、Pt、Pd、Cu ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
検出時間・検出感度に対応可能！元素数に優れたハンドヘルド蛍光X線分析計
蛍光X線分析装置『DELTA Professional DPO-2000』は、検出時間・検出感度に対応可能な元素数に優れたハンドヘルド蛍光X線分析計です。X-act Count（エグザクトカウント）テクノロジーを搭載。多くの環境下で対応可能な堅牢設計により、優れた耐久性を発揮します。 【特長】 ■X線管：4W、最大管電流：200μA、最適化されたビーム設定 ■優れた検出感度と高い測定スループットを両立 ■各種元素の高感度分析に適した大口径SDD ■軽元素の高感度分析に効果のある自動気圧（高度）補正機能内蔵 ■高速起動と高カウントレート測定により検査時間を短縮 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
自動コリメータおよびフィルタースイッチを搭載した据置型蛍光X線分析装置
当社では、内蔵SNEにより、信号処理能力が旧型と比較して最大25倍に 向上した据置型蛍光X線分析装置『EDX2800B』を取り扱っています。 コリメーターとフィルターは、異なるアプリケーションに対応するオートスイッチ。 また、フレンドリーなソフトウェアインターフェースにより操作性の簡便性の 向上に貢献します。 【適用分野】 ■RoHS対象元素の分析 ■鉱物及び合金（銅、ステンレス鋼等）の成分分析 ■金、白金、銀等の貴金属及び各種宝石の含有量試験 ■金属のメッキ膜厚の測定 ■主にRoHS関連産業、貴金属及び宝石加工産業、銀行、試験機関、電気メッキ産業 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
RoHS規制対象有害6物質（As・Br・Cd・Cr・Hg・Pb）の分析に！
当社では、光電子、ミクロ電子工学、半導体、コンピュータ技術を適用して 開発され、小型・軽量かつ据置型と同等の検出下限値機能を有する 携帯型蛍光X線分析装置『EXPLORER 5000 XRF』を取り扱っています。 小型エックス線管・SDD検出器・デジタルマルチチャンネルプロセッサー搭載で 測定時間の短縮並びに標準偏差の向上に貢献します。 【特長】 ■据置型並みの性能 ■小型・軽量なので持ち運びが簡単 ■軽元素も検出 ■安全機能 ■防水・防滴構造 など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
薄膜や微量元素の分析に最適！貴金属組成分析やメッキ厚さ測定が非破壊で可能
「FISCHERSCPOE(R) X-RAY XAN(R)250/XAN(R)252」は、エネルギー分散型蛍光X線分析器です。 貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます。 特に薄膜や微量元素の分析に適しています。 XAN250とXAN252は測定ステージとハウジング・サイズが違います。 「XAN250」は固定ステージタイプ、「XAN252」は手動XYステージタイプ・大型安全フード付きです。 主な測定対象としては、数nmの薄膜測定（電子機器、半導体関連）、規制物質の分析（おもちゃの中のPbなど）、高精度を要求する分析（ジュエリー、時計、貴金属）、大学や研究機関などです。 【特長】 ○測定仕様ごとに最適な照射エリアとフィルタを自動で設定 ○最新のシリコンドリフトディテクターが高い精度と検出能力を発揮 ○優れた精度と長期安定性 →再校正にかかる時間と労力を節約できる ○フィッシャーのFP法は固体や液体に関わらず、 皮膜の厚さまで理論計算で分析が可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
