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ICP-OES専用のCCD検出器！測定値の統計・検定機能によりデータ解析を支援
『Agilent 5800 ICP-OES』は、垂直トーチと独自の高周波技術により 高いマトリクス耐性を実現するICP発光分光分析装置です。 ICP-OES専用のCCD検出器で、迅速な測定によるトータルランニングコスト を低減。検量線から検出下限値を自動算出します。 また、ネブライザーガス圧力を常時モニタリングし、メンテナンスが 必要なタイミングを通知します。 【特長】 ■垂直トーチと独自の高周波技術により高いマトリクス耐性を実現 ■全波長高速スキャン（Intelli Quant 2.0） ・全てのサンプルで測定 ・サンプル毎に、他の元素によるスペクトル干渉情報の表示 ■検量線から検出下限値を自動算出（QC機能） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
原子が励起状態から基底状態に戻るときに生じる原子発光を検出し分析を行います！
ICP発光分光分析では、試料中に含まれる金属元素などを複数同時に 検出することが出来ます。 当資料では、液晶中に含まれる微量な金属元素の分析例をご紹介。 ICP-AES分析の原理・概要や測定事例を掲載しています。 サンプルの状態や分析対象の元素など、お気軽にお問い合わせください。 【掲載内容】 ■ICP-AES分析の原理・概要 ■測定事例︓液晶パネル内金属元素のICP-AES定性分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
波長から元素の種類を(定性)、発光強度から濃度を(定量)求めることができます！
ICPは、高周波誘導結合プラズマ(Inductively Coupled Plasma)の 略称であり、試料中の無機元素を定性・定量する手法です。 分析試料溶液をアルゴンプラズマへ導入することで元素固有の 発光スペクトルを得ることが可能。その波長から元素の種類を(定性)、 発光強度から濃度を(定量)求めることができます。 また分析対象元素や前処理、 共存元素の影響により定量下限値は 変動しますので、お問い合わせください。 【特長】 ■多元素同時分析が可能 ■装置への導入は酸性水溶液のため、固体試料は前処理による溶液化が必要 ■共存マトリクスの多少に応じて測定条件の最適化が可能 ■水素化物発生法によりヒ素(As)、セレン(Se)、 アンチモン(Sb)をppbオーダーで定量可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
