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高い解像力をもつ測定用の顕微鏡！表面粗さ測定、形状測定/比較で利用されています
ミツバ環境ソリューションでは、共焦点（コンフォーカル）顕微鏡を用いた 「共焦点マイクロスコープ測定」を行っております。 レーザーテック製のレーザーマイクロスコープ「OPTELICS HYBRID」は、 凹凸のある試料面に対して、視野内全面にピントの合った高解像画像を 得ることができます。 非破壊、非接触の3次元形状計測が可能。405nmレーザー光線による高倍率・ 高分解能観察で超微細構造も鮮明に可視化します。 【測定範囲】 ■幅測定 ・最小測定単位 0.001μm、測定再現性 3σ＜10nm ■高さ測定 ・スケール分解能 0.4nm、測定再現性 σ＜10nm、測定範囲 7mm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
非接触でXY方向の二次元測定が可能！高精度の公差がある複雑で精密な寸法測定に
当社では、工具顕微鏡を使用し、製品や部品の寸法を計測いたします。 200mm×150mmまでの大きさに対応。 非接触でXY方向の二次元の測定が可能です。 コネクタ製品やカメラ部品など、±0.02mmといった 高精度の公差がある複雑で精密な寸法測定を得意としています。 測定箇所を拡大して肉眼で確認できるため、バリ・ホコリ・形状異常を 認識しながら、測定物の評価が可能であり、図面と製品から判断し、 測定箇所に応じた切断やカットを行い、より良い方法で測定します。 【特長】 ■200mm×150mmまでの大きさに対応 ■非接触でXY方向の二次元の測定が可能 ■高精度の公差がある複雑で精密な寸法測定に適している ■測定箇所を拡大して肉眼で、バリ・ホコリ・形状異常などを確認可能 ■図面と製品から判断し、測定箇所に応じた切断やカットを行い、 より良い方法で測定する ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
研究用から生産現場向けまで、大小様々なシステムのカスタマイズ提案が可能な原子間力顕微鏡（AFM）のご紹介
当社では、ユーザーフレンドリーな操作性に対応し、表面形状の測定を 簡単かつ短時間で行える『原子間力顕微鏡（AFM）』を取り扱っています。 アクティブ防振機構を搭載し、多彩な測定モードに対応した「CoreAFM」や、 専用ツールの使用によりカンチレバーの交換がスムーズに行える コンパクト設計の「NaioAFM」などのモデルをラインアップ。 研究現場向けの小型仕様から、生産現場向けの大型ステージ仕様、 品質管理用の自動化システムといったカスタマイズ対応が可能です。 【ラインアップ（抜粋）】 ◎卓上型原子間力顕微鏡「CoreAFM」 ■アクティブ防振機構・風防を採用 ■32種類の測定オプションを搭載可能 ◎小型原子間力顕微鏡「NaioAFM」 ■コントローラ、XYステージ・風防・防振機構が一体化 ■高分解能トップビュー光学カメラ搭載 ※当社が取り扱う走査型プローブ顕微鏡をまとめたカタログを配布中。 詳しい内容は「PDFダウンロード」よりご覧いただけます。
