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導通不良を起こした接点表面を電子顕微鏡観察することで調査した事例をご紹介！
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 本資料では、導通不良を起こした接点表面を非接触、 非破壊の状態で40～250倍の電子顕微鏡観察を行い、 接点表面の付着物の観察を行った事例を掲載しています。 付着物の蛍光X線分析による元素の定性、顕微赤外分光分析による 化合物の定性により接点付着物の特定を行うことで、特定した付着物から 接点への付着メカニズムが解明でき、導通不良原因を調査できます。 【掲載内容】 ■概要 ■特長 ■分析事例 ・電子顕微鏡観察 ・蛍光X線分析、顕微赤外分光分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
真空蒸着などのコーティング処理を必要としない低真空SEMの観察・評価分析のご紹介！
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 低真空SENでは、試料の前処理として真空蒸着などの コーティング処理(前処理)を必要としません。 絶縁体や半導体、食品などの試料でもコーティング処理なく 低真空SEM観察後は、そのまま他の分析に供することが可能です。 【掲載内容】 ■概要 ■分析事例 ・接着界面の観察・評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ソーラーパネルの断面構成を切削・研磨の前処理のみで解析した事例をご紹介！
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 本資料では、有機無機複合物からなる絶縁体のソーラーパネルの断面構成を 切削・研磨の前処理のみで低真空SEMおよびFT-IRを用いて解析した事例を掲載。 低真空SENでは、試料の前処理として真空蒸着などの コーティング処理(前処理)を必要としません。 絶縁体や半導体、食品などの試料でもコーティング処理なく 低真空SEM観察後は、そのまま他の分析に供することが可能です。 【掲載内容】 ■概要 ■分析事例 ・ソーラーパネル(絶縁体)の解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
