EPMAによる組織観察・化学分析
EPMAを用いたミクロな組織観察や面分析、微小部位の点分析などに対応いたします。
波長分散型X線分光器(WDSまたはWDX)を搭載した電子顕微鏡を用いた観察・分析です。 μmオーダーのミクロな領域の組織観察が可能です。 また、観察領域の元素の分布を解析する面分析や、点分析による精度のよい定量化学分析が可能です。
- 企業:エネコム株式会社
- 価格:10万円 ~ 50万円
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EPMAを用いたミクロな組織観察や面分析、微小部位の点分析などに対応いたします。
波長分散型X線分光器(WDSまたはWDX)を搭載した電子顕微鏡を用いた観察・分析です。 μmオーダーのミクロな領域の組織観察が可能です。 また、観察領域の元素の分布を解析する面分析や、点分析による精度のよい定量化学分析が可能です。
X線回折分析(XRD)を用いた簡易定量法です。内部標準法と比較して格段に迅速かつ安価に対応可能です。
弊社が独自に開発した簡易定量法で、現在試験運用中です。 精密さよりも簡便さを優先したため±数wt%の誤差を含みますが、検量線を必要とせず試料に特殊な処理も必要ないため、内部標準法と比較して格段に迅速かつ安価な対応が可能です。
試料中の特定の鉱物の含有量(wt%)を知りたい場合にお勧めの手法です。
X線回折分析で得られる回折線の強度はその鉱物の含有量に依存することを利用した定量分析法です。 含有量既知の試料から検量線を作成し、内部標準物質を添加することにより質量吸収係数(試料自体がX線を吸収する程度を表す係数)の影響を考慮せず定量することが可能です。 ただし、共生鉱物と回折線が重複したり、検量線を作成するための純粋な標準物質の入手が困難であったりする試料に対しては定量分析はできません。