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材料研究用の最高解像度のサブマイクロ CT システム コンパクトで最も精巧な構造 材料研究における三次元構造の解析
diondo dsubµ は、本装置は、材料の研究・解析過程における材料内部の三次元構造の解析を目的として開発された小型のナノフォーカスCT装置です。 ナノフォーカスの分解能で、三次元の繊維強化材料または有機材料の最も微細な構造を捕捉できます。 ●革新的な検出器システム 3 つの異なる視野と sCMOS カメラを備えた検出器システム 最小値は 0.3 μm/ボクセルでサンプルをスキャンし、最大 5 mm (1.4 μm/ボクセル スキャン) の最大測定ボリュームをキャプチャします。 ● コンパクトな設計 周辺機器を全て一体化してシステムをコンパクトに ●高精度の機械システム リニアシャフト方式とエアフローティング高精度ターンテーブルの採用により高精度を実現
小型および中型部品の分析および測定用に特別に設計された万能型サブマイクロフォーカス工業CT
このシステムは、非破壊検査分析から、VDI/VDE 2630 1.3 規格に準拠した高精度度量衡座標測定技術、製品の生産管理に至るまで、幅広い用途に使用できます。 diondo d2 万能型サブマイクロフォーカス工業 CT システムは、その極めて高い適応性により、科学研究と産業の両方で新たな基準を打ち立てています。 ▪ 高解像度 3D 解析 低密度材料から完全なアセンブリまでの 3D 解析 ▪ オプションのデュアルチューブ構成 最大 300kV のマイクロおよびナノ焦点 X 線管の組み合わせにより、優れた透過性と高精度の解像度を実現 ▪ 多軸花崗岩機械システム 光線焦点と検出器の間の距離を自由に調整して、最適な解像度のイメージングを実現できます。 ▪ さまざまな機能モジュール 自主的な計測運用や現場解析などが実現可能
熱膨張率が低い花崗岩ステージ！2種類の検出器が搭載可能な高出力 X 線源・高解像度検出器でX線検査・3D解析で欠陥品を発見！
diondo d5 は、性能、サイズ、機器の互換性を必要とするお客様向けに特別に設計されています。 高出力 X 線源と高解像度検出器を最大 9 軸の精密機械システムの組み合わせで、柔軟性とパフォーマンスの革新的な飛躍が可能になります。 ▪ さまざまな組み合わせが可能 特定の試験ニーズを満たすために最大 2 つのチューブと 2 つの検出器を装備 ▪ 革新的なソフトウェア パッケージ スパイラルCT、散乱補正、平面CT撮影など、多彩な検査ソリューションに対応。 ▪ 座標測定技術 VDI/VDE 2630-1.3 規格に準拠した再現可能な 3D 測定テクノロジーにより、最高の測定要件を満たします ▪ 花崗岩の機械システム 最大 9 つのモーター駆動軸を装備可能で、最大限の柔軟性を実現 ▪ 現場ローディング機能 限られた試験条件下でパーソナライズされた試験ソリューションを提供する
低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体
5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管： 190-300kV 送信ターゲット X線管： 160～300kV エリアアレイ検出器： 3000 × 3000px、139μm 焦点距離範囲： 400-1200mm、調整可能 最大有効検出範囲： Ø520×H650mm 最大耐荷重：50kg diControl ソフトウェアの機能 ：DR 機能、スパイラル CT、角度制限スキャン、高速 CT、高速再構成 GPU 加速、ビームハードニング補正、アーティファクト補正、バッチ自動検出、自動ジオメトリ補正、日常検出、ステータス検出、測定モジュール VDI/VDE 2630 【お問合せ・お見積り】 メール：info@nd-seiko.co.jp 電話：0538-84-9600
低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体
5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 内部構造 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管： 190-300kV 送信ターゲット X線管： 160～300kV エリアアレイ検出器： 3000 × 3000px、139μm 焦点距離範囲： 400-1200mm、調整可能 最大有効検出範囲： Ø520×H650mm 最大耐荷重：50kg diControl ソフトウェアの機能 ：DR 機能、スパイラル CT、角度制限スキャン、高速 CT、高速再構成 GPU 加速、ビームハードニング補正、アーティファクト補正、バッチ自動検出、自動ジオメトリ補正、日常検出、ステータス検出、測定モジュール VDI/VDE 2630 【お問合せ・お見積り】 メール：info@nd-seiko.co.jp 電話：0538-84-9600
