FT-NIRプロセス分光計『BEAM』※JASIS2024出展
受入検査から工程管理、最終製品検査までのさまざまな段階のモニタリングに活用可能!【JASIS2024出展】
『BEAM』は、FT-NIR分光法の利点を最大限に引き出す単一測定点専用の NIR分光計です。 製造工程を直接かつリアルタイムでモニタリングすることで、 製造のばらつきを改善。 固体や半固体材料の測定に最適化され、パイプライン、ホッパー、 ベルトコンベヤー上に簡単に設置できます。 【特長】 ■さまざまなアプリケーションに対応するFT方式の優位性 ■RockSolidテクノロジーによる高い精度と長期安定性 ■システムの中断を回避するデュアル光源ランプオペレーションモード ■設置が容易な小型・軽量デザイン ■過酷な環境に対応するIP65保護等級 ■将来を見据えた接続性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※9月4日(水)~6日(金)に幕張メッセ国際展示場で開催される 『JASIS2024』2024に出展いたします。 是非ブルカージャパンのブースにお越しください!
- 企業:ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格:応相談