パーティクルカウンタ - 企業ランキング(全14社)
更新日： 集計期間:2025年08月20日〜2025年09月16日
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企業情報を表示
| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| ● 5段階の粒子を同時に測定、表示 10 μm、20 μm、30 μm、50 μm、100 μm以上 ● 30 L/minの試料空気流量、短時間で作業環境を測定 ● 自動流量制御で操作がより簡単に ● 見やすい液晶画面、体積換算も可能 ● サーマルプリンタ内蔵。無塵記録紙も用意（オプション） | 車体塗装工程 粒子による車体の凹凸を防ぐ 精密部品組立工程 液晶後工程 電子デバイス組立工程 等 | ||
| ●測定粒径範囲：0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm各粒子以上 ● JIS B 9921：1997適合 ● 光源に半導体レーザ励起型固体レーザを採し、優れた耐久性を実現 ● RS-232Cによるインタフェースを標準装備、コンピュータによる自動測定が可能 ● 測定結果をプリンタ（オプション）に印字可能 | クリーンルームの粒子測定 精密部品の製造工程 ハードディスク製造工程 等 | ||
| ●5段階の粒子を同時に測定 0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm以上 ●定格流量は100 mL/min・最大300 mL/min ●イナートガス、腐食性ガス、反応性ガスなどの直接測定が可能 ●リークタイト、アウトガスフリー、デットスペースフリーを実現 ●SiH4、SiHCl3、HBr、NH3、PH3、HClなどに対応 | 半導体工場 ガス供給ライン ガス製造工場 | ||
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リオン株式会社
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- 代表製品
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パーティクルカウンター 気中 粗大粒子用 KC-20A
- 概要
- ● 5段階の粒子を同時に測定、表示 10 μm、20 μm、30 μm、50 μm、100 μm以上 ● 30 L/minの試料空気流量、短時間で作業環境を測定 ● 自動流量制御で操作がより簡単に ● 見やすい液晶画面、体積換算も可能 ● サーマルプリンタ内蔵。無塵記録紙も用意（オプション）
- 用途/実績例
- 車体塗装工程 粒子による車体の凹凸を防ぐ 精密部品組立工程 液晶後工程 電子デバイス組立工程 等
パーティクルカウンター 気中 0.1μm KC-22A
- 概要
- ●測定粒径範囲：0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm各粒子以上 ● JIS B 9921：1997適合 ● 光源に半導体レーザ励起型固体レーザを採し、優れた耐久性を実現 ● RS-232Cによるインタフェースを標準装備、コンピュータによる自動測定が可能 ● 測定結果をプリンタ（オプション）に印字可能
- 用途/実績例
- クリーンルームの粒子測定 精密部品の製造工程 ハードディスク製造工程 等
パーティクルカウンター 半導体特殊材料ガス用 KS-93
- 概要
- ●5段階の粒子を同時に測定 0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm以上 ●定格流量は100 mL/min・最大300 mL/min ●イナートガス、腐食性ガス、反応性ガスなどの直接測定が可能 ●リークタイト、アウトガスフリー、デットスペースフリーを実現 ●SiH4、SiHCl3、HBr、NH3、PH3、HClなどに対応
- 用途/実績例
- 半導体工場 ガス供給ライン ガス製造工場
-
リオン株式会社
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