パーティクルカウンタ - 企業ランキング(全16社)
更新日： 集計期間:2025年10月08日〜2025年11月04日
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企業情報を表示
| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| ●測定粒径範囲：0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm各粒子以上 ● JIS B 9921：1997適合 ● 光源に半導体レーザ励起型固体レーザを採し、優れた耐久性を実現 ● RS-232Cによるインタフェースを標準装備、コンピュータによる自... | クリーンルームの粒子測定 精密部品の製造工程 ハードディスク製造工程 等 | ||
| ● 5段階の粒子を同時に測定、表示 0.3 μm、0.5 μm、1 μm、2 μm、5 μm以上 ● JIS B 9921適合 ● 自動流量制御で操作がより簡単に ● 本体に内蔵されたサーマルプリンタで測定結果（測定値、個数濃度、平均値）を印字 ● シリアルインタフェース... | ハードディスク出荷検査 部品の発塵検査 クリーンルームの粒子数測定 | ||
| ■ 最小可測粒径0.2μm、定格流量10 mＬ/min ■ 粒径区分：0.2μm～2.0μm以上の範囲で最大10段階 ■ 液漏れセンサ内蔵。本体内で液漏れ発生時に警報を出力 ■ KS-42BFはサファイアセルを使用(フッ化水素酸対応) | 半導体Wet洗浄ライン 液晶Wet洗浄ライン 精密部品付着粒子の検査ライン 薬液メーカー出荷検査ライン 等 | ||
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リオン株式会社
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- 代表製品
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パーティクルカウンター 気中 0.1μm KC-22A
- 概要
- ●測定粒径範囲：0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm各粒子以上 ● JIS B 9921：1997適合 ● 光源に半導体レーザ励起型固体レーザを採し、優れた耐久性を実現 ● RS-232Cによるインタフェースを標準装備、コンピュータによる自...
- 用途/実績例
- クリーンルームの粒子測定 精密部品の製造工程 ハードディスク製造工程 等
パーティクルカウンター 気中 0.3μm KC-01E
- 概要
- ● 5段階の粒子を同時に測定、表示 0.3 μm、0.5 μm、1 μm、2 μm、5 μm以上 ● JIS B 9921適合 ● 自動流量制御で操作がより簡単に ● 本体に内蔵されたサーマルプリンタで測定結果（測定値、個数濃度、平均値）を印字 ● シリアルインタフェース...
- 用途/実績例
- ハードディスク出荷検査 部品の発塵検査 クリーンルームの粒子数測定
パーティクルカウンター 液中 0.2μm KS-42B/BF
- 概要
- ■ 最小可測粒径0.2μm、定格流量10 mＬ/min ■ 粒径区分：0.2μm～2.0μm以上の範囲で最大10段階 ■ 液漏れセンサ内蔵。本体内で液漏れ発生時に警報を出力 ■ KS-42BFはサファイアセルを使用(フッ化水素酸対応)
- 用途/実績例
- 半導体Wet洗浄ライン 液晶Wet洗浄ライン 精密部品付着粒子の検査ライン 薬液メーカー出荷検査ライン 等
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リオン株式会社
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