パーティクルカウンタ - 企業ランキング(全15社)
更新日： 集計期間:2025年12月31日〜2026年01月27日
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企業情報を表示
| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| ●測定粒径範囲：0.08 μm、0.1 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm各粒子以上 ● 小型・軽量、高出力で長寿命、安定性の良い光学系を採用 ● 光源に半導体レーザ励起型固体レーザを採し、優れた耐久性を実現 ● RS-232Cによるインタフェースを標準装備、コ... | 部品からの発塵検査 ハードディスク駆動時の発塵検査 モター駆動時の発塵検査 | ||
| ●測定粒径範囲：0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm各粒子以上 ● JIS B 9921：1997適合 ● 光源に半導体レーザ励起型固体レーザを採し、優れた耐久性を実現 ● RS-232Cによるインタフェースを標準装備、コンピュータによる自... | クリーンルームの粒子測定 精密部品の製造工程 ハードディスク製造工程 等 | ||
| ■測定粒径範囲：0.1 μｍ、0.15 μｍ、0.2 μｍ、0.3 μｍ、0.5 μm以上 ■ 半導体レーザ励起固体レーザ採用で、小型・軽量 ■ ISO 21501-4（JIS B 9921）適合 ■ ISO 14644-1に準じた空気清浄度を、簡単に評価 ■ リオン多点... | クリーンルームの粒子測定 フィルターのリーク・除去率試験 等 | ||
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リオン株式会社
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- 代表製品
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パーティクルカウンター 気中 0.08μm KC-22B
- 概要
- ●測定粒径範囲：0.08 μm、0.1 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm各粒子以上 ● 小型・軽量、高出力で長寿命、安定性の良い光学系を採用 ● 光源に半導体レーザ励起型固体レーザを採し、優れた耐久性を実現 ● RS-232Cによるインタフェースを標準装備、コ...
- 用途/実績例
- 部品からの発塵検査 ハードディスク駆動時の発塵検査 モター駆動時の発塵検査
パーティクルカウンター 気中 0.1μm KC-22A
- 概要
- ●測定粒径範囲：0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm各粒子以上 ● JIS B 9921：1997適合 ● 光源に半導体レーザ励起型固体レーザを採し、優れた耐久性を実現 ● RS-232Cによるインタフェースを標準装備、コンピュータによる自...
- 用途/実績例
- クリーンルームの粒子測定 精密部品の製造工程 ハードディスク製造工程 等
パーティクルカウンター 気中 0.1μm KC-24
- 概要
- ■測定粒径範囲：0.1 μｍ、0.15 μｍ、0.2 μｍ、0.3 μｍ、0.5 μm以上 ■ 半導体レーザ励起固体レーザ採用で、小型・軽量 ■ ISO 21501-4（JIS B 9921）適合 ■ ISO 14644-1に準じた空気清浄度を、簡単に評価 ■ リオン多点...
- 用途/実績例
- クリーンルームの粒子測定 フィルターのリーク・除去率試験 等
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リオン株式会社
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