パーティクルカウンタ - 企業ランキング(全15社)
更新日: 集計期間:2026年02月18日〜2026年03月17日
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企業情報を表示
| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| ● 小型・軽量のため、プロセス装置内の発塵モニタに ● 粒径区分(2段階)0.3 μm、0.5 μm以上 ● 筐体にステンレスを採用し、耐薬品性を向上 ● 多点モニタリングシステムに対応( RPモニタ EVO K0505 Ver. 3、多点監視ソフトウェア KF-03) | 電子デバイス製造工場 ディスプレイ製造工場 医薬品製造工場 | ||
| ■測定粒径範囲:0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm以上 ■ 半導体レーザ励起固体レーザ採用で、小型・軽量 ■ ISO 21501-4(JIS B 9921)適合 ■ ISO 14644-1に準じた空気清浄度を、簡単に評価 ■ リオン多点... | クリーンルームの粒子測定 フィルターのリーク・除去率試験 等 | ||
| ●測定粒径範囲:0.1 μm以上、0.15 μm以上、0.2 μm以上、0.3 μm以上、0.5 μm以上 ● クリーンルームの常時・同時多点モニタリングが可能 ● モニタリングポイントの設置・変更、レイアウト変更に柔軟に対応 ● ポンプ内蔵型。各測定点に直接設置が可能 ... | クリーンルーム内の粒子測定 | ||
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- 代表製品
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気中パーティクルカウンター 小型 多点監視用 KA-02
- 概要
- ● 小型・軽量のため、プロセス装置内の発塵モニタに ● 粒径区分(2段階)0.3 μm、0.5 μm以上 ● 筐体にステンレスを採用し、耐薬品性を向上 ● 多点モニタリングシステムに対応( RPモニタ EVO K0505 Ver. 3、多点監視ソフトウェア KF-03)
- 用途/実績例
- 電子デバイス製造工場 ディスプレイ製造工場 医薬品製造工場
パーティクルカウンター 気中 0.1μm KC-24
- 概要
- ■測定粒径範囲:0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm以上 ■ 半導体レーザ励起固体レーザ採用で、小型・軽量 ■ ISO 21501-4(JIS B 9921)適合 ■ ISO 14644-1に準じた空気清浄度を、簡単に評価 ■ リオン多点...
- 用途/実績例
- クリーンルームの粒子測定 フィルターのリーク・除去率試験 等
パーティクルカウンター 気中 0.1μm KA-82
- 概要
- ●測定粒径範囲:0.1 μm以上、0.15 μm以上、0.2 μm以上、0.3 μm以上、0.5 μm以上 ● クリーンルームの常時・同時多点モニタリングが可能 ● モニタリングポイントの設置・変更、レイアウト変更に柔軟に対応 ● ポンプ内蔵型。各測定点に直接設置が可能 ...
- 用途/実績例
- クリーンルーム内の粒子測定
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