中・近赤外分光計による製造工程のモニタリングセミナーのご案内
【無料開催！】ガス分析用FT-IR製品と新製品BEAMを含むFT-NIR製品および代表的なアプリケーションをわかりやすくご紹介！
本ウェビナーでは赤外分光計および近赤外分光計を活用した プラント規模の反応追跡や工程管理をテーマとし、 前半では、測定時間やコスト面で課題のあるガスクロの代替手段となる ガス分析用FT-IR製品およびアプリケーション例を 後半では、新製品BEAMを含むFT-NIR製品および 代表的なアプリケーション例をわかりやすく紹介させていただきます。 食品・化学・環境・製薬分野での分析法の研究・生産技術・品質管理に 携わっている方は特におすすめです。 この機会にぜひ多くの皆様にご視聴頂けますと幸いです。 【開催のご案内】 ■開催日：2024年6月18日（火）14:00～15:00 ■参加費：無料 ■プログラム ・14:00-14:30 ガス分析用FT-IRの アプリケーションおよびプロセスモニタリングへの利用 ・14:30-15:00 FT-NIRによる製造工程のモニタリングおよび新製品BEAMのご紹介 ※ご参加には事前登録が必要となります。 ※下記の「参加登録ページ」より申込ください。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格：応相談
